[发明专利]闪存的写入电路与其写入方法有效

专利信息
申请号: 200610161140.2 申请日: 2006-12-07
公开(公告)号: CN101197192A 公开(公告)日: 2008-06-11
发明(设计)人: 许哲豪 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C16/30 分类号: G11C16/30;G05F3/26;G11C16/04;G11C16/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 闪存 写入 电路 与其 方法
【权利要求书】:

1.一种闪存的写入电路,适用于进行一存储元件的写入动作,其特征在于,该写入电路包括:

一写入单元,用以输出一写入电流与一参考电压;以及

一侦测单元,耦接于该写入单元与该存储元件之间,用以导通该写入电流至该存储元件,并侦测该存储元件的一写入电压;

其中,在进行该存储元件的写入时,该存储元件的控制端接收一字元线电压,该字元线电压为定值,该写入单元经由该侦测单元,输出定值的该写入电流至该存储元件,以调整该存储元件的门槛电压,该存储元件的写入端输出该写入电压,当该存储元件的该写入电压对应于该参考电压时,则该侦测单元停止导通该写入电流至该存储元件。

2.如权利要求1项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该写入单元包括:

一电流镜,用以输出该写入电流。

3.如权利要求2项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该电流镜包括:

一第一P型晶体管,耦接于一工作电压与一电流源之间;以及

一第二P型晶体管,耦接于该工作电压与该侦测单元之间,该第一P型晶体管的栅极耦接于该第二P型晶体管的栅极,该第一P型晶体管的栅极亦耦接于该第一P型晶体管与该电流源的共享节点;

其中,该第二P型晶体管根据该电流源,输出相对应的该写入电流,该第一P型晶体管与该电流源的共享节点输出该参考电压。

4.如权利要求3项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该侦测单元包括:

一第一N型晶体管,该第一N型晶体管与一第N型晶体管耦接于该第二P型晶体管与该存储元件之间,且该第一N型晶体管的栅极耦接于一箝制电压;以及

一比较器,该比较器的一正输入端耦接于该第一P型晶体管与该电流源的共享节点,该比较器的一负输入端耦接至该第一N型晶体管与该第一P型晶体管的共享节点,并输出一控制电压至该第二N型晶体管的栅极。

5.如权利要求4项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中在进行该存储元件的写入时,该箝制电压致能。

6.如权利要求1项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该侦测单元包括:

一第一N型晶体管,该第一N型晶体管的一端耦接于该写入单元,该第一N型晶体管与该写入单元的共享节点输出一比较电压,且该第一N型晶体管的栅极耦接于一箝制电压;

一第二N型晶体管,耦接于第一N型晶体管与该存储元件之间,以及

一比较器,该比较器的一正输入端耦接于该参考电压,该比较器的一负输入端耦接于该比较电压,该比较器的输出端耦接至该第二N型晶体管的栅极;

其中,该写入单元经由该第一N型晶体管与该第二N型晶体管输出该写入电流至该存储单元,并使该比较电压对应于该写入电压,该比较器根据该比较电压与该参考电压,输出一控制电压至该第二N型晶体管,当该比较电压低于该参考电压时,该比较器关闭该第二N型晶体管。

7.如权利要求6项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中在进行该存储元件的写入时,该箝制电压致能。

8.如权利要求1项所述的闪存的写入电路,其特征在于,其中该存储元件包括浮栅存储器,该浮栅存储器的漏极端耦接于该侦测单元,并输出该写入电压,该浮栅存储器的源极端耦接至一接地端,该浮栅存储器的控制栅极耦接于一字元线,并接收该字元线电压,该浮栅存储器的漏极为该存储元件的写入端,该浮栅存储器的控制栅极为该存储元件的控制端。

9.一种闪存的写入电路,适用于进行一存储器阵列的写入动作,该存储器阵列包括多个存储元件,其特征在于,该写入电路包括:

一写入单元,用以输出一写入电流与一参考电压;

一侦测单元,耦接于该写入单元,用以导通该写入电流至该些存储元件其中的一第一存储元件,并侦测该第一存储元件的一写入电压;以及

多个开关,耦接于该侦测单元与该些存储元件之间,用以选择该第一存储元件;

其中,在进行该第一存储元件的写入时,该第一存储元件的一字元线电压为定值,该写入单元经由该侦测单元,输出定值的该写入电流至该第一存储元件,以调整该第一存储元件的门槛电压,该第一存储元件的写入端输出该写入电压,当该第一存储元件的该写入电压对应于该参考电压时,则该侦测单元停止导通该写入电流至该第一存储元件。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于旺宏电子股份有限公司,未经旺宏电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610161140.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top