[发明专利]一种针对复制粘贴篡改的数码照片伪造检测方法有效
申请号: | 201210029764.4 | 申请日: | 2012-02-10 |
公开(公告)号: | CN102609948A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 张华熊;胡洁;黄海;薛福冰 | 申请(专利权)人: | 浙江理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310018 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 针对 复制 粘贴 篡改 数码照片 伪造 检测 方法 | ||
1.一种针对复制粘贴篡改的数码照片伪造检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)把彩色数码照片从RGB转换到HSV三基色编码空间;
(2)把HSV三基色编码的彩色数码照片分成H、S、V三个基色平面分量;
(3)采用SIFT算法对H、S、V三个基色平面分量分别进行SIFT关键点提取,每个SIFT关键点采用一个128维的特征向量T表示如下:T={t1,t2...t128};
(4)对于步骤(3)中获取的每个SIFT关键点,分别计算该SIFT关键点的128维特征向量与同一基色平面中所有其他SIFT关键点的128维特征向量的欧式距离L,从而得到欧式距离L的集合S:S={L1,L2...Li...},其中,集合S中元素个数=同一基色平面中所有SIFT关键点的个数-1,Li为该SIFT关键点的128维特征向量与同一基色平面中另一个SIFT关键点的128维特征向量之间的欧式距离,其计算公式如下:
其中,T1,T2分别表示两个SIFT关键点的128维特征向量,T1={x1,x2...x128},T2={y1,y2...y128};
(5)对集合S计算得到该集合中所有元素的平均值E和方差D;
(6)如果该SIFT关键点的128维特征向量与同一基色平面中另一个关键点的128维特征向量之间的欧式距离Li满足:Li<E-H×D,则认为这两个SIFT关键点构成特征匹配点对,其中,H为门限值,其取值满足:E-H×D>0;
(7)从步骤(6)获取的特征匹配点对中选择稳定特征匹配点对,所述稳定特征匹配点对在H、S、V三个基色平面分量的至少两个基色平面分量中均为特征匹配点对;
(8)将步骤(7)获取的稳定特征匹配点对用点与点之间连线的形式在彩色数码照片中标记出来,如果所标记的线段两端明显集中于两个区域,并且两个区域均超过8×8点阵大小,则判决该数码照片是伪造的。
2.如权利要求1所述的针对复制粘贴篡改的数码照片伪造检测方法,其特征在于,H的取值为3-5。
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