[发明专利]等离子体掺杂方法以及装置无效
| 申请号: | 200780001172.9 | 申请日: | 2007-10-02 |
| 公开(公告)号: | CN101356625A | 公开(公告)日: | 2009-01-28 |
| 发明(设计)人: | 奥村智洋;佐佐木雄一朗;冈下胜己;伊藤裕之;水野文二 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/265 | 分类号: | H01L21/265 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 等离子体 掺杂 方法 以及 装置 | ||
1.一种等离子体掺杂方法,
在真空容器内的试料电极上载置试料,
一边向所述真空容器内供应等离子体掺杂用气体,一边使所述真空容 器内排气,将所述真空容器内控制为等离子体掺杂用压力,同时使所述真 空容器内的所述试料的表面与对置电极的表面之间产生等离子体,向所述 试料电极供电,
向与所述试料电极相对配置的所述对置电极供应高频电力,
在设所述试料表面中与所述对置电极相对一侧的表面的面积为S,所 述试料电极与所述对置电极的距离为G时,在满足下式(1)
[式1]
的状态下,进行向所述试料的表面导入杂质的等离子体掺杂处理。
2.如权利要求1所述的等离子体掺杂方法,
在所述真空容器内的所述试料电极上载置所述试料后、向所述试料电 极供电之前,
将所述真空容器内的压力保持为高于所述等离子体掺杂用压力的等 离子体产生用压力,同时向所述对置电极供应高频电力,使所述真空容器 内的所述试料表面与所述对置电极的表面之间产生等离子体,所述等离子 体产生后,使所述真空容器内的压力逐渐降低至所述等离子体掺杂用压 力,在达到所述等离子体掺杂用压力后,向所述试料电极供电。
3.如权利要求1所述的等离子体掺杂方法,
在所述真空容器内的所述试料电极上载置所述试料后、向所述试料电 极供电之前,
向所述真空容器内,供应与稀释所述等离子体掺杂用气体的杂质原料 气体的稀释气体相比在低压下更容易放电的等离子体产生用气体,将所述 真空容器内的压力保持为等离子体掺杂用压力,同时向所述对置电极供应 高频电力,由此使所述真空容器内的所述试料表面与所述对置电极表面之 间产生等离子体,在所述等离子体产生后,将向所述真空容器内供应的气 体切换为所述等离子体掺杂用气体,在所述真空容器内切换为所述等离子 体掺杂用气体后,向所述试料电极供电。
4.如权利要求1所述的等离子体掺杂方法,
在所述真空容器内的所述试料电极上载置所述试料后、向所述试料电 极供电之前,
为使所述试料电极与所述对置电极的距离G大于所述式(1)的范围, 使所述试料电极与所述对置电极相对移动,在使所述试料电极离开所述对 置电极的状态下,一边向所述真空容器内供应等离子体掺杂用气体,一边 使所述真空容器内排气,将所述真空容器内控制为等离子体掺杂用压力, 同时向所述对置电极供应高频电力,由此使所述真空容器内的所述试料表 面与所述对置电极表面之间产生等离子体,在所述等离子体产生后,使所 述试料电极与所述对置电极相对移动,在所述距离G返回到满足所述式 (1)的状态后,向所述试料电极供电。
5.如权利要求1~4中任意一项所述的等离子体掺杂方法,
被导入所述真空容器内的所述气体中的杂质原料气体的浓度为1%以 下。
6.如权利要求1~4中任意一项所述的等离子体掺杂方法,
被导入所述真空容器内的所述气体中的杂质原料气体的浓度为0.1% 以下。
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