[发明专利]单晶硅的生长方法有效
| 申请号: | 200580050178.6 | 申请日: | 2005-12-01 |
| 公开(公告)号: | CN101203634A | 公开(公告)日: | 2008-06-18 |
| 发明(设计)人: | 稻见修一;高濑伸光;小暮康弘;滨田建;中村刚 | 申请(专利权)人: | 胜高股份有限公司 |
| 主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B15/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 孙秀武;李平英 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 单晶硅 生长 方法 | ||
1.一种单晶硅的生长方法,在通过卓克拉尔斯基法生长所述单晶硅时,在生长中的单晶硅的至少一部分负荷热应力,生长单晶的气氛气体含有含氢原子物质气体。
2.权利要求1所述的单晶硅生长方法,其中所述热应力为30MPa以上。
3.权利要求1所述的单晶硅生长方法,所述热应力为40Mpa以上。
4.权利要求1所述的单晶硅生长方法,所述含氢原子物质气体为氢气。
5.权利要求1所述的单晶硅生长方法,所述气氛气体中的含氢原子物质气体的氢分子分压为40~400Pa。
6.通过权利要求1~5任一项所述的单晶硅生长方法制造的单晶硅。
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