[发明专利]利用共振频移检查电容触摸屏面板的电气特性的装置

说明书

技术领域

本发明涉及检查电容触摸屏面板(下称“CTSP”)的电气特性的装置，尤其涉及将LC平行共振电路连接到CTSP并利用共振频移来检查CTSP的电气特性的装置。

背景技术

通常，附着于手机或一体机的显示屏被分类为电阻触摸屏面板和电容触摸屏面板，响应手指的触摸而能够进行各种按钮的选择或者信息的输入。在这些触摸屏面板当中，电容触摸屏面板(CTSP)包括：布置在面板底部的下底膜；传感器电极膜，其布置在下底膜上，并且被构造为使得在其上形成用作触摸传感器的透明ITO电极图案；电介质膜，其布置在传感器电极膜上并且使用粘合剂附着到ITO电极；以及布置在面板的顶部的保护膜。尽管ITO电极的图案的构造，即触摸传感器电极可以根据其制造或者性能或者驱动专用控制器芯片的方式而改变，但是其基本的整体结构与上述相同。特别，保持ITO传感器电极之间的电容的方法对于所有制造商来说是共同的。

一般地，电容触摸屏面板(CTSP)被构造为具有透明ITO图案的水平电极和垂直电极并且在水平电极和垂直电极之间布置有电介质膜，并且上述组件彼此重叠以形成薄的形状。即，从电路的观点，认为电容触摸屏面板(CTSP)被构造为使得ITO电极的电容器(图2的C_p)和电阻器(图2的R_p)彼此串联连接。

如果ITO电极的纵向电阻由于其非常低的表面电阻而低于1KΩ，则CTSP的电气特性将仅受到ITO电极的电容的影响，而不受ITO电极的电阻的影响。然而，一般而言，用于智能手机等的CTSP的ITO电极的表面电阻为200～500Ω/sq左右，而纵向电阻为数十kΩ。因此，CTSP的电气特性受到电阻器R_p和电容器C_p之间的串联连接的影响，并且因此当检查CTSP的特性和功能时，非常重要的是，测量这些电气特性值。但是，实际上，因ITO电极设置于保护膜下而被隐藏，因此，难以分离并且测量ITO电极的电阻和电容。

发明内容

因此，本发明被设计用于解决上述问题，并且本发明的目的在于提供一种使用共振频移检查CTSP的电气特性的装置，其中同时地测量根据共振频率的变化的CTSP的ITO电极的电阻和电容。

为了达到上述目的，本发明的方面提供了一种使用共振频移检查电容触摸屏面板的电气特性的装置，包括：电源单元，向电路供应电压或电流；CTSP单元，把CTSP的ITO电极的电阻器R_p和CTSP的ITO电极间的电容器C_p彼此串联连接；共振单元，被构造为包括与电源单元连接的LC共振电路并产生电气共振；共振频率改变单元，连接到共振单元并被构造为改变共振单元的共振频率；操作单元，布置在CTSP单元和共振频率改变单元之间以连接CTSP单元和共振频率改变单元，其中在CTSP单元连接到共振单元的情况下，通过操作所述操作单元同时测量响应于共振频率的改变的CTSP单元的电阻和电容。

这里，通过改变与CTSP的电阻器R_p串联连接的可任意改变的电阻器r的电阻可以引起共振频率的改变。

此外，可以接通共振频率改变单元的开关并且因此将额外的电容器并行地连接到共振单元，从而改变共振频率，由此来测量CTSP单元的电容。

这里，可以在CTSP单元的电阻固定的情况下测量响应于共振频率的改变的CTSP单元的电容。

附图说明

结合附图，根据以下详细的描述，本发明的以上和其他目的、特征和优点将更加清楚，其中：

图1是根据本发明的实施例的电路框图；

图2是根据本发明的实施例的LC共振电路连接到CTSP的电路图；及

图3是示出图2的电路图中响应于电阻器r的电阻的变化的共振频率的变化的图。

具体实施方式

结合附图根据以下的详细描述，本发明的以上和其他目的、特征及优点将更加容易理解。下面，将会详细参考附图描述根据本发明的实施例的使用共振频移检查CTSP的电气特性的装置。在本说明书中，除特别标明之外，附图中的相同的附图标记表示相同的元件。