[实用新型]一种高阻抗测量仪器自动测量、校准装置无效

专利信息
申请号: 201020162615.1 申请日: 2010-04-19
公开(公告)号: CN201654130U 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 徐大刚;武文顺;张蕾;陈方汀;胡国星;拓锐;王曙光 申请(专利权)人: 中国兵器工业集团第五三研究所
主分类号: G01R27/00 分类号: G01R27/00;G01R35/00
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 苗峻
地址: 250031 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 阻抗 测量 仪器 自动 校准 装置
【权利要求书】:

1.一种高阻抗测量仪器自动测量、校准装置,连接到被检高阻抗测量仪器,其特征在于:包括一提供阻抗信号的模拟高阻发生器,一输出标准信号并控制模拟高阻发生器的中央控制器,一比较标准信号和被检信号的比较器,其中:

模拟高阻发生器的输出端连接到被检高阻抗测量仪器的输入端,而被检高阻抗测量仪器的输出端则连接到比较器第一输入端,中央控制器一输出端连接到比较器第二输入端,比较器输出端连接有显示装置。

2.根据权利要求1所述的高阻抗测量仪器自动测量、校准装置,其特征在于:所述中央处理器为计算机。

3.根据权利要求1或2所述的高阻抗测量仪器自动测量、校准装置,其特征在于:还包括设置在被检高阻抗测量仪器的显示部位上方的视频采集装置。

4.根据权利要求3所述的高阻抗测量仪器自动测量、校准装置,其特征在于:所述模拟高阻发生器的阻值范围为

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