[发明专利]用于闪存存储器中的软解映射和单元间干扰减轻的方法和设备有效
申请号: | 200980132505.0 | 申请日: | 2009-06-30 |
公开(公告)号: | CN102132350A | 公开(公告)日: | 2011-07-20 |
发明(设计)人: | E·F·哈拉特施;M·伊威科维克;V·克拉琦科夫斯基;N·米拉德诺维奇;A·维贾耶夫;J·延 | 申请(专利权)人: | LSI公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C11/56 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 陈华成 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 闪存 存储器 中的 映射 单元 干扰 减轻 方法 设备 | ||
1.一种用于读取能够每个单元存储至少两个数据电平s的闪存存储器器件中的目标单元的方法,所述方法包括:
对于所述闪存存储器中的至少一个目标单元获得测量的读取值r;
基于所述测量的读取值r评估至少一个概率密度函数,其中所述概率密度函数指示对于给定的数据电平s测量读取值r的概率;以及
基于所述评估步骤的结果来计算一个或更多个对数似然比。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述概率密度函数还包括对所述目标单元的干扰的表达式。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述概率密度函数还包括一个或更多个入侵单元对所述闪存存储器中的至少一个目标单元的依赖于样式的干扰的表达式。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述计算步骤还包含以下步骤:对于两个可能的二进制值中的每一个,针对与所述两个可能的二进制值关联的所有数据电平,合计对于给定数据电平s测量读取值r的所述概率。
5.根据权利要求4所述的方法,还包含基于对于所述两个可能的二进制值中的每一个的所述合计的概率来形成比例的步骤。
6.根据权利要求4所述的方法,还包含以下步骤:将对于所述两个可能的二进制值中的每一个的所述合计的概率乘以以下表达式,所述表达式基于对于单元内的除正在计算所述对数似然比的位以外的所有位的一个或更多个先验概率值。
7.根据权利要求4所述的方法,其中所述合计包括和以及乘积中的一个或更多个。
8.根据权利要求4所述的方法,其中所述计算步骤评估以下表达式:
其中p(r|s)是表征闪存存储器的概率密度函数;cq是代码位,m是每个单元的位的数量,La(Ct)是对数似然比,Le(Ct)是外在的对数似然比,并且是其位标记在位置t上具有值Ct=ct的符号的子集。
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