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[发明专利]传感器封装模块和具有其的有机发光显示装置-CN201911251638.1有效
发明人：黄琮喜;李副烈;金垠廷 -专利权人：乐金显示有限公司
申请日： 2019-12-09 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G09G3/3233 文献下载
摘要：显示面板具有外部光穿过其的透射区和透射率低于透射区的透射率的非透射区。数据驱动器向显示面板提供数据信号。栅极驱动器向显示面板提供栅极信号。定时控制器控制数据驱动器和栅极驱动器。传感器封装模块设置在显示面板的后表面上且在与透射区对应的位置。堆叠在透射区中的导电膜的数量小于堆叠在非透射区中的导电膜的数量。
传感器封装模块具有有机发光显示装置

[发明专利]光拾波装置及信息处理装置-CN200780006493.8无效
发明人：若林宽尔;金马庆明;佐野晃正;和田秀彦;松崎圭一;田中俊靖 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2007-02-15 - 公布日： 2009-03-18 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明提供光拾波装置及信息处理装置，在光拾波装置具备的光束透射调节机构(110)中，具有第一透射率的第一透射元件(111)、和具有比第一透射率高的第二透射率的第二透射元件(112)，其配置位置被旋转驱动部另外，光束非透射侧的透射元件以相对于光轴倾斜的角度配置，因此，不会对扩散行进来的光束的进路造成阻碍。
光拾波装置信息处理

[发明专利]透射型彩色灰度卡、透射型彩色灰度卡装置以及灰色灰度卡-CN202080083129.7在审
发明人：前田晃宏;荻野芳彦;梶村阳一 -专利权人：大日本印刷株式会社
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G01J3/52 文献下载
摘要：本公开提供一种透射型彩色灰度卡，具有：彩色卡构件，具有至少一个透射光呈彩色的彩条；以及灰色灰度卡构件，具有透射光呈无彩色且明度不同的多个透射区域，上述彩色卡构件和上述灰色灰度卡构件层叠而成，以使得具有上述彩条和上述多个透射区域在俯视时重叠的重复透射区域
透射彩色灰度装置以及灰色

[发明专利]半透射半反射显示单元与其驱动方法-CN200810091394.0有效
发明人：李宜锦;杨长浩;陈建宏 -专利权人：奇美电子股份有限公司
申请日： 2008-05-08 - 公布日： 2009-11-11 - 主分类号： G02F1/1335 文献下载
摘要：一种半透射半反射显示单元与其驱动方法，上述半透射半反射显示单元包括第一反射区与透射区，其中透射区中具有第二反射区。通过调整第二反射区与第一反射区的面积比例，来调整半透射半反射显示单元的反射率，使其符合透射率与驱动电压的变化关系。
透射反射显示单元与其驱动方法

[发明专利]透明显示装置-CN202111461956.8在审
发明人：高兑熙;朴宣荣 -专利权人：乐金显示有限公司
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： H01L27/32 文献下载
摘要：透明显示装置包括：基板，设置有透射区域、在第一方向上设置在透射区域之间的第一非透射区域和在第二方向上设置在透射区域之间的第二非透射区域；第一信号线，在第一非透射区域中沿着第一非透射区域设置，并在与第一方向交叉的方向上从第一非透射区域与第二非透射区域彼此交叉的交叉区域延伸；和第二信号线，在第二非透射区域中沿着第二非透射区域设置并在与第二方向交叉的方向上从交叉区域延伸。两条相邻的第一信号线彼此对称，使透射区域插置在其间，并且两条相邻的第二信号线彼此对称，使透射区域插置在其间。
透明显示装置

