专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于测定钢带热辐射系数的方法-CN201310373534.4有效
  • 孔凡庆;乔建军;闻达;娄德诚;贾松;王树岗;何研忠 - 首钢总公司
  • 2013-08-23 - 2013-12-11 - C21D11/00
  • 本发明公开了一种用于测定钢带热辐射系数的方法,包括:选取已知热辐射系数的第一钢带通过退火炉,记录退火温度T1;选取待测热辐射系数的第二钢带通过退火炉,记录退火温度T2;调整退火温度T2的数值,实现T2=T1;记录T2=T1时第二钢带的热辐射系数测量值;其中,第一钢带、第二钢带结构参数相同。本发明实现了在连续生产作业过程中,即低碳钢后接高强钢时稳定控制退火炉退火温度,克服了因生产合金元素较高的高强钢时钢带表面热辐射系数发生变化(与普通低碳钢相差较大)而造成的测量温度不准确的问题。
  • 用于测定热辐射系数方法
  • [发明专利]热辐射检测阵列的缺陷状态的诊断方法和设备-CN201410364900.4有效
  • 阿兰·杜兰德;奥雷利·图维尼翁 - ULIS股份公司
  • 2014-07-28 - 2018-09-07 - G01J5/20
  • 本发明提供一种热辐射检测阵列的缺陷状态的诊断方法和设备。其用于诊断热辐射检测器的信号形成用链的缺陷状态的方法,检测器包括热辐射计的阵列,其中各链包括热辐射计、链的电气刺激电路和根据所施加的刺激来形成信号的电路,方法包括在阵列上形成大致均匀场景的图像;向链应用至少不同的第一刺激和第二刺激;读取所形成的信号;以及对于各链,定义由具有与热辐射计相邻的热辐射计形成的邻域;计算对由该链形成的信号的值插值的多项式的系数;计算对由相邻链形成的信号的值进行插值的多项式的系数;计算相邻链或由相邻链和该链形成的组的系数平均值和标准偏差;以及在系数的值在根据平均值和标准偏差所定义的余量外的情况下,诊断为该链有缺陷。
  • 热辐射检测阵列缺陷状态诊断方法设备
  • [实用新型]热辐射散热薄膜结构-CN201020209033.4无效
  • 陈烱勋 - 景德镇正宇奈米科技有限公司
  • 2010-05-31 - 2011-05-11 - H01L33/52
  • 本实用新型公开了一种热辐射散热薄膜结构,包括基板及热辐射散热薄膜,热辐射散热薄膜形成于基板上,基板具电气绝缘性,且基板及热辐射散热薄膜的热膨胀系数之间的差额比不大于0.1%。热辐射散热薄膜由包含金属及非金属的结晶体所构成,且具有表面显微结构。由于热辐射散热薄膜可藉热辐射方式在朝向基板的方向上进行热传播,可大幅改善散热效率,使得位于基板之外的外部对象的温度可不小于热辐射散热薄膜的温度。
  • 热辐射散热薄膜结构
  • [发明专利]一种气动热辐射指纹库的建立方法及其应用-CN201210594906.1有效
  • 张天序;刘立;关静;周钢;左芝勇;朱生国;王正;何力 - 华中科技大学
  • 2012-12-31 - 2013-05-08 - G06T5/00
  • 本发明公开了一种气动热辐射指纹库的建立方法,包括:(1)获取红外成像系统的多幅气动热辐射退化图像,形成气动热辐射退化图像序列;(2)求取气动热辐射退化图像序列中的每一幅图像与基准图像之差值即差值图像;(3)对每一幅图像的差值图像进行二维曲面拟合,获得其在对应热流密度下的二维曲面多项式;(4)对多个二维曲面多项式中相同项的系数进行处理,通过拟合建立各相同项的系数关于热流密度的关系式,即确定为气动热辐射指纹库本发明还公开了通过上述方法建立的指纹库在校正热辐射图像中的应用。本发明的方法能有效降低气动热辐射产生的背景噪声并提高气动热环境中的图像质量。
  • 一种气动热辐射指纹建立方法及其应用
  • [发明专利]热辐射散热薄膜结构及其制作方法-CN201010181772.1无效
  • 陈烱勋 - 景德镇正宇奈米科技有限公司
  • 2010-05-25 - 2011-11-30 - H01L23/373
  • 本发明公开了一种热辐射散热薄膜结构及其制作方法,所述热辐射散热薄膜结构包括基板及热辐射散热薄膜,热辐射散热薄膜形成于基板上,基板具电气绝缘性,且基板及热辐射散热薄膜的热膨胀系数之间的差额比不大于0.1%热辐射散热薄膜由包含金属及非金属的结晶体所构成,且具有表面显微结构。热辐射散热薄膜将包含所需金属与非金属的组合物,利用高压涂布方式而涂布在已加热的基板上而形成。由于热辐射散热薄膜可藉热辐射方式在朝向基板的方向上进行热传播,可大幅改善散热效率,使得位于基板之外的外部对象的温度可不小于热辐射散热薄膜的温度。
  • 热辐射散热薄膜结构及其制作方法
  • [发明专利]一种基于双光电探测器的热辐射诊断系统和方法-CN202110390096.7有效
  • 程芝峰;焦少东;张晓龙;陈志鹏;李琼 - 华中科技大学
  • 2021-04-12 - 2022-01-25 - G01J5/00
  • 本发明涉及一种基于双光电探测器的热辐射诊断系统和方法,包括双光电探测模块、光电流前置放大模块、接口传输模块和采集处理模块;双光电探测模块获取双探测光电流信号序列;光电流前置放大模块将双探测光电流信号序列转换为双探测电压信号序列;采集处理模块根据双探测电压信号序列得到探测信号比值序列;对待诊断等离子体进行热辐射仿真,得到修正系数函数关系;根据修正系数函数关系和探测信号比值序列,得到修正系数值序列;并根据修正系数值序列进行修正,得到热辐射诊断值序列。本发明能满足不同等离子体电子温度下的热辐射量的测量,能在保证测量精度的同时还具有良好的时间分辨率,极其适用于微秒量级的快辐射行为。
  • 一种基于光电探测器热辐射诊断系统方法

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