[发明专利]金属氧化物半导体图像传感器有效

专利信息
申请号: 201110457475.X 申请日: 2011-12-30
公开(公告)号: CN102523393A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 孙涛;汪辉;陈杰;方娜;田犁 申请(专利权)人: 上海中科高等研究院
主分类号: H04N5/374 分类号: H04N5/374;H04N5/3745;H04N5/378
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人: 成春荣;竺云
地址: 201210 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 金属 氧化物 半导体 图像传感器
【权利要求书】:

1.一种金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,包括:感光器件、第一金属氧化物半导体MOS管、第二MOS管、第三MOS管和积分电路;

感光器件的一端接地,另一端与第二MOS管的栅极连接,用于将光信号转换成电信号;

第一MOS管的栅极与第一控制信号连接,源漏极中的一极与第二MOS管的栅极连接,另一极与积分电路的输入端连接;

第二MOS管源漏极中的一极与偏置电压连接,另一极与积分电路的输入端连接;

第三MOS管的栅极与第二控制信号连接,源漏极中的一极与电源连接,另一极与第二MOS管的栅极连接;

积分电路用于将输入的电荷或者电流转换为电压信号输出。

2.根据权利要求1所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,所述感光器件是感光二极管,所述传感器还包括第四MOS管;

第四MOS管的栅极与第三控制信号连接,源漏极中的一极与感光器件的非接地端连接,另一极与第二MOS管的栅极连接,第四MOS管与第二MOS管栅极相连的电极和半导体衬底之间构成一PN结电容,即第一电容,第四MOS管用于将感光器件上的光生电荷转移至第一电容,并实现相关双采样。

3.根据权利要求2所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,所述相关双采样通过以下方式实现:

先后两次采样,一次是在复位之后立刻采样,一次是在积分过程结束时采样,将两次采样结果相减,从而降低噪声。

4.根据权利要求2所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,所述第一电容是PN结电容并联一个独立的电容。

5.根据权利要求2所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,所述积分电路包括运算放大器和第二电容;

运算放大器的反相输入端作为所述积分电路的输入端,同相输入端接地,输出端作为所述积分电路的输出端;

第二电容的一端与运算放大器的反相输入端连接,另一端与运算放大器的输出端连接。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,感光器件、第三MOS管和第四MOS管直接做在P型衬底上,第三MOS管的源极和第四MOS管的漏极共用一个N型掺杂区,利用该N型掺杂区和P型衬底组成的PN结的结电容作为所述第一电容;

在P型衬底上还有一个N阱,第一和第二MOS管均做在N阱中,第一MOS管的漏极和第二MOS管的漏极共用一个P型掺杂区。

7.根据权利要求6所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,在每个像素的四周有隔离槽,用于实现相邻像素间的电学隔离。

8.根据权利要求7所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,复位时,第二控制信号加高电平,第一、第三控制信号和偏置电压加低电平,将第一电容上的电荷清除,复位完成。

9.根据权利要求8所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,如果检测到环境光强超过预定门限,则使用无源式像素传感器读出方式,第一和第三控制信号加高电平,第二控制信号和偏置电压加低电平,第一电容上的电荷在第二电容上积分得到电压,再将电压读出。

10.根据权利要求9所述的金属氧化物半导体图像传感器,其特征在于,如果检测到环境光强低于预定门限,则使用有源式像素传感器读出方式,第三控制信号加高电平,偏置电压加高电平,第一和第二控制信号加低电平,第一电容上的电压直接加在第二MOS管的栅极,电流在第二电容上积分得到电压,再将电压读出。

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