专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种多功能测线器-CN200820048548.3有效
  • 刘南方 - 广东威创视讯科技股份有限公司
  • 2008-05-30 - 2009-04-08 - G01R31/02
  • 本实用新型提供了一种多功能测线器,包括主、从测线器,主、从测试头以及直通网线Ⅰ、直通网线Ⅱ,主、从测线器分别通过直通网线Ⅰ、直通网线Ⅱ与主、从测试头相应连接,所述主、从测试头的规格相配,所述主、从测试头分别为两个以上,且所述主、从测线器分别通过直通网线Ⅰ、直通网线Ⅱ按EIA/TIA568B的标准与所述各个主、从测试头相应连接。所述多功能测线器可以测试以下多种线缆:VGA、RS-232、RS-422、RJ-45、RJ-11、BNC、RGBHV,结构简单、操作方便、成本低,从而更能满足大规模、大数量的测试工程的需要。
  • 一种多功能测线器
  • [实用新型]一种正负压气密测试系统-CN202221943314.1有效
  • 席飞;孔德成;王永刚 - 青岛昌誉密封有限公司
  • 2022-07-27 - 2022-11-22 - G01M3/26
  • 本实用新型公开了一种正负压气密测试系统,涉及气密性测试系统技术领域。所述正负压气密测试系统,包括:正压气密测试系统、负压气密测试系统、压力检测件和测试腔体;所述正压气密测试系统包括气源、电气比例阀、直通式两通电磁阀Ⅰ和直通式两通电磁阀Ⅱ;所述负压气密测试系统包括真空泵和直通式两通电磁阀Ⅲ;所述气源与电气比例阀的进气口连接,所述电气比例阀的出气口与直通式两通电磁阀Ⅰ的出气口连接,所述直通式两通电磁阀Ⅰ的进气口与直通式两通电磁阀Ⅱ的进气口连接。本实用新型,通过各结构的配合设计,不需要更换管路,即可通过一套正负压气密测试系统,实现密封腔体正负压气密性的交替测试,简单方便。
  • 一种正负压气测试系统
  • [实用新型]一种LTCC滤波器测试夹具-CN201520398545.2有效
  • 任翔;张一治;李静 - 航天科工防御技术研究试验中心
  • 2015-06-10 - 2015-11-18 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了一种LTCC滤波器测试夹具,包括测试板为一长方形电路板,测试板上下两表面均镀有金属层,测试板电性连接至待测LTCC滤波器并用于测试待测LTCC滤波器的器件性能;直通校准板为一长方形电路板,直通校准板与测试板平行且前后相邻放置,直通校准板上下两表面均镀有与测试板上金属层等厚度的金属层,直通校准板用于校准测试板的测量值并减小测试板的测量误差;四个同轴转微带高频转接器分别焊接于测试板与直通校准板的左右两端,四个同轴转微带高频转接器的一端连接至同轴电缆,另一端连接至测试板与直通校准板表面的金属镀层,四个同轴转微带高频转接器用于将同轴模式信号转化为微带线模式信号。
  • 一种ltcc滤波器测试夹具
  • [实用新型]一种微带隔离器测试夹具-CN201520398542.9有效
  • 李静;任翔;张一治 - 航天科工防御技术研究试验中心
  • 2015-06-10 - 2015-11-04 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了一种微带隔离器测试夹具,包括测试板,为一长方形电路板,测试板上下两表面均镀有金属层,测试板电性连接至待测微带隔离器并用于测试待测微带隔离器的器件性能;直通校准板,为一长方形电路板,直通校准板与测试板平行且前后相邻放置,直通校准板上下两表面均镀有与测试板上金属层等厚度的金属层,直通校准板用于校准测试板的测量值并减小测试板的测量误差;四个同轴转微带高频转接器,分别焊接于测试板与直通校准板的左右两端,四个同轴转微带高频转接器的一端连接至同轴电缆,另一端连接至测试板与直通校准板表面的金属镀层,四个同轴转微带高频转接器用于将同轴模式信号转化为微带线模式信号。
  • 一种微带隔离器测试夹具
  • [发明专利]电缆线检测方法及检测装置-CN202211376872.9在审
  • 王扣成;梁飞云;周灿;蔡晓峰 - 立臻科技(昆山)有限公司
  • 2022-11-04 - 2023-01-31 - G01R31/00