[发明专利]一种针叶光谱观测方法-CN202310816471.9在审
发明人：王军;邱凤;钱伟 -专利权人：王军
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种针叶光谱观测方法，包括以下步骤：对针叶进行第一次积分球观测，获得叶片夹的第一反射率和第一透射率；将针叶的阴影面涂黑，进行第二次积分球观测，获得叶片夹的第二反射率和第二透射率；将针叶叶面全部涂黑，进行第三次积分球观测，获得叶片夹的第三透射率，进而获得叶片夹孔隙率，基于孔隙率将叶片夹的第一反射率、第一透射率、第二反射率和第二透射率转化为针叶的第一反射率、第一透射率、第二反射率和第二透射率，并获得针叶的后向反射、前向反射、后向透射和前向透射；基于后向反射、前向反射、后向透射和前向透射，获得针叶最终的反射率和透射率，完成观测。本发明能够获得准确率更高的针叶反射率和透射率。
一种针叶光谱观测方法

[发明专利]准全程补偿的激光回馈干涉仪-CN201610477872.6有效
发明人：张书练;徐玲 -专利权人：南京法珀仪器设备有限公司
申请日： 2016-06-27 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明提供一种准全程补偿的激光回馈干涉仪，包括：一激光模组输出两束同向且相互平行的激光；一分光镜使激光模组输出的两束激光透射后成为第一透射光及第二透射光；一声光移频模组对第一透射光及第二透射光进行移频；一汇聚透镜将第一透射光及第二透射光汇聚；一第一发散透镜将汇聚后的第一透射光及第二透射光分离；一准直模组使分离后的第一透射光及第二透射光准直且相互平行；一参考镜将第一透射光反射后沿原路返回第一激光器，第二透射光被待测目标反射后沿原路返回第二激光器
全程补偿激光回馈干涉仪

[发明专利]用于测量与目标相距的距离的接近传感器和方法-CN201480084280.7有效
发明人：马克·埃贝施佩谢尔;索兰·费里恰努 -专利权人：巴鲁夫公司
申请日： 2014-12-23 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： G01S7/02 文献下载
摘要：接近传感器(10)含供透射波(16)为输出信号(54)的微波振荡器(52)，接近传感器(10)沿目标(12)方向发射透射波(16)为自由空间透射波(16c)，导电或具导电表面的目标(12)反射自由空间透射波(16c)为自由空间反射波(30a)且接近传感器(10)接收自由空间反射波(30a)为反射波(30)，根据透射波(16)和反射波(30)确定距离(D)。透射波(16)在波导(22)引导为波导透射波(16b)。通过波模耦合透射波(16)到波导(22)中，波模导致波导(22)前端孔隙(26)处波导透射波(16b)分离成自由空间透射波(16c)且导致自由空间透射波(16c)传到目标(12)。接近传感器(10)和方法由以下区分：在波导(22)提供引导透射波(16)为波导透射波(16b)的发射路径(80)及从发射路径(80)电磁去耦并设置为引导反射波(30)为波导反射波(30b)的接收路径(82
用于测量目标相距距离接近传感器方法

[发明专利]准直器和制造准直器的方法-CN202211106172.8在审
发明人：梁容熏;徐东均;郑贤映 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G02B27/30 文献下载
摘要：所述准直器包括：透射图案，透射光；以及非透射层，设置在所述透射图案的至少一个侧表面上。所述非透射层包括低反射金属材料。
准直器制造方法

[发明专利]制造光学传感器的方法、光学传感器和包括其的照相机-CN201110242163.7有效
发明人：铃木隆典;小坂忠志;都筑幸司;松木康浩;长谷川真;中山明哉 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-08-23 - 公布日： 2012-03-21 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：所述制造光学传感器的方法包括：设置包含多个像素区域的半导体晶片；设置包含光透射晶片的光透射基板，其中所述光透射晶片上附接有多个光透射部件，所述多个光透射部件被布置在所述光透射晶片的第一主表面上，并且所述多个光透射部件中的每一个的α射线发射量小于或等于0.05c/cm2·h；通过固定部件将所述光透射基板固定到所述半导体晶片上；以及将被固定在一起的半导体晶片和光透射基板分成单独的件。
制造光学传感器方法包括照相机

