[发明专利]接合阻抗测量方法与测量结构有效
| 申请号： | 200410059781.8 | 申请日： | 2004-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN1712975A | 公开（公告）日： | 2005-12-28 |
| 发明（设计）人： | 何树林;王世杰 | 申请（专利权）人： | 瀚宇彩晶股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G02F1/133 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 臧建明;王玉双 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 接合 阻抗 测量方法 测量 结构 | ||
【权利要求书】：
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