[发明专利]一种TFT矩阵结构及其制造方法有效
申请号: | 200610152022.5 | 申请日: | 2006-09-11 |
公开(公告)号: | CN101145561A | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
发明(设计)人: | 王章涛;邱海军;闵泰烨;林承武 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/84;G02F1/136 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100176北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tft 矩阵 结构 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种薄膜晶体管(TFT)矩阵结构及其制造方法,特别涉及一种由四次光刻制备的TFT矩阵结构及其制造方法。
背景技术
液晶显示方式是目前平板显示的主流,而有源驱动TFT LCD(薄膜晶体管液晶显示器)则是液晶显示领域中的主导显示方式。TFT LCD的制造工艺与传统的IC电路相兼容,显示品质优异,功耗低、重量轻、无辐射,是一种非常友好的人机交流界面,其主要应用领域有笔记本电脑、台式计算机监视器、工作站、工业监视器、全球卫星定位系统(GPS)、个人数据处理、游戏机、可视电话、便携式VCD、DVD及其它一些便携装置。
为了有效地降低TFT LCD的价格和提高其成品率,有源驱动薄膜晶体管(TFT)矩阵的制造工艺逐步得到简化,从开始的七次或六次光刻到现在普遍采用的五次光刻。近来, 基于灰色调掩模版光刻“Gray Tone Mask”技术的四次光刻工艺开始涉足TFT LCD的制造领域并逐步得到应用,其核心工艺就是用源漏电极(S/D)Gray Tone Mask代替传统五次光刻工艺中的有源层光刻(Active Mask)和源漏电极光刻(S/D Mask)。其具体工艺过程如下:首先,由第一次光刻形成栅电极,接着在栅电极上连续沉积一层栅绝缘层、有源层、欧姆接触层和源漏金属层。接着在第二次光刻后通过S/D湿法刻蚀、多步刻蚀(有源层刻蚀→灰化(Ashing)→Mo干法刻蚀→n+刻蚀)形成数据线、有源区、源漏电极和TFT沟道图形。然后沉积一层钝化层,由第三次光刻在钝化层上形成连接孔。最后沉积一层透明的像素电极层并由第四次光刻形成像素电极。
该四次光刻工艺相对于传统五次光刻工艺尽管取得了一些进步,但仍存在几个主要的缺点:一是多步刻蚀工艺复杂,开发难度大,而且不可避免地会产生一些缺陷,如金属Mo残留、沟道表面粗糙等。二是在Mo干法刻蚀中产生的侧向刻蚀将影响沟道的宽长比,导致TFT电学特性的改变,如开态电流偏低等。
发明内容
本发明针对现有技术的缺陷,提出了一种由四次光刻制备有源驱动TFT矩阵结构及其制造方法,从而缩短了TFT矩阵的生产周期,降低了其生产成本。
为了实现上述目的,本发明提供一种TFT矩阵结构,其中包括:
一基板;
一栅线和与其一体的栅电极,形成在所述基板上,栅线和栅电极的上方依次覆盖有第一层绝缘层、半导体层、欧姆接触层;
一薄膜晶体管沟道形成在所述栅电极上的欧姆接触层上;
一第二层绝缘层,形成在所述欧姆接触层上;
一源漏电极过孔,形成在所述薄膜晶体管沟道两侧的第二层绝缘层上;
一数据线及与其一体的源电极,形成在所述第二层绝缘层的上方,并通过所述源漏电极过孔与所述栅电极上的欧姆接触层连接;
一漏电极,形成在所述第二层绝缘层的上方,并通过所述源漏电极过孔与所述栅电极上的欧姆接触层连接;
一钝化层,形成在所述数据线、源电极及漏电极的上方;
一像素电极,形成在所述第二绝缘层上,并与所述漏电极部分搭接;
一凹槽,形成在所述数据线之间的栅线上,所述凹槽截断栅线上方的欧姆接触层并露出第一层绝缘层,所述凹槽露出第一绝缘层的上方覆盖一层像素电极材料层。
上述方案中,所述栅线、栅电极、源电极、数据线或漏电极为Cr、W、Ti、Ta、Mo、Al或Cu的单层膜,或者为Cr、W、Ti、Ta、Mo、Al或Cu之一或任意组合所构成的复合膜。所述第一层绝缘层、第二层栅绝缘层或钝化层为氧化物、氮化物或者氧氮化合物。
为了实现上述目的,本发明同时提供一种TFT矩阵结构的制造方法,其中包括:
步骤1,在基板上,依次沉积栅金属层、第一层绝缘层、半导体层和欧姆接触层,采用第一块掩模版,进行掩模、曝光和刻蚀,形成栅线、栅电极和薄膜晶体管沟道部分;
步骤2,在完成步骤1的基板上沉积第二层栅绝缘层,采用第二块掩模版,进行掩模、曝光和刻蚀后,将栅电极上方的欧姆接触层上的部分第二层栅绝缘层刻蚀掉,形成源漏电极过孔;同时将相邻像素间栅线上的部分第二层绝缘层刻蚀掉,形成一凹处;
步骤3,在完成步骤2的基板上沉积源漏金属层,采用第三块掩模版,进行掩模、曝光和刻蚀后形成源电极和漏电极,其中源电极和漏电极分别通过源漏电极过孔同欧姆接触层连接;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的