[发明专利]一种键合装置有效
申请号: | 201110378944.9 | 申请日: | 2011-11-24 |
公开(公告)号: | CN103137508A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 万里兮;郭学平;宋崇申 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 装置 | ||
1.一种键合装置,用于对紧密连接的第一待键合物和第二待键合物进行键合处理,其特征在于,包括:压力罩和贴合于所述压力罩开口处的弹性压力膜,
所述压力罩内充有气体或液体,通过所述弹性压力膜对第一待键合物施加压力,以使所述第一待键合物与第二待键合物紧密接触,达到键合目的。
2.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,所述弹性压力膜由高弹性聚合物材料构成。
3.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,所述液体为液压油。
4.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,所述气体为空气或氦气。
5.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,所述第一待键合物为电子芯片或晶圆,所述第二待键合物为电子芯片或晶圆。
6.根据权利要求5所述的键合装置,其特征在于,还包括:芯片保护板,设置于两个电子芯片之间,用于支撑两个电子芯片间所述弹性压力膜。
7.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,所述压力罩和所述弹性压力膜通过密封胶连接并形成一密封结构。
8.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,所述压力罩与一管道相连接,用于进行气体或液体的填充。
9.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,所述压力罩的开口处为软性材料。
10.根据权利要求1所述的键合装置,其特征在于,还包括一中间设置有通孔的垫片,所述第一待键合物放置与该通孔内,所述压力罩与所述垫片紧密贴合。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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