[发明专利]采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层有序生长的方法有效

专利信息
申请号: 200910077674.0 申请日: 2009-02-11
公开(公告)号: CN101800285A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40;H01L21/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 采用 有源 材料 作为 前驱 诱导 有序 生长 方法
【权利要求书】:

1.一种采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层有序生长的方法, 其特征在于,诱导线条的材料和器件的有源层材料是同一种材料,该方法 包括:

步骤1、在导电硅基底上热氧化生长绝缘介质薄膜;

步骤2、在绝缘介质薄膜表面上旋涂抗蚀剂,光刻得到平行排列的线 条图形;

步骤3、真空蒸镀一层有机半导体薄膜;

步骤4、用丙酮剥离掉光刻胶形成平行排列的有机诱导线条;

步骤5、沉积生长有机半导体薄膜;

步骤6、通过镂空的掩模版沉积源漏电极,完成有源层有机半导体材 料有序取向的有机场效应晶体管的制备。

2.根据权利要求1所述的采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层 有序生长的方法,其特征在于,步骤1中所述导电硅基底是电阻率低的导 电材料,用于作为有机场效应管的栅极。

3.根据权利要求1所述的采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层 有序生长的方法,其特征在于,步骤1中所述在导电硅基底上热氧化生长 绝缘介质薄膜是采用热氧化生长的方法或化学气相沉积的方法获得的。

4.根据权利要求1所述的采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层 有序生长的方法,其特征在于,步骤2中所述在绝缘介质薄膜表面上平行 排列的线条图形是通过光刻工艺获得的。

5.根据权利要求1所述的采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层 有序生长的方法,其特征在于,步骤3中所述有机半导体薄膜和步骤4中 所述有机诱导线条是采用真空热蒸镀的方法实现的。

6.根据权利要求1所述的采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层 有序生长的方法,其特征在于,步骤4中所述有机诱导线条的厚度为20nm。

7.根据权利要求1所述的采用体有源层材料作为前驱体诱导有源层 有序生长的方法,其特征在于,步骤6中所述源漏金属电极是采用电子束 蒸发技术或磁控溅射的方法沉积的。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910077674.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top