[发明专利]集成电路系统压合阻抗检测方法

权利要求书

1.一种集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：

步骤一，提供一集成电路系统，其包括一第一集成电路及一与该第一集成电路电连接的第二集成电路，该第一集成电路的两管脚与其对应连接的该第二集成电路的两管脚分别形成两支路，各支路由多个压合阻抗串联构成；

步骤二，将该第一集成电路的两管脚短接，该集成电路系统的接地端接地，从而使两支路与该集成电路系统的设计内阻构成一串联电路；

步骤三，在该第二集成电路的第一端子处输入一测试电压，在该第二集成电路的第二端子处侦测反馈电压，通过判断反馈电压大小来确定该集成电路系统压合阻抗是否合格。

2.如权利要求1所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：设定该集成电路系统所允许的压合阻抗最大值，依据测试电压等于该反馈电压与该压合阻抗所承受电压之和，计算该反馈电压的最小值。

3.如权利要求2所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特在于：判断该集成电路系统压合阻抗是否合格的判断步骤为：比较侦测得到的反馈电压与计算得到的反馈电压最小值，若反馈电压大于或等于该最小值，则该集成电路系统的压合阻抗不超过最大值，集成电路压合阻抗合格；反之，该集成电路系统压合阻抗不合格。

4.如权利要求3所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：利用一比较器比较该反馈电压与反馈电压最小值。

5.如权利要求4所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：利用一寄存器存储估算的反馈电压最小值，比较时，该比较器自该寄存器读取该反馈电压最小值。

6.一种集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：

步骤一，提供一集成电路系统，其包括一第一集成电路及一与该第一集成电路电连接的第二集成电路，该第一集成电路与该第二集成电路对应连接的两管脚之间形成一支路，该支路由多个压合阻抗串联构成，该支路与该集成电路系统的设计内阻构成一串联电路；

步骤二，输入一测试电压至该第一集成电路的一管脚，并自对应连接的第二集成电路的管脚处侦测反馈电压，通过判断反馈电压大小来确定该支路压合阻抗是否合格。

7.如权利要求6所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：设定该支路所允许的压合阻抗最大值，依据测试电压等于该反馈电压与该压合阻抗所承受电压之和，计算该反馈电压的最小值。

8.如权利要求7所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：判断该集成电路系统压合阻抗是否合格的判断步骤为：比较侦测得到的反馈电压与计算得到的反馈电压最小值，若反馈电压大于或等于该最小值，则该支路的压合阻抗不超过最大值，该支路的压合阻抗合格；反之，该支路压合阻抗不合格。

9.如权利要求8所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：利用一比较器比较该反馈电压与反馈电压最小值。

10.如权利要求9所述的集成电路系统压合阻抗检测方法，其特征在于：利用一寄存器存储估算的反馈电压最小值，比较时，该比较器自该寄存器读取该反馈电压最小值。