  • 电缆线检测方法应用于检测包括多条导线的电缆线的电缆线检测装置,且包括:输出测试电信号至导线的一端依序进行直通测试、过压过流保护测试和短路测试;若所述直通测试异常,输出测试电信号至所述导线的另一端依序进行另一直通测试、另一过压过流保护测试和另一短路测试测试;若所述另一直通测试异常,输入测试电信号至连接所述导线的另一端的第二半导通检测电路进行半导通自检;若所述半导通自检异常,输入测试电信号至连接所述导线的一端的第一半导通检测电路进行另一半导通自检;若依序通过直通、过压过流保护和短路测试或通过半导通自检,则对下一条导线进行检测,直到完成电缆线的各条导线的检测。
  • 电缆线检测方法装置
  • [发明专利]射频噪声去嵌入方法-CN201010533065.4有效
  • 黄景丰 - 上海华虹NEC电子有限公司
  • 2010-11-05 - 2012-05-23 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种射频噪声去嵌入方法,包括步骤:在硅片上形成被测试器件结构、开路去嵌测试结构、直通去嵌测试结构;分别测试得到被测试器件结构、开路去嵌测试结构以及直通去嵌测试结构的散射参数,测试得到被测试器件结构的噪声参数;利用各散射参数以及被测试器件结构的噪声参数进行去嵌入计算得到射频器件的噪声参数。其中是通过直通去嵌测试结构的信号间金属线的散射参数计算得到纯金属线的归一化特征阻抗和传播常数后再计算出被测试器件结构的输入端金属线或输出端金属线的ABCD参数。本发明方法能大大减少硅片上直通去嵌测试结构的数量、节省硅片面积、减少测试时间、大大降低成本。
  • 射频噪声嵌入方法
  • [发明专利]一种太赫兹器件在片测试去嵌方法-CN202211151158.X在审
  • 陈阳;曾晓楠;张勇 - 电子科技大学
  • 2022-09-21 - 2022-12-09 - H01L21/66
  • 本发明公开一种太赫兹器件在片测试去嵌方法,属于太赫兹器件技术领域,采用测试结构测试待测器件S参数,分别测试测试结构对应的半直通标准件、直通标准件、开路标准件和带过孔结构的直通标准件的S参数,对应转换为T参数;利用半直通标准件和直通标准件,求解GSG PAD寄生和互联传输线寄生;利用开路标准件和带过孔的直通标准件,求解传输线间耦合寄生和过孔地板寄生;待测器件的T参数依次剥离GSG PAD寄生、互联传输线寄生本发明有效剥离太赫兹频段测试结构带来的复杂寄生效应,获得待测器件的真实参数,具有去嵌精度高,结构简单,可准确表征太赫兹器件特性的特点。
  • 一种赫兹器件测试方法
  • [发明专利]一种实现无源器件测试的装置-CN201410274045.8有效
  • 姜雪松;董鹏;邵春菊 - 中国移动通信集团公司
  • 2014-06-18 - 2017-09-15 - H04B17/15
  • 本发明提供了一种实现无源器件测试的装置,该装置包括信源模块,用于生成一路或多路满足预设条件的测试用源信号,其中,测试用源信号为互调测试用源信号或者功率容量测试用源信号;与信源模块连接的合路模块,用于当测试用源信号为多路时,对测试用源信号进行合路;与合路模块连接的双工模块,用于将一路测试用源信号或合路后信号传送给被测无源器件,并接收被测无源器件反射的测试用反射信号及经过被测无源器件传出的测试直通信号,其中测试直通信号的互调测试直通信号和功率测试直通信号通过不同端口进行传输;与双工模块连接的接收模块,用于根据互调测试或功率容量测试类别对接收的信号进行选择后进行测量和分析,得到测试结果。
  • 一种实现无源器件测试装置
  • [发明专利]一种综合布线工具箱-CN201510277669.X在审
  • 胡耀民;陈长辉 - 广州番禺职业技术学院
  • 2015-05-27 - 2015-11-11 - B25H3/02
  • 由箱体和箱盖组成,箱体和箱盖通过绞轴连接,在箱体上设置有密码锁下盖,在箱盖上设置有密码锁,箱体上设置有把手,在箱体内设置有工具的保护棉,在工具的保护棉上设置有工具摆放的位置凹槽,其特征在于:工具箱箱体内嵌入直通线、交叉线的测试区域,测试区域设置有直通线、交叉线的测试电路,工具箱箱盖内侧印有直通线、交叉线的制作流程图。本发明提供多种实用布线工具的存放空间,并在工具箱箱盖内侧印有直通线、交叉线的制作流程图,引导用户高效组合布线工具。另外,工具箱内嵌入一种直通线、交叉线的测试电路来测试交叉线,克服交叉线测试效率低、易出错的缺点。
  • 一种综合布线工具箱

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