[发明专利]具有开关元件和两个二极管的半导体装置无效
申请号: | 200710162904.4 | 申请日: | 2007-09-27 |
公开(公告)号: | CN101236964A | 公开(公告)日: | 2008-08-06 |
发明(设计)人: | 广田庆彦;田所千广 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/488;H01L27/08;H02M1/00;H03K17/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;刘宗杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 开关 元件 两个 二极管 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,其特征在于,
具有开关元件、第1二极管、第2二极管,
所述开关元件的集电极与所述第1二极管的阴极电连接,或者所述开关元件的发射极与所述第1二极管的阳极电连接,
所述开关元件的集电极与所述第2二极管的阴极电连接,并且所述开关元件的发射极与所述第2二极管的阳极电连接,
所述第1二极管与所述第2二极管形成在同一衬底上。
2.如权利要求1的半导体装置,其特征在于,
所述第1二极管在所述衬底内具有第1阳极区域与第1阴极区域,并且,所述第2二极管在所述衬底内具有第2阳极区域与第2阴极区域,并且,所述第1以及第2阴极区域由一个杂质区域形成。
3.如权利要求2的半导体装置,其特征在于,
所述第1以及第2阳极区域彼此分离,并且,都形成在所述衬底的一个主面的所述一个杂质区域内。
4.如权利要求3的半导体装置,其特征在于,
所述第1阳极区域与所述第2阳极区域仅隔开所述一个杂质区域而邻接。
5.如权利要求3的半导体装置,其特征在于,
还具有其他杂质区域,形成在所述第1阳极区域与所述第2阳极区域之间的所述一个杂质区域内,并且,具有与所述一个杂质区域不同的导电类型。
6.如权利要求3的半导体装置,其特征在于,
还具有绝缘层,形成在所述第1阳极区域与所述第2阳极区域之间的所述一个杂质区域内。
7.如权利要求2的半导体装置,其特征在于,
所述第2阳极区域形成在所述衬底的一个主面上,并且,所述第1阳极区域形成在所述衬底的另一主面上。
8.如权利要求7的半导体装置,其特征在于,
还具有:阴极电极,以与所述一个杂质区域接触的方式形成在所述衬底的一个主面上;第1阳极电极,以与所述第1阳极区域接触的方式形成在所述衬底的另一主面上;第2阳极电极,以与所述第2阳极区域接触的方式形成在所述衬底的一个主面上,
从所述第1阳极电极朝向所述阴极电极的电流路径、和从所述第2阳极区域朝向所述阴极电极的电流路径被电分离。
9.如权利要求1的半导体装置,其特征在于,
所述第1二极管在所述衬底内具有第1阳极区域和第1阴极区域,并且,所述第2二极管在所述衬底内具有第2阳极区域和第2阴极区域,并且,由一个杂质区域形成所述第1以及第2阳极区域。
10.如权利要求9的半导体装置,其特征在于,
所述第1以及第2阴极区域彼此分离,并且,都形成在所述衬底的一个主面的所述一个杂质区域内。
11.如权利要求10的半导体装置,其特征在于,
所述第1阴极区域与所述第2阴极区域仅隔开所述一个杂质区域而邻接。
12.如权利要求10的半导体装置,其特征在于,
还具有其他杂质区域,形成在所述第1阴极区域与所述第2阴极区域之间的所述一个杂质区域内,并且,具有与所述一个杂质区域不同的导电类型。
13.如权利要求10的半导体装置,其特征在于,
还具有绝缘层,形成在所述第1阴极区域与所述第2阴极区域之间的所述一个杂质区域内。
14.如权利要求9的半导体装置,其特征在于,
所述第2阴极区域形成在所述衬底的一个主面上,并且,所述第1阴极区域形成在所述衬底的另一主面上。
15.如权利要求14的半导体装置,其特征在于,
还具有:阳极电极,以与所述一个杂质区域接触的方式形成在所述衬底的一个主面上;第1阴极电极,以与所述第1阴极区域接触的方式形成在所述衬底的另一主面上;第2阴极电极,以与所述第2阴极区域接触的方式形成在所述衬底的一个主面上,
从所述阳极电极朝向所述第1阴极电极的电流路径、和从所述阳极电极朝向所述第2阴极电极的电流路径被电分离。
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