[发明专利]灰调掩模缺陷检查方法及装置和光掩模缺陷检查方法及装置-CN02108247.2有效
发明人：中西胜彦 -专利权人：保谷株式会社
申请日： 2002-03-28 - 公布日： 2003-03-12 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种保证灰调掩模中灰调部的透射率的缺陷检查方法及缺陷检查装置。该缺陷检查方法，用来检查具有遮光部、透射部和灰调部的灰调掩模的缺陷，其中灰调部是调整透射量的区域，目的是减少透射过该区域的光的透射量而可选地改变光敏抗蚀剂的膜厚。使用扫描掩模内的图形所得到的透射率信号，针对该透射率信号7，设定灰调部中透射率缺陷的阈值为8a、8b，在超过该阈值8a、8b时，判断为灰调部中发生透射率缺陷。
灰调掩模缺陷检查方法装置光掩模

[发明专利]基于暗场成像的太赫兹成像方法及装置-CN201911152487.4有效
发明人：吴世有;刘辉;李超;常超;方广有 -专利权人：中国科学院电子学研究所
申请日： 2019-11-20 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：一种基于暗场成像的太赫兹成像方法及装置，该方法包括准直的太赫兹波束经目标透射后得到第一透射波束；第一透射波束传播距离f后经第一透镜调制后得到第二透射波束；第二透射波束传播距离f后经过频谱面的波束挡板后得到第三透射波束；第三透射波束传播距离f后经第二透镜调制后得到第四透射波束；第四透射波束传播距离f后被太赫兹相机接收后成像。
基于暗场成像赫兹方法装置

[发明专利]一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法-CN202010067583.5有效
发明人：魏大庆;邹永纯;杜青;郭舒;张宝友;来忠红 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2020-01-20 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： B08B7/00 文献下载
摘要：一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法，本发明涉及清理透射电子显微镜光阑的方法。本发明要解决现有透射电子显微镜中的光阑污染及堵塞后无法清理的问题。方法：一、透射电子显微镜光阑固定与区域观察；二、透射电子显微镜光阑粗加工；三、透射电子显微镜光阑细加工；四、透射电子显微镜光阑精加工，即完成聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法。本发明适用于清理透射电子显微镜光阑。
一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑方法

[发明专利]光照射设备-CN201410831829.6在审
发明人：沈亨基;白圣焕;金圣进;车恩熙 -专利权人： AP系统股份有限公司;三星显示有限公司
申请日： 2014-12-26 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：所述光照射设备包含透射窗，光透射穿过所述透射窗；收集器，设置在透射窗上方并且向上倾斜到透射窗的外部，收集器使在从所述衬底反射之后透射穿过透射窗的反射光偏移；以及冷却块，在冷却块中制冷剂在其中循环，冷却块设置在收集器中以冷却所述收集器因此，根据实施例，因为收集器设置在透射窗上方并向上倾斜到透射窗的外部，并且在收集器的底表面上形成了突出部，所以可抑制或最小化反射光的漫反射。并且，收集器可将反射光朝所述透射窗的外部引导以防止从衬底S反射的反射光再入射到透射窗中。因此，可抑制由所述透射窗的温度失衡和温度升高造成的不均和光移位的产生。
照射设备

[发明专利]具有对准调整装置的光学系统-CN201280046379.9无效
发明人： G·亚布雷 -专利权人： FCI公司
申请日： 2012-09-26 - 公布日： 2014-05-28 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学系统（10），其包括：光学电路板（12）、光耦合系统（15），其中所述光学电路板（12）具有透射区域（48），所述光耦合系统（15）包括第一透射区域（64）和第二透射区域（68），所述第一透射区域（64）光耦合到所述光学电路板（12）的透射区域（48），所述第二透射区域（68）适于光耦合到配合光学器件（14）的透射区域（60），所述第一和第二透射区域（64、68）仅仅彼此光学结合。15）还包括光耦合器件（16）、反射装置（18）、对准调整装置（20），其中所述对准调整装置（20）适于在这样的两个位置之间移动所述反射装置（18），在其中一个位置中所述反射装置（18）不在第一和第二透射区域（64、68）之间透射光；在另一个位置中所述反射装置（18）在第一和第二透射区域（64、68）之间透射光。
具有对准调整装置光学系统