[发明专利]一种印痕显现和提取用半导体量子点荧光试剂的制备方法有效
| 申请号: | 201010247431.X | 申请日: | 2010-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN101906302A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
| 发明(设计)人: | 张军;高峰;韩家兴;李群;李倩;孙秀峰;郑金成;李昕;包丽茹 | 申请(专利权)人: | 内蒙古大学 |
| 主分类号: | C09K11/88 | 分类号: | C09K11/88;C09K11/02;A61B5/117 |
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| 地址: | 010021 内蒙*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 印痕 显现 提取 半导体 量子 荧光 试剂 制备 方法 | ||
所属技术领域
本发明涉及一种新型、高效液体型印痕显现和提取用半导体量子点荧光试剂的制备方法,特别指一种以水溶性半导体CdTe量子点为核,表面由巯基乙酸和水合联氨联合改性修饰、且具有正电荷特性的高效液体型印痕显现和提取用半导体量子点荧光试剂的制备方法。该新型印痕显现和提取用半导体量子点荧光试剂可应用于刑事现场的指纹等潜在印痕的显现和提取。
背景技术
刑事犯罪案件的侦破一定程度上取决于对犯罪现场的微量痕迹物证的提取和收集,微量痕迹物证在刑侦过程中对犯罪分子的指认具有不可估量的价值。潜在印痕作为一种重要的微量痕迹物证,其显现和提取对刑事犯罪案件的破获至关重要。潜在印痕显现和提取是否得当、印痕显现和提取物选用是否合理、印痕显现和提取物信号的强度和分辨率等因素都将直接影响刑事侦查案件破获的效率和准确性。
目前,潜在印痕显现和提取技术面临一些亟待解决的难题。一方面,由于客体的复杂性和潜在印痕遗留的时效性,潜在印痕显现和提取急需高效、高灵敏度和显现度的印痕显现和提取物及相关检测手段;另一方面,目前利用粉末刷显法进行印痕的显现和提取时,常常需要使用具有一定毒副作用的显现和提取试剂,这对刑侦技术人员的身体健康具有极大的损害,且该法对某些客体上的印痕显现和提取效果不甚理想。鉴于上述情况,近年来科研人员开始将纳米技术同光致发光法等传统印痕显现和提取方法相结合,寻找基于纳米技术的高效、无毒副作用、无损、廉价、高效的荧光型印痕显现和提取试剂和技术。然而,由于纳米技术的前沿性和复杂性,针对该项技术的研究和开发有待深入进行。
潜在印痕显现和提取主要是基于印痕是人体皮肤某些部位接触其它物质后残留的脂肪类化合物这一事实,通过提取脂肪残留物中的某些成分如氨基酸或是利用喷射某种化学物质来达到印痕显现,进而进行提取、收集和分析的目的。传统的印痕显现和提取方法通常是粉末刷显。此外,还有一些化学类印痕显现和提取试剂,如硝酸银、水合茚三酮及其类似物、四氧化锇及四氧化钌、四甲基联苯胺,1,8-二氮-9-芴酮(DFO),N,N-二甲基乙酰胺(DMAC),α-氰基丙烯酸乙酯(502)等。这些试剂在应用过程中或多或少具有一定的局限性,潜在印痕显现和提取试剂和技术目前急需解决客体适用性和提取实效性问题,如多数印痕显现和提取试剂和技术只适用于新鲜印痕的提取,且印痕提取易失真,印痕提取很大程度上受限于客体表面,提取过程中会释放有害物质,印痕提取检测费用昂贵等,因而刑侦领域目前急需更为有效、科技含量更高的潜在印痕显现和提取试剂及相关技术,开发新型、有效的潜在印痕显现和提取试剂和技术十分必要且迫切。
Ⅱ-Ⅵ族半导体量子点是近几年兴起的一类高科技荧光材料,由于其显著量子限域效应,半导体量子点具有发光强、效率高、颜色可调变等诸多特性,在光电子、信息及生物医学等领域具有重要应用,其在刑事科学领域的应用研究也引起了人们极大的研究兴趣。国外已有少数关于Ⅱ-Ⅵ族半导体量子点溶液尝试用于指纹显现和提取的报道,例如,2000年E.R.Menzel首次将CdS/dendrimer应用于指纹显现技术;其后,瑞士学者Andy Becue以及美国学者Kwan H.Cheng分别尝试将Ⅱ-Ⅵ族半导体CdTe量子点溶液用于血指纹和汗液指纹的显现和提取。上述报道只对Ⅱ-Ⅵ族半导体量子点溶液应用于印痕显现和提取的可行性进行了探索,而且所报道的半导体CdTe量子点为碱性条件下合成,表面由巯基乙酸单独修饰,呈现负电特性,而印痕中的氨基酸残留物在碱性条件下也呈现微弱的负电性,因而造成半导体CdTe量子点溶液在印痕显现和提取过程中与印痕粘结性较差,导致印痕显现和提取效果差,导致其应用受限。我国在这方面研究报道还很少,2008年我国有学者报道了Ⅱ-Ⅵ族半导体CdSe和CdS/PAMAM量子点溶液应用于潜指纹提取的研究,但有关表面带有正电性、与印痕具有较强作用的半导体CdTe量子点溶液用于印痕显现和提取的研究还未见报到。
本专利基于纳米技术,通过独特的半导体量子点制备和表面改性方法,制备了表面由巯基乙酸和水合联氨改性修饰、且具有正电荷特性的半导体CdTe量子点纳米荧光试剂,该纳米荧光试剂与碱性条件下印痕表面所携电荷相反,因而与印痕具有很强的静电相互作用,对印痕的显现和提取效果优于传统表面由巯基乙酸单独修饰的半导体CdTe量子点溶液,且实用的客体范围更广,印痕显现和提取分辨率和显现率更高。
发明内容
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