[发明专利]等离子体掺杂方法以及装置无效

专利信息
申请号: 200780001172.9 申请日: 2007-10-02
公开(公告)号: CN101356625A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 奥村智洋;佐佐木雄一朗;冈下胜己;伊藤裕之;水野文二 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 等离子体 掺杂 方法 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种等离子体掺杂方法,

在真空容器内的试料电极上载置试料,

一边向所述真空容器内供应等离子体掺杂用气体,一边使所述真空容 器内排气,将所述真空容器内控制为等离子体掺杂用压力,同时使所述真 空容器内的所述试料的表面与对置电极的表面之间产生等离子体,向所述 试料电极供电,

向与所述试料电极相对配置的所述对置电极供应高频电力,

在设所述试料表面中与所述对置电极相对一侧的表面的面积为S,所 述试料电极与所述对置电极的距离为G时,在满足下式(1)

[式1]

0.1(S/π)<G<0.4(S/π)---(1)]]>

的状态下,进行向所述试料的表面导入杂质的等离子体掺杂处理。

2.如权利要求1所述的等离子体掺杂方法,

在所述真空容器内的所述试料电极上载置所述试料后、向所述试料电 极供电之前,

将所述真空容器内的压力保持为高于所述等离子体掺杂用压力的等 离子体产生用压力,同时向所述对置电极供应高频电力,使所述真空容器 内的所述试料表面与所述对置电极的表面之间产生等离子体,所述等离子 体产生后,使所述真空容器内的压力逐渐降低至所述等离子体掺杂用压 力,在达到所述等离子体掺杂用压力后,向所述试料电极供电。

3.如权利要求1所述的等离子体掺杂方法,

在所述真空容器内的所述试料电极上载置所述试料后、向所述试料电 极供电之前,

向所述真空容器内,供应与稀释所述等离子体掺杂用气体的杂质原料 气体的稀释气体相比在低压下更容易放电的等离子体产生用气体,将所述 真空容器内的压力保持为等离子体掺杂用压力,同时向所述对置电极供应 高频电力,由此使所述真空容器内的所述试料表面与所述对置电极表面之 间产生等离子体,在所述等离子体产生后,将向所述真空容器内供应的气 体切换为所述等离子体掺杂用气体,在所述真空容器内切换为所述等离子 体掺杂用气体后,向所述试料电极供电。

4.如权利要求1所述的等离子体掺杂方法,

在所述真空容器内的所述试料电极上载置所述试料后、向所述试料电 极供电之前,

为使所述试料电极与所述对置电极的距离G大于所述式(1)的范围, 使所述试料电极与所述对置电极相对移动,在使所述试料电极离开所述对 置电极的状态下,一边向所述真空容器内供应等离子体掺杂用气体,一边 使所述真空容器内排气,将所述真空容器内控制为等离子体掺杂用压力, 同时向所述对置电极供应高频电力,由此使所述真空容器内的所述试料表 面与所述对置电极表面之间产生等离子体,在所述等离子体产生后,使所 述试料电极与所述对置电极相对移动,在所述距离G返回到满足所述式 (1)的状态后,向所述试料电极供电。

5.如权利要求1~4中任意一项所述的等离子体掺杂方法,

被导入所述真空容器内的所述气体中的杂质原料气体的浓度为1%以 下。

6.如权利要求1~4中任意一项所述的等离子体掺杂方法,

被导入所述真空容器内的所述气体中的杂质原料气体的浓度为0.1% 以下。

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