[发明专利]一种显示装置、薄膜晶体管、阵列基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110366515.X 申请日: 2011-11-17
公开(公告)号: CN102629585A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 宁策;张学辉;杨静 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12;H01L29/786;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 黄灿;赵爱军
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 显示装置 薄膜晶体管 阵列 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种显示装置、薄膜晶体管、阵列基板及其制造方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点,在当前的平板显示器市场中占据了主导地位。由于非晶硅(a-Si)易于在低温下大面积制备,技术成熟,成为在TFT-LCD中最广泛使用的有源层材料。但非晶硅材料带隙只有1.7V,对可见光不透明,并且在可见光范围内具有光敏性,需要增加黑矩阵来阻挡光线,这增加了TFT-LCD的工艺复杂性,提高了成本,降低了可靠性和开口率。

另外,随着液晶显示器尺寸的不断增大,驱动电路的频率在不断提高,由于非晶硅薄膜晶体管的迁移率一般在0.5cm2/VS左右,而液晶显示器尺寸超过80in时,驱动频率超过120Hz,需要1cm2/VS以上的迁移率,现有的非晶硅薄膜晶体管迁移率很难满足需求。

氧化物半导体薄膜晶体管以其诸多优势受到研究人员的青睐,最近几年发展迅速。它迁移率高,均一性好,透明,可以更好地满足大尺寸液晶显示器和OLED的需求。但现有氧化物半导体薄膜晶体管,利用底栅型至少需要四次构图工艺完成,并且需要阻挡层(ESL)及保护层(PVX)多层保护才能保证薄膜晶体性能的稳定,其工艺复杂,制造成本高。

发明内容

本发明的目的是提供一种显示装置、薄膜晶体管、阵列基板及其制造方法,采用三次构图工艺实现阵列基板的制造,从而缩短生产时间,提高生产效率,降低生产成本。

为了实现上述目的,本发明提供一种阵列基板的制造方法,包括:

步骤A、形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形;

步骤B、形成有源层和栅绝缘层,以及用于数据线与外部电路连接的过孔;

步骤C、形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,或者,形成栅电极、栅线和公共电极的图形。

上述的制造方法,其中:

所述步骤A包括:在基板上形成第一层透明导电薄膜,通过构图工艺形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形;

所述步骤B包括:形成有源层和栅绝缘层,通过构图工艺形成用于数据线与外部电路连接的过孔;

所述步骤C包括:形成第二层透明导电薄膜,通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,或者,通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极的图形。

上述的制造方法,其中,所述通过构图工艺形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形,包括:

在第一层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;

采用灰色调或半色调掩模板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶未保留区域、光刻胶部分保留区域和光刻胶保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的第一层透明导电薄膜,形成源电极、漏电极和数据线的图形;

通过灰化工艺去除光刻胶部分保留区域的光刻胶,保留光刻胶保留区域的光刻胶;

对光刻胶部分保留区域的第一层透明导电薄膜进行刻蚀,使得该部分的第一层透明导电薄膜变薄,形成像素电极的图形;

剥离剩余的光刻胶。

上述的制造方法,其中,所述通过构图工艺形成用于数据线与外部电路连接的过孔,包括:

在栅绝缘层上形成一层光刻胶;

采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的栅绝缘层和有源层,形成过孔的图形;

剥离剩余的光刻胶。

上述的制造方法,其中,所述通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,包括:

在第二层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;

采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的第二层透明导电薄膜,形成栅电极、栅线和公共电极线的图形;

剥离剩余的光刻胶。

上述的制造方法,其中,所述通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极的图形,包括:

在第二层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;

采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的第二层透明导电薄膜,形成栅电极、栅线和公共电极的图形;

剥离剩余的光刻胶。

上述的制造方法,其中,所述公共电极为狭缝状。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110366515.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top