[发明专利]发光二极管及其制造方法无效
| 申请号: | 201010004694.8 | 申请日: | 2010-01-20 |
| 公开(公告)号: | CN102130051A | 公开(公告)日: | 2011-07-20 |
| 发明(设计)人: | 徐宸科;余学志;苏文正;欧震 | 申请(专利权)人: | 晶元光电股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/782 | 分类号: | H01L21/782;H01L33/20;H01L33/22;H01L27/15 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光元件制造方法,其步骤至少包含:
提供基板;
形成至少一发光叠层于该基板之上;
以激光于该基板内部形成多个内部散射中心;以及
形成至少一电极于该发光叠层之上,其中该电极下方具有至少部分所述内部散射中心。
2.一种发光元件制造方法,其步骤至少包含:
提供基板;
形成至少一发光叠层于该基板之上;以及
以激光于该基板内部形成多个内部散射中心,其中该发光叠层的材料包含一种或一种以上的物质选自镓(Ga)、铝(Al)、铟(In)、砷(As)、磷(P)、氮(N)以及硅(Si)所构成的群组。
3.如权利要求1或2所述的发光元件制造方法,其中该激光可为红外线激光。
4.如权利要求3所述的发光元件制造方法,其中该红外线激光可为Nd-YAG laser、Nd-YVO4 laser、Nd-YLF laser或钛蓝宝石激光,且其中该激光能量可为0.05~0.35W,速度可为100~600 mm/sec。
5.如权利要求1或2所述的发光元件制造方法,其中形成该发光叠层的步骤,至少包含:
形成第一导电型半导体层于该基板之上;
形成活性层于该第一导电型半导体层上;
形成第二导电型半导体层于该活性层上;
利用光刻蚀刻技术蚀刻该第一导电型半导体层、该活性层以及该第二导电型半导体层,以形成至少一台状结构的发光叠层。
6.如权利要求1或2所述的发光元件制造方法,其中所述内部散射中心的长度可约为1~25μm或宽度可约为2~5μm。
7.如权利要求1或2所述的发光元件制造方法,其中所述内部散射中心的形状可为圆点状、长方体或其他图形。
8.如权利要求1或2所述的发光元件制造方法,其中所述内部散射中心可随意或规则分布于基板内部或接触基板侧壁。
9.一种发光元件,至少包含:
基板,其中该基板内部包含多个内部散射中心;
至少一发光叠层形成于该基板之上;以及
至少一电极形成于该发光叠层之上,其中该多个内部散射中心至少部分位于该电极之下。
10.一种发光元件,至少包含:
基板,其中该基板内部包含多个内部散射中心;以及
至少一发光叠层形成于该基板之上,其中该发光叠层的材料包含一种或一种以上的物质选自镓、铝、铟、砷、磷、氮以及硅所构成群组。
11.如权利要求9或10所述的发光元件,其中所述内部散射中心的长度可约为1~25μm或宽度可约为2~5μm。
12.如权利要求9或10所述的发光元件,其中所述内部散射中心的形状可为圆点状、长方体或其他图形。
13.如权利要求9或10所述的发光元件,其中所述内部散射中心可随意或规则分布于基板内部或接触基板侧壁。
14.如权利要求9或10所述的发光元件,其中该发光叠层至少包含:
第一导电型半导体层,位于该基板之上;
活性层,位于部分该第一导电型半导体层上;以及
第二导电型半导体层,位于该活性层上。
15.如权利要求9或10所述的发光元件,其中该基板表面可为实质不平整表面。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





