[发明专利]非易失性存储设备以及含有此设备的存储系统有效

专利信息
申请号: 201010109501.5 申请日: 2010-02-03
公开(公告)号: CN101814319A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 金寿翰;金大汉 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C16/02 分类号: G11C16/02;G11C16/06;G11C16/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 钱大勇
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 非易失性 存储 设备 以及 含有 存储系统
【权利要求书】:

1.一种非易失性存储设备,包括:

单元阵列,含有被排列在字线和位线交叉点上的存储单元;

地址译码器,被配置为根据地址选择字线之一;

写电路,被配置为将编程数据写入与所选择字线相连的存储单元;以及

控制电路,被配置为控制地址译码器和写电路以便在写操作期间顺序地 执行多个条带写操作;

其中,所述控制电路进一步被配置为在每个写操作期间选择下一个条带 写操作的写条件,

其中,根据所存储的用于控制写条件的微调信息来执行多个条带写操作 的每一个操作,

其中,所述控制电路包括:

微调块,包含多个条带寄存器,每个条带寄存器存储微调信息;以及

选择器,被配置为为条带写操作选择存储所述微调信息的微调块的多个 条带寄存器中的一个,

其中,根据验证操作的结果来选择存储微调信息的条带寄存器。

2.根据权利要求1所述的非易失性存储设备,其中,每个条带寄存器 的微调信息包含指示条带寄存器允许/禁止的数据。

3.根据权利要求1所述的非易失性存储设备,其中,利用多个验证电 平来执行所述验证操作。

4.根据权利要求3所述的非易失性存储设备,其中,所述验证操作被 用于检测阈值电压分布宽度。

5.根据权利要求1所述的非易失性存储设备,其中,在多个条带写操 作的每个中判断下一个被编程的单元是否存在。

6.根据权利要求1所述的非易失性存储设备,其中,当在条带写操作 中没有选择写条件时,所述控制电路使用缺省的写条件。

7.一个存储系统,包括:

非易失性存储设备;以及

存储控制器,被配置为控制非易失性存储设备,

其中,所述非易失性存储设备包括:

单元阵列,含有被排列在字线和位线的交叉点上的存储单元;

地址译码器,被配置为根据地址选择字线之一;

写电路,被配置为将编程数据写入与所选择字线相连的存储单元;以及

控制电路,被配置为控制地址译码器和写电路,以便在写操作期间顺序 地执行多个条带写操作,

其中,所述控制电路被配置为在条带写操作期间选择下一个条带写操作 的写条件,

其中,根据所存储的用于控制写条件的微调信息来执行多个条带写操作 的每一个操作,

其中,所述控制电路包括:

微调块,包含多个条带寄存器,每个条带寄存器存储微调信息;以及

选择器,被配置为为条带写操作选择存储所述微调信息的微调块的多个 条带寄存器中的一个,

其中,根据验证操作的结果来选择存储微调信息的条带寄存器。

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