[发明专利]一种显示装置、薄膜晶体管、阵列基板及其制造方法有效
申请号: | 201110366515.X | 申请日: | 2011-11-17 |
公开(公告)号: | CN102629585A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 宁策;张学辉;杨静 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;H01L29/786;G02F1/1362;G02F1/1368 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 黄灿;赵爱军 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示装置 薄膜晶体管 阵列 及其 制造 方法 | ||
1.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:
步骤A、形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形;
步骤B、形成有源层和栅绝缘层,以及用于数据线与外部电路连接的过孔;
步骤C、形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,或者,形成栅电极、栅线和公共电极的图形。
2.如权利要求1所述的制造方法,其特征在于:
所述步骤A包括:在基板上形成第一层透明导电薄膜,通过构图工艺形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形;
所述步骤B包括:形成有源层和栅绝缘层,通过构图工艺形成用于数据线与外部电路连接的过孔;
所述步骤C包括:形成第二层透明导电薄膜,通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,或者,通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极的图形。
3.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形,包括:
在第一层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;
采用灰色调或半色调掩模板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶未保留区域、光刻胶部分保留区域和光刻胶保留区域;
进行显影处理;
刻蚀掉光刻胶未保留区域的第一层透明导电薄膜,形成源电极、漏电极和数据线的图形;
通过灰化工艺去除光刻胶部分保留区域的光刻胶,保留光刻胶保留区域的光刻胶;
对光刻胶部分保留区域的第一层透明导电薄膜进行刻蚀,使得该部分的第一层透明导电薄膜变薄,形成像素电极的图形;
剥离剩余的光刻胶。
4.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成用于数据线与外部电路连接的过孔,包括:
在栅绝缘层上形成一层光刻胶;
采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;
进行显影处理;
刻蚀掉光刻胶未保留区域的栅绝缘层和有源层,形成过孔的图形;
剥离剩余的光刻胶。
5.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,包括:
在第二层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;
采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;
进行显影处理;
刻蚀掉光刻胶未保留区域的第二层透明导电薄膜,形成栅电极、栅线和公共电极线的图形;
剥离剩余的光刻胶。
6.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极的图形,包括:
在第二层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;
采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;
进行显影处理;
刻蚀掉光刻胶未保留区域的第二层透明导电薄膜,形成栅电极、栅线和公共电极的图形;
剥离剩余的光刻胶。
7.如权利要求1所述的制造方法,其特征在于:
所述公共电极为狭缝状。
8.如权利要求1至7中任一项所述的制造方法,其特征在于:
所述有源层的材料为氧化物。
9.一种薄膜晶体管,其特征在于,包括:
透明导电薄膜,形成在基板上,作为源电极与漏电极,所述源电极和所述漏电极之间形成有沟道区;
氧化物作为有源层,形成在源电极、漏电极和沟道区上;
依次形成在有源层上的栅绝缘层和栅电极,所述栅电极的材料为透明导电薄膜。
10.一种阵列基板,其特征在于,包括:
形成在基板上的源电极、漏电极、数据线和像素电极,所述源电极和所述漏电极之间形成有沟道区,所述漏电极和所述像素电极电性连接,所述数据线通过过孔与外部电路连接,所述像素电极的形状覆盖整个像素区;
形成在源电极、漏电极、数据线和像素电极上的有源层;
形成在有源层上的栅绝缘层;
形成在栅绝缘层上的栅电极、栅线和公共电极线,或者,形成在栅绝缘层上的栅电极、栅线和公共电极,所述公共电极为狭缝状。
11.如权利要求10所述的阵列基板,其特征在于:
所述有源层的材料为氧化物。
12.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求10或11所述的阵列基板。
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