[发明专利]薄膜晶体管基板及其制造工艺无效
申请号: | 200810142521.5 | 申请日: | 2008-07-25 |
公开(公告)号: | CN101635300A | 公开(公告)日: | 2010-01-27 |
发明(设计)人: | 张育诚;颜硕廷;洪肇逸 | 申请(专利权)人: | 群康科技(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L23/522;H01L21/84;H01L21/768;G02F1/1362 |
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地址: | 518109广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制造 工艺 | ||
1.一种薄膜晶体管基板,其包括:多条扫描线、多个薄膜晶体管及一公共电极,其特征在于:该薄膜晶体管基板进一步包括多条与该多条扫描线设置在同一层的第一数据线及多条第二数据线,该第二数据线跨过该扫描线而连接该第一数据线,该多个薄膜晶体管的栅极分别连接到该多条扫描线,源极分别连接到该多条第二数据线,该公共电极覆盖该第一数据线。
2.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板,其特征在于:该薄膜晶体管基板进一步包括多个第一通孔,该第一数据线与该扫描线相互垂直且在靠近该扫描线处断开,该第二数据线通过两个第一通孔跨接位于该扫描线两侧的第一数据线。
3.如权利要求2所述的薄膜晶体管基板,其特征在于:该薄膜晶体管基板进一步包括多个像素电极和多个第二通孔,该像素电极与该扫描线设置在同一层,该薄膜晶体管的漏极通过该第二通孔连接到该像素电极。
4.如权利要求3所述的薄膜晶体管基板,其特征在于:该第一通孔和该第二通孔在同一掩膜制造工艺步骤中形成。
5.如权利要求4所述的薄膜晶体管基板,其特征在于:该公共电极进一步覆盖该扫描线、该第二数据线和该像素电极。
6.如权利要求1所述的薄膜晶体管基板,其特征在于:该第一数据线与该扫描线是相同材料。
7.一种薄膜晶体管基板的制造工艺,其包括如下步骤:
a.提供一基底,在该基底上形成多个薄膜晶体管的栅极、多条扫描线和多条第一数据线;
b.在该基底上形成像素电极;
c.在该多个薄膜晶体管的栅极、该多条扫描线、该多条第一数据线和该像素电极上形成一栅极绝缘层;在该栅极绝缘层上依序形成一半导体沟道层;
d.在该半导体沟道层上形成多个薄膜晶体管的源极、漏极和多条跨过该扫描线而连接该第一数据线的第二数据线;
e.在该多个薄膜晶体管的源极、漏极和该多条第二数据线上形成一钝化层;在该钝化层上形成一覆盖该第一数据线的公共电极。
8.如权利要求7所述的薄膜晶体管基板的制造工艺,其特征在于:该步骤c中进一步包括贯穿该栅极绝缘层的多个第一通孔和多个第二通孔,该第一通孔对应该第二数据线,该第二通孔对应该薄膜晶体管的漏极,该第一通孔和该第二通孔在同一掩膜制造工艺步骤中形成。
9.如权利要求7所述的薄膜晶体管基板的制造工艺,其特征在于:该步骤a中,该闸极、该扫描线及该第一数据线在同一掩膜制造工艺步骤中形成。
10.如权利要求7所述的薄膜晶体管基板的制造工艺,其特征在于:该步骤d中,该源极、该漏极及该第二数据线在同一掩膜制造工艺步骤中形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的