[发明专利]热辐射检测阵列的缺陷状态的诊断方法和设备

摘要

本发明提供一种热辐射检测阵列的缺陷状态的诊断方法和设备。其用于诊断热辐射检测器的信号形成用链的缺陷状态的方法，检测器包括热辐射计的阵列，其中各链包括热辐射计、链的电气刺激电路和根据所施加的刺激来形成信号的电路，方法包括在阵列上形成大致均匀场景的图像；向链应用至少不同的第一刺激和第二刺激；读取所形成的信号；以及对于各链，定义由具有与热辐射计相邻的热辐射计形成的邻域；计算对由该链形成的信号的值插值的多项式的系数；计算对由相邻链形成的信号的值进行插值的多项式的系数；计算相邻链或由相邻链和该链形成的组的系数平均值和标准偏差；以及在系数的值在根据平均值和标准偏差所定义的余量外的情况下，诊断为该链有缺陷。

主权项

1.一种诊断热辐射检测器(10)的信号形成用链的缺陷状态的方法，所述热辐射检测器(10)包括悬挂在基板的上方的检测用热辐射计(16)的阵列(12)，其中各链包括所述阵列(12)的热辐射计(16)、所述链的电气刺激电路(18)和用于根据利用所述电气刺激电路(18)应用于所述链的刺激来形成信号的电路(22,28)，所述方法包括以下步骤：a.在所述热辐射计(16)的所述阵列(12)上形成大致均匀场景的图像(108)；b.向所述链应用不同的至少第一刺激和第二刺激(110)；c.读取由与所应用的刺激相对应的链所形成的信号(112)；以及d.对于要诊断的预定一组链中的各链，进行以下操作：■定义由具有与该链的检测用热辐射计近邻的检测用热辐射计(16)的链形成的邻域(132)；■根据所应用的至少一个所述第一刺激和所述第二刺激来计算对由该链形成的信号的值进行插值的多项式的系数(130)；■针对该链的所述邻域的各链，根据所应用的至少一个所述第一刺激和所述第二刺激来计算对由所述邻域的链形成的信号的值进行插值的多项式的系数(130)；■计算所计算出的所述邻域的链或者由该链和所述邻域的链形成的一组链的所述系数的平均值和标准偏差(132)；以及■在所述系数的值在根据所计算出的平均值和标准偏差所定义的余量外的情况下，诊断为该链有缺陷(136)。