[发明专利]一种显示装置、薄膜晶体管、阵列基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110366515.X 申请日: 2011-11-17
公开(公告)号: CN102629585A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 宁策;张学辉;杨静 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12;H01L29/786;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 黄灿;赵爱军
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示装置 薄膜晶体管 阵列 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:

步骤A、形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形;

步骤B、形成有源层和栅绝缘层,以及用于数据线与外部电路连接的过孔;

步骤C、形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,或者,形成栅电极、栅线和公共电极的图形。

2.如权利要求1所述的制造方法,其特征在于:

所述步骤A包括:在基板上形成第一层透明导电薄膜,通过构图工艺形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形;

所述步骤B包括:形成有源层和栅绝缘层,通过构图工艺形成用于数据线与外部电路连接的过孔;

所述步骤C包括:形成第二层透明导电薄膜,通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,或者,通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极的图形。

3.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成源电极、漏电极、数据线和像素电极的图形,包括:

在第一层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;

采用灰色调或半色调掩模板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶未保留区域、光刻胶部分保留区域和光刻胶保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的第一层透明导电薄膜,形成源电极、漏电极和数据线的图形;

通过灰化工艺去除光刻胶部分保留区域的光刻胶,保留光刻胶保留区域的光刻胶;

对光刻胶部分保留区域的第一层透明导电薄膜进行刻蚀,使得该部分的第一层透明导电薄膜变薄,形成像素电极的图形;

剥离剩余的光刻胶。

4.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成用于数据线与外部电路连接的过孔,包括:

在栅绝缘层上形成一层光刻胶;

采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的栅绝缘层和有源层,形成过孔的图形;

剥离剩余的光刻胶。

5.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极线的图形,包括:

在第二层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;

采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的第二层透明导电薄膜,形成栅电极、栅线和公共电极线的图形;

剥离剩余的光刻胶。

6.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,所述通过构图工艺形成栅电极、栅线和公共电极的图形,包括:

在第二层透明导电薄膜上形成一层光刻胶;

采用掩膜板对光刻胶进行曝光,使光刻胶形成光刻胶保留区域和光刻胶未保留区域;

进行显影处理;

刻蚀掉光刻胶未保留区域的第二层透明导电薄膜,形成栅电极、栅线和公共电极的图形;

剥离剩余的光刻胶。

7.如权利要求1所述的制造方法,其特征在于:

所述公共电极为狭缝状。

8.如权利要求1至7中任一项所述的制造方法,其特征在于:

所述有源层的材料为氧化物。

9.一种薄膜晶体管,其特征在于,包括:

透明导电薄膜,形成在基板上,作为源电极与漏电极,所述源电极和所述漏电极之间形成有沟道区;

氧化物作为有源层,形成在源电极、漏电极和沟道区上;

依次形成在有源层上的栅绝缘层和栅电极,所述栅电极的材料为透明导电薄膜。

10.一种阵列基板,其特征在于,包括:

形成在基板上的源电极、漏电极、数据线和像素电极,所述源电极和所述漏电极之间形成有沟道区,所述漏电极和所述像素电极电性连接,所述数据线通过过孔与外部电路连接,所述像素电极的形状覆盖整个像素区;

形成在源电极、漏电极、数据线和像素电极上的有源层;

形成在有源层上的栅绝缘层;

形成在栅绝缘层上的栅电极、栅线和公共电极线,或者,形成在栅绝缘层上的栅电极、栅线和公共电极,所述公共电极为狭缝状。

11.如权利要求10所述的阵列基板,其特征在于:

所述有源层的材料为氧化物。

12.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求10或11所述的阵列基板。

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