[发明专利]静电放电保护电路和终端电阻电路有效
| 申请号: | 200710127509.2 | 申请日: | 2007-06-28 | 
| 公开(公告)号: | CN101097917A | 公开(公告)日: | 2008-01-02 | 
| 发明(设计)人: | 大塚宽治;宇佐美保;秋山丰;伊藤恒夫;丹场裕子 | 申请(专利权)人: | 大塚宽治;宇佐美保;秋山丰;伊藤恒夫;丹场裕子;富士通株式会社;京瓷株式会社;株式会社东芝;富士施乐株式会社 | 
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/60;H02H9/00;H05F3/00;H03K17/00 | 
| 代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 宋鹤 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 静电 放电 保护 电路 终端 电阻 | ||
1.一种静电放电保护电路,用于保护半导体器件的内部电路不受静电放电破坏,该静电放电保护电路包括:
一对晶体管,连接到两条线中的每条,所述两条线连接到所述半导体器件的外部端子并且差分信号通过所述两条线而传播,所述的一对晶体管在同一个阱中形成以便对施加到所述外部端子的所述静电放电进行箝位,其中
所述一对晶体管的漏极扩散区之间的距离被确定为使得在所述漏极扩散区之间迁移的电荷的迁移时间短于所述差分信号的转变时间。
2.如权利要求1所述的静电放电保护电路,其中
所述线是由一对传输线构成的。
3.如权利要求2所述的静电放电保护电路,其中
从所述一对传输线连接到所述一对晶体管的分支传输线的特性阻抗等于或小于所述一对传输线的特性阻抗。
4.如权利要求2所述的静电放电保护电路,其中
所述一对晶体管的导通电阻等于或小于所述一对传输线的特性阻抗。
5.如权利要求1所述的静电放电保护电路,其中
所述一对晶体管连接到电源/地对传输线,该电源/地对传输线的特性阻抗等于或小于所述一对晶体管的导通电阻。
6.如权利要求1所述的静电放电保护电路,其中
所述一对晶体管将所述静电放电箝位到电源和地中的一者或两者。
7.如权利要求6所述的静电放电保护电路,其中:
用于将所述静电放电箝位到所述电源的所述一对晶体管在同一个阱中形成,并且用于将所述静电放电箝位到所述地的另一对晶体管在同一个阱中形成。
8.如权利要求1所述的静电放电保护电路,其中:
在所述一对晶体管中,栅极是平行形成的,所述一对晶体管的漏极和第一源极是在所述栅极彼此面对的一侧上形成的,并且所述一对晶体管的每个第二源极是在跨过所述栅极中的每一个与所述第一源极和所述漏极相对的一侧上形成的。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大塚宽治;宇佐美保;秋山丰;伊藤恒夫;丹场裕子;富士通株式会社;京瓷株式会社;株式会社东芝;富士施乐株式会社,未经大塚宽治;宇佐美保;秋山丰;伊藤恒夫;丹场裕子;富士通株式会社;京瓷株式会社;株式会社东芝;富士施乐株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





