[发明专利]盐及包含该盐的光致抗蚀剂组合物无效

专利信息
申请号: 201010234021.1 申请日: 2010-07-12
公开(公告)号: CN101955454A 公开(公告)日: 2011-01-26
发明(设计)人: 市川幸司;杉原昌子;山下裕子 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: C07C381/12 分类号: C07C381/12;C07C57/04;C07C69/54;C07C63/64;C07D333/76;C07D333/46;C07C25/18;C08F220/18;C08F120/06;C08F122/16;C08F212/14;G03F7/004;G03F7/00
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 涂勇
地址: 日本国东京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 包含 光致抗蚀剂 组合
【权利要求书】:

1.一种如式(I-Pa)所示的盐:

其中XPa代表单键或C1-C4亚烷基,RPa代表单键、C4-C36二价脂环烃基或C6-C36二价芳香烃基,其中所述二价脂环烃基中的一个以上的亚甲基可用-O-或-CO-替代,

YPa代表可聚合的基团,以及

ZPa+代表有机阳离子。

2.如权利要求1所述的盐,其特征在于,所述可聚合的基团为乙烯基、丙烯酰基、甲基丙烯酰基、丙烯酰氧基或甲基丙烯酰氧基,并且所述乙烯基、丙烯酰基、甲基丙烯酰基、丙烯酰氧基以及甲基丙烯酰氧基可具有一个以上的取代基。

3.如权利要求1所述的盐,其特征在于,所述ZPa+是如式(IXa)所示的阳离子:

其中PB、PC和PD独立地各自代表可具有一个以上取代基的C1-C10脂肪烃基、可具有一个以上取代基的C4-C36脂环烃基、可具有一个以上取代基的C6-C36芳香烃基、或者可具有一个以上取代基的C3-C36杂环基,并且PB、PC和PD中的任意两个可彼此成键从而形成环,其中所述脂肪烃基和所述脂环烃基中的一个以上的亚甲基可被-CO-或-O-取代。

4.如权利要求1所述的盐,其特征在于,RPa为单键或金刚烷基二基基团。

5.一种包含由权利要求1所述的盐衍生的结构单元的聚合物。

6.一种包含产酸剂和如权利要求5所述的聚合物的光致抗蚀剂组合物。

7.一种包含如权利要求1所述的盐、产酸剂以及树脂的光致抗蚀剂组合物,其中所述树脂包含具有酸不稳定性基团的结构单元,并且所述树脂不溶于或微溶于碱性水溶液,但在酸的作用下变得可溶于碱性水溶液。

8.如权利要求6或7所述的光致抗蚀剂组合物,其特征在于,所述光致抗蚀剂组合物还包含碱性化合物。

9.一种用于形成光致抗蚀图案的方法,包括如下步骤(1)至(5):

(1)将如权利要求6、7或8所述的光致抗蚀剂组合物施用在基材上,

(2)通过进行干燥形成光致抗蚀剂膜,

(3)使光致抗蚀剂膜曝露在辐射下,

(4)焙烤经曝露的光致抗蚀剂膜,以及

(5)用碱性显影剂显影经焙烤的光致抗蚀剂膜,从而形成光致抗蚀图案。

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