[实用新型]半导体高低温实验仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体高低温测试技术领域，特别涉及一种半导体高低温实验仪。

背景技术

LED(Light Emitting Diode，发光二极管)是一种固态的半导体器件，它可以直接把电转化为光。LED是LED显示屏中大量使用的器件，LED显示屏通过控制LED来显示文字、图形和各种信息，广泛应用于车站、商场、医院等环境。在自动化生产LED显示屏的过程中，如果大量LED不经检测就安装在PCB板上，当安装完毕后在测试PCB板的过程中发现故障，则需要手工将出现问题的LED焊接下来，而如果LED出现大量损坏，则对LED进行的焊接返工将极大降低PCB板的生产效率，因此在将LED安装在PCB板上前，需要对LED进行信赖度测试，该信赖度测试通常指对LED进行高低温冲击实验，即选取一定数量的LED，让这些LED经过高温和低温的一定数量的循环测试以后，检测损坏的LED数量得到相应的LED信赖度，以提高后续的PCB板生产效率。

现有的一种用于测量LED的高低温实验仪结构如图1所示，该实验仪包括低温容器101、制冷管道102、压缩机103、压缩机散热器104、高温容器105、加热装置106、机械运动部件107、实验电子元件108。其中，低温容器101和高温容器105分离放置，低温容器101通过下部安装的独立制冷设备进行制冷，该制冷设备包括位于低温容器101下方的长环形制冷管道102，与制冷管道102相连的压缩机103，以及为压缩机103配备的压缩机散热器104，该压缩制冷设备使用的冷媒通常为氟利昂；高温容器105与低温容器101并列放置，且该高温容器105通过安装在其下方的独立加热装置106加热。在使用该高低温实验仪对电子元件进行测量时，通过置于低温容器101和高温容器105上方平面支架上的机械运动部件107带动实验电子元件108在上述低温容器101和高温容器105内左右移动，该机械运动部件107通过控制系统控制其左右运动，实验前通过实验条件输入模块输入实验条件，按照该实验条件机械运动部件107经过一定数量的循环测试以后，即可检测出实验电子元件108的信赖度。

由上述对现有技术的描述可知，由于现有高低温实验仪采用低温容器和高温容器分开放置并进行独立制冷和制热，因此难以统一操作和控制；对于低温容器采用独立的压缩机进行制冷，在制冷过程中通过压缩机制冷管道中的冷媒通常为氟利昂，容易造成环境污染，并且对于大功率的压缩机需要配置大功率的散热器，在实验过程中散热器散发的热量对外界环境造成了热污染；由于低温容器制冷过程中的热量无法应用于高温容器的加热，还需要为该高温容器配置独立的加热设备，相应浪费了制冷过程中的热能资源。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体高低温实验仪，以克服现有技术中高低温实验仪的低温容器和高温容器分开放置且独立制冷和制热，难以统一操作和控制的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：

一种半导体高低温实验仪，包括实验条件输入模块、控制系统、低温容器、高温容器、机械运动部件，还包括：分别同时与所述低温容器和所述高温容器粘连的半导体制冷片，所述半导体制冷片与功率控制器连接，所述功率控制器与控制系统相连。

所述高温容器与所述低温容器上下放置，在所述高温容器和所述低温容器的上下接触面之间通过导热胶粘连所述半导体制冷片。

所述低温容器与所述高温容器向上开口，所述机械运动部件左右移动，通过转动滑轮带动实验电子元件出入所述低温容器开口与所述高温容器开口。

所述低温容器与所述高温容器中放置在下方的容器向上开口，放置在上方的容器向下开口，所述向上的开口与所述向下的开口相对，在所述开口的侧边封闭垂直的机械运动部件，所述机械运动部件上开有凹槽，实验电子元件通过在所述凹槽内上下移动出入所述低温容器开口与所述高温容器开口。

所述低温容器与所述高温容器左右放置，在所述低温容器和所述高温容器的左右接触面之间通过导热胶粘连所述半导体制冷片。

所述低温容器与所述高温容器中放置在左侧的容器向右开口，放置在右侧的容器向左开口，所述向左的开口与所述向右的开口相对，在所述开口的上面封闭平行的机械运动部件，所述机械运动部件上开有凹槽，实验电子元件通过在所述凹槽内左右移动出入所述低温容器开口与所述高温容器开口。

在所述容器的开口部位通过铰接连接容器盖；或

在所述容器的开口部位安装滑动连接门，所述滑动连接门沿左右方向移动打开所述开口或封闭所述开口。

在所述容器的开口部位通过铰接连接容器盖；或