[发明专利]金属膜电阻的检测装置及检测方法无效

专利信息
申请号: 200710201054.4 申请日: 2007-07-12
公开(公告)号: CN101344546A 公开(公告)日: 2009-01-14
发明(设计)人: 谢向兵;刘发印;李强 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 金属膜 电阻 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种金属膜电阻的检测装置,包括:

输入模块,用于与待测工件相接触,以获得待测工件的电阻值;

比较器,用于将所述待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较,并产生比较结果信号;

输出模块,用于根据所述比较结果信号将比较结果显示。

2.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置,其特征在于:所述金属膜电阻的检测装置还包括放大器,所述放大器与所述输入模块相连,用于将所述输入模块所传送的阻值信号进行放大,并将放大后的信号传给所述比较器。

3.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置,其特征在于:所述金属膜电阻的检测装置还包括连接于所述输入模块及所述比较器之间的模/数转换模块,所述模/数转换模块用于将所述输入模块所传送的模拟形式的阻值信号转换为数字阻值信号。

4.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置,其特征在于:所述金属膜电阻的检测装置还包括与所述比较器相连的阈值设置模块,所述阈值设置模块用于为所述比较器设置所述阈值,以提供所述比较器进行比较。

5.如权利要求4所述的金属膜电阻的检测装置,其特征在于:所述阈值设置模块包括:

档位选择开关,用于提供外界的档位调节操作;

档位存储器,用于存储与各档位相应的阻值阈值,所述档位存储器根据外界的档位调节操作为所述比较器设置相应的阻值阈值。

6.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置,其特征在于:所述输出模块还用于将所述待测工件的电阻值及所述阻值阈值输出。

7.一种金属膜电阻的检测方法,包括以下步骤:

获得待测工件的电阻值,并产生阻值信号;

将所述待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较,并产生比较结果;和将所述比较结果输出。

8.如权利要求7所述的金属膜电阻的检测方法,其特征在于:所述金属膜电阻的检测方法在所述获得待测工件的电阻值并产生阻值信号的步骤后进一步包括:

将所述阻值信号放大,以产生放大信号;和

将所述放大信号进行取样量化,转换为数字阻值信号。

9.如权利要求7所述的金属膜电阻的检测方法,其特征在于:所述金属膜电阻的检测方法在所述将待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较的步骤前进一步包括:

接收外界的档位选择操作;和

依据所述档位选择操作设置所述预定的阻值阈值。

10.如权利要求7所述的金属膜电阻的检测方法,其特征在于:所述金属膜电阻的检测方法还包括:将所述待测工件的电阻值与所述阻值阈值输出。

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