[发明专利]感光性树脂组合物,感光性元件,光致抗蚀图形的形成方法及印刷电路板的制造方法无效
| 申请号: | 201010539645.4 | 申请日: | 2006-05-22 |
| 公开(公告)号: | CN102012634A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
| 发明(设计)人: | 宫坂昌宏;熊木尚 | 申请(专利权)人: | 日立化成工业株式会社 |
| 主分类号: | G03F7/004 | 分类号: | G03F7/004;G03F7/033;G03F7/031;G03F7/09;G03F7/00;H05K3/06 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 感光性 树脂 组合 元件 光致抗蚀 图形 形成 方法 印刷 电路板 制造 | ||
1.一种感光性树脂组合物,其特征为,含有(A)粘合剂聚合物、(B)具有乙烯性不饱和键的光聚合性化合物及(C1)下述通式(1)所表示的化合物,
式(1)中,至少1个R表示碳数1~10的烷氧基,a、b及c的总和为1~6;a、b及c的总和为2~6时,同一分子中的复数的各个R可相同或相异。
2.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,a、b及c各自表示0~2的整数。
3.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,该(A)成分为含有丙烯酸系聚合物的成分,所述丙烯酸系聚合物具有以来自丙烯酸和/或甲基丙烯酸的单体单元与来自丙烯酸的烷基酯和/或甲基丙烯酸的烷基酯的单体单元作为构成单元。
4.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,其还含有(C2)2,4,5-三芳基咪唑二聚物或其衍生物。
5.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,相对于该(A)成分及该(B)成分的总量100质量份,该(B)成分的配合量为20~80质量份,该(C1)成分的配合量为0.001~5.0质量份。
6.如权利要求4所述的感光性树脂组合物,其中,相对于该(A)成分及该(B)成分的总量100质量份,(C2)2,4,5-三芳基咪唑二聚物或其衍生物的配合量为3~5质量份。
7.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,该R为甲氧基。
8.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,该a、b及c的总和为1~2。
9.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,被使用于曝光于在350nm以上且未满440nm的波长范围内具有波峰的光下形成光致抗蚀图形。
10.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,该(C1)成分的最大吸收波长为370nm以上且未满420nm。
11.如权利要求1所述的感光性树脂组合物,被使用于直接绘图曝光法。
12.一种感光性元件,其特征为,具备支撑体和设置于该支撑体上的含有权利要求1至11中任一项所述的感光性树脂组合物的感光层。
13.如权利要求12所述的感光性元件,被使用于直接绘图曝光法。
14.一种光致抗蚀图形的形成方法,其特征为具备下述工序:
感光层形成工序,在基板上形成含有权利要求1至11中任一项所述的感光性树脂组合物的感光层,
曝光工序,使所述感光层的规定部分曝光于在350nm以上且未满440nm的波长范围内具有波峰的光,以及
显影工序,使经曝光的所述感光层进行显影形成光致抗蚀图形。
15.如权利要求14所述的光致抗蚀图形的形成方法,其中,通过直接绘图曝光法进行所述曝光工序。
16.一种印刷电路板的制造方法,其特征为具备下述工序:
感光层形成工序,在基板上形成含有权利要求1至11中任一项所述的感光性树脂组合物的感光层,
曝光工序,使所述感光层的规定部分曝光于在350nm以上且未满440nm的波长范围内具有波峰的光,以及
导体图形形成工序,以该光致抗蚀图形为基础,在所述基板上形成导体图形。
17.如权利要求16所述的印刷电路板的制造方法,其中,通过直接绘图曝光法进行所述曝光工序。
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