[发明专利]闪存的写入电路与其写入方法有效
申请号: | 200610161140.2 | 申请日: | 2006-12-07 |
公开(公告)号: | CN101197192A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
发明(设计)人: | 许哲豪 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/30 | 分类号: | G11C16/30;G05F3/26;G11C16/04;G11C16/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪存 写入 电路 与其 方法 | ||
1.一种闪存的写入电路,适用于进行一存储元件的写入动作,其特征在于,该写入电路包括:
一写入单元,用以输出一写入电流与一参考电压;以及
一侦测单元,耦接于该写入单元与该存储元件之间,用以导通该写入电流至该存储元件,并侦测该存储元件的一写入电压;
其中,在进行该存储元件的写入时,该存储元件的控制端接收一字元线电压,该字元线电压为定值,该写入单元经由该侦测单元,输出定值的该写入电流至该存储元件,以调整该存储元件的门槛电压,该存储元件的写入端输出该写入电压,当该存储元件的该写入电压对应于该参考电压时,则该侦测单元停止导通该写入电流至该存储元件。
2.如权利要求1项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该写入单元包括:
一电流镜,用以输出该写入电流。
3.如权利要求2项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该电流镜包括:
一第一P型晶体管,耦接于一工作电压与一电流源之间;以及
一第二P型晶体管,耦接于该工作电压与该侦测单元之间,该第一P型晶体管的栅极耦接于该第二P型晶体管的栅极,该第一P型晶体管的栅极亦耦接于该第一P型晶体管与该电流源的共享节点;
其中,该第二P型晶体管根据该电流源,输出相对应的该写入电流,该第一P型晶体管与该电流源的共享节点输出该参考电压。
4.如权利要求3项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该侦测单元包括:
一第一N型晶体管,该第一N型晶体管与一第N型晶体管耦接于该第二P型晶体管与该存储元件之间,且该第一N型晶体管的栅极耦接于一箝制电压;以及
一比较器,该比较器的一正输入端耦接于该第一P型晶体管与该电流源的共享节点,该比较器的一负输入端耦接至该第一N型晶体管与该第一P型晶体管的共享节点,并输出一控制电压至该第二N型晶体管的栅极。
5.如权利要求4项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中在进行该存储元件的写入时,该箝制电压致能。
6.如权利要求1项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该侦测单元包括:
一第一N型晶体管,该第一N型晶体管的一端耦接于该写入单元,该第一N型晶体管与该写入单元的共享节点输出一比较电压,且该第一N型晶体管的栅极耦接于一箝制电压;
一第二N型晶体管,耦接于第一N型晶体管与该存储元件之间,以及
一比较器,该比较器的一正输入端耦接于该参考电压,该比较器的一负输入端耦接于该比较电压,该比较器的输出端耦接至该第二N型晶体管的栅极;
其中,该写入单元经由该第一N型晶体管与该第二N型晶体管输出该写入电流至该存储单元,并使该比较电压对应于该写入电压,该比较器根据该比较电压与该参考电压,输出一控制电压至该第二N型晶体管,当该比较电压低于该参考电压时,该比较器关闭该第二N型晶体管。
7.如权利要求6项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中在进行该存储元件的写入时,该箝制电压致能。
8.如权利要求1项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该存储元件包括浮栅存储器,该浮栅存储器的漏极端耦接于该侦测单元,并输出该写入电压,该浮栅存储器的源极端耦接至一接地端,该浮栅存储器的控制栅极耦接于一字元线,并接收该字元线电压,该浮栅存储器的漏极为该存储元件的写入端,该浮栅存储器的控制栅极为该存储元件的控制端。
9.一种闪存的写入电路,适用于进行一存储器阵列的写入动作,该存储器阵列包括多个存储元件,其特征在于,该写入电路包括:
一写入单元,用以输出一写入电流与一参考电压;
一侦测单元,耦接于该写入单元,用以导通该写入电流至该些存储元件其中的一第一存储元件,并侦测该第一存储元件的一写入电压;以及
多个开关,耦接于该侦测单元与该些存储元件之间,用以选择该第一存储元件;
其中,在进行该第一存储元件的写入时,该第一存储元件的一字元线电压为定值,该写入单元经由该侦测单元,输出定值的该写入电流至该第一存储元件,以调整该第一存储元件的门槛电压,该第一存储元件的写入端输出该写入电压,当该第一存储元件的该写入电压对应于该参考电压时,则该侦测单元停止导通该写入电流至该第一存储元件。
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