[发明专利]实时阻抗测量系统与方法

说明书

技术领域

本发明有关于一种测量系统与方法，且特别是有关于一种阻抗测量系统与方法。

背景技术

元件测试作业在制造工业中占有相当重要的地位，为了提高产品的合格率，首先需在元件进厂时便需先进行各种元件测试作业。

现有的元件测试方法是利用测试器以测量待测元件的电参数，测试人员需记录数据并判断数据是否在正常范围内。若数据不在正常范围内，则判断待测元件为不良品，并进行不良品的后续处理。

图1是现有的阻抗测量装置的方块示意图。请参照图1，测试器装置10包括计算机11、测试器12、开关箱13与待测物14，测试人员可通过计算机11选择测试器的多种测试功能以对待测物进行一连串的测试作业，以测试待测物的信赖度。然而，在所述测试作业完成之后，尚需测试人员个别地测量每一待测物的电性参数，如此，将耗费许多人力并延长整个测试作业时间。

有鉴于此，为解决现有测试系统与作业耗费人力与时间的问题，需要设计一种测量系统与方法，其可快速且自动地测量元件的电性参数，并分析所述电性参数以节省人力、简化测试作业并提高测试准确度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种实时阻抗测量系统，用以测量多个待测元件的阻抗值，以简化测试流程并提高测试作业的准确性。

本发明的另一目的在于提供一种实时阻抗测量方法，用以快速且自动地测量元件的电性参数，并对所述电性参数进行分析，以简化并加速测试作业，同时可节省人力并降低成本。

为了实现上述目的，本发明提出一种实时阻抗测量系统，以测量多个待测元件的阻抗值。该实时阻抗测量系统包含：电源装置、开关矩阵(switchmatrix)、阻抗测量器与测试控制器。开关矩阵包含多个元件开关，所述元件开关分别连接所述待测元件的一端。电源装置通过一电源开关连接所述待测元件的另一端，并输出一测试电源信号。该测试电源信号可例如为一直流信号或一交流信号。阻抗测量器通过一测量开关连接待测元件的另一端。测试控制器用以控制开关矩阵、电源开关与测量开关三者。当测试控制器闭合元件开关与电源开关，且关断测量开关时，连接于闭合的元件开关的待测元件可接收测试电源信号。另外，当测试控制器关断电源开关且闭合测量开关，并依序闭合元件开关时，阻抗测量器可依序测量连接于其上的待测元件的阻抗值。

依据本发明的一实施例的实时阻抗测量系统，测试控制器可接收待测元件的阻抗值并对所述阻抗值进行后续的分析作业。测试控制器可分别通过开关控制信号、电源开关控制信号与测量开关控制信号控制开关矩阵、电源开关与测量开关。另外，系统可进一步包括接口总线，该接口总线可传送开关控制信号、电源开关控制信号与测量开关控制信号，并可传送来自阻抗测量器的阻抗值至测试控制器或其它具有数据记录与分析功能的数据处理装置，例如计算机等。该接口总线可例如为通用接口总线(General Purpose InterfaceBus，GPIB)或RS-232接口。

此外，在该实施例中，测试控制器可通过执行仪器集成程序产生开关控制信号、电源开关控制信号与测量开关控制信号三者。仪器集成程序可例如为Labview程序、C语言程序与VB语言程序。而且，当元件开关与电源开关闭合时，待测元件串联电源装置，当测量开关闭合，且元件开关依序闭合时，待测元件依序并联阻抗测量器。并且，测试控制器可依据仪器集成程序的指令控制元件开关与测量开关，使阻抗测量器依序地测量每一待测元件的阻抗值并将阻抗值传回至测试控制器，以进行后续的分析作业。若测试控制器判断某一待测元件为不良品，则在后续的测试流程中，可省略该待测元件的测试作业。

为了实现上述目的，本发明还提出一种实时阻抗测量方法，用以测量多个待测元件阻抗值，该实时阻抗测量方法包含下列步骤：提供开关矩阵、电源开关、测量开关与测试控制器，开关矩阵包含多个元件开关，所述元件开关分别连接所述待测元件的一端，且测试控制器用以控制开关矩阵、电源开关与测量开关。然后，闭合元件开关，且闭合电源开关以传送测试电源信号至待测元件，该测试电源信号可例如为一直流信号或一交流信号。之后，闭合测量开关并依序闭合元件开关，以依序测量待测元件的阻抗值，同样地，所述阻抗值可例如为一直流阻抗值或一交流阻抗值。