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[发明专利]手机射频指标串并行测试方法和系统-CN201610027202.4有效
发明人：杨洪高;陈海燕;任立超 -专利权人：青岛海信移动通信技术股份有限公司
申请日： 2016-01-15 - 公布日： 2019-05-17 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：本发明提出一种手机射频指标串并行测试方法和系统，解决一对多测试中存在的测试代码开发重复性工作增大工作量的技术问题。方法包括：测试脚本文件运行到发射测试节点后，调用串并行控制动态链接库中的串行发射测试控制模块控制N部手机执行串行发射测试；测试脚本文件运行到接收测试节点后，调用串并行控制动态链接库中的并行接收测试控制模块控制N部手机执行并行接收测试。在测试脚本文件中嵌入发射测试节点和接收测试节点，运行至节点时，从串并行动态链接库调用串行发射测试控制模块和并行接收测试控制模块来对串行发射测试和并行接收测试进行调度控制，省去了设计测试代码时在多个模块中重复设计串行发射测试调度和并行接收测试调度的步骤
手机射频指标并行测试方法系统

[发明专利]一种并行接口功能测试装置、方法及系统-CN202310503691.6在审
发明人：王磊;陈金龙 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-05-06 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及并行接口测试领域，具体公开一种并行接口功能测试装置、方法及系统，对接并行接口接收待测并行接口传输的测试数据，并由测试控制芯片配置状态引脚的电平；电压适配器适配待测并行接口与测试控制芯片之间的电平；测试控制芯片用于配置对接并行接口的状态引脚电平，以对待测并行接口的状态引脚进行功能检测，并在测试数据传输过程中获取对接并行接口的数据通道引脚电平，以对待测并行接口的数据通道引脚进行功能检测，且获取对接并行接口的接地引脚电平，以对待测并行接口的接地引脚进行功能检测。本发明能够满足同时测试多个并行接口，覆盖并行接口所有引脚的测试，覆盖率高，效率高，且支持打印协议，使用简单，成本低。
一种并行接口功能测试装置方法系统

[发明专利]并行源代码生成、编译及驱动执行的测试方法-CN201210380728.2有效
发明人：吴利;董超群;徐小春;司品超;何曼;张超容 -专利权人：无锡江南计算技术研究所
申请日： 2012-10-09 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G06F9/44 文献下载
摘要：本发明提供的一种并行源代码生成、编译及驱动执行的测试方法包括：测试流程控制模块、生成用例并行源代码模块以及运行和监控用例并行作业模块；其中，所述生成用例并行源代码模块用于在所述测试流程控制模块的驱动下，分析和解析测试用例配置得到并行源代码生成配置和并行编译选项配置，接受测试流程控制模块传递的全局并行编译选项，生成所需的用例并行源代码和Makefile文件；并且，所述运行和监控用例并行作业模块用于在所述测试流程控制模块的驱动下，分析和解析测试用例配置以得到并行作业运行前准备配置和并行作业运行配置，接受所述测试流程控制模块传递的全局并行作业提交选项和并行作业状态监控选项，运行和控制并行作业运行。
并行源代码生成编译驱动执行测试方法

[发明专利]使用单个存储器用于并行和扫描方式测试的集成电路测试系统-CN98809198.4有效
发明人：威廉·麦坎德利斯;玛丽C·斯托克;雷蒙德·斯特鲁布尔;欧内斯特P·沃克 -专利权人：泰拉丁公司
申请日： 1998-09-14 - 公布日： 2004-03-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种半导体测试系统具有扫描测试方式和并行测试方式。单个存储器使用其所有存储空间储存a)在并行测试方式过程中使用的并行测试矢量，和b)在扫描测试方式过程中使用的并行测试矢量和扫描测试矢量。开关用于从并行测试方式改变为扫描测试方式。耦合到单个存储器的模式发生器操纵在并行测试方式过程中使用的并行测试矢量和在扫描测试方式过程中使用的并行和扫描测试矢量。通过交替存取该存储器和从该存储器并行读出测试矢量，提高了扫描测试方式的速度。通过产生多个扫描链并将其施加于被测器件(DUT)的多个管脚，可以进一步减少处理时间。
使用单个存储器用于并行扫描方式测试集成电路系统

[发明专利]一种卫星多数传通道指标并行自动化测试系统-CN201810623238.8有效
发明人：吴扬;刘洋;周军;徐犇 -专利权人：上海卫星工程研究所
申请日： 2018-06-15 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： H04B17/30 文献下载
摘要：本发明提供了一种卫星多数传通道指标并行自动化测试系统，包括：并行测试调度计算机、测试管控计算机、链路箱和测试资源；并行测试调度计算机根据测试任务和测试资源情况，按总时间最短原则完成并行测试序列的生成；测试管控计算机用于解析并行测试序列，生成并行测试指令队列，按照指令队列的时间节拍完成对链路箱、测试资源的控制与调配；链路箱内部为开关矩阵，用于完成各数传通道与测试资源之间的链路切换；测试资源为各测试设备的统称，用于完成具体的指标测试。本发明可利用一套测试资源完成多个数传通道指标的并行、自动化测试，节约测试资源，并可有效缩短测试时间。
一种卫星多数通道指标并行自动化测试系统

[发明专利]一种半导体器件的电性能参数自动并行测试方法及系统-CN202211694404.6在审
发明人：孙召璞 -专利权人：上海精积微半导体技术有限公司
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体器件的电性能参数自动并行测试方法及系统，该半导体器件的电性能参数自动并行测试方法包括：基于目标分析单元中的测试端口，对每个目标分析单元中的所有待测器件进行两两组合判别，以获取相应目标分析单元若干层级的并行测试组，且并行测试组中的待测器件之间没有共用的测试端口。本发明通过将每一个测试单元中的所有待测器件进行两两组合判别，以获取相应测试单元若干层级的并行测试组，并行测试组中的待测器件之间没有共用的测试端口，生成对所有测试单元的待测器件进行自动并行测试的新的测试文件，实现了对半导体器件的电性能参数自动并行测试的目的，降低了测试操作的难度，提高了测试效率。
一种半导体器件性能参数自动并行测试方法系统

[发明专利]测试信号并行加载转换电路和系统级芯片-CN202110072490.6有效
发明人：马海英 -专利权人：北京燧原智能科技有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试信号并行加载转换电路和系统级芯片。测试信号并行加载转换电路，包括：相连的片外测试信号接收模块和片内并行加载模块；片外测试信号接收模块，用于按照片外时钟速率从多个扫描测试管脚处接收并行测试信号，并按照片内时钟速率将并行测试信号传输至片内并行加载模块；片内并行加载模块，用于对接收的所述并行测试信号进行信号重组，并将重组信号编码成符合NOC标准协议的标准测试信号流，以对片上至少一个目标IP核进行功能性测试。本发明实施例的技术方案可以有效的防止早期测试阶段对制造缺陷的漏检情况的发生，也可以大大的降低产品的测试成本。
测试信号并行加载转换电路系统芯片

[发明专利]在线测试期间闪存的并行编程-CN200710102996.7无效
发明人：格雷格·阿米登;萨米勒·阿西姆·阿登米尔;格雷格·托帕姆 -专利权人：怀斯特尔技术有限公司
申请日： 2007-05-08 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明描述了一种在进行在线测试期间对闪存器件并行编程的方法和系统。并行处理器件位于在线测试器(ICT)的测试夹具内，该在线测试器用于每个连接至该测试夹具的印制电路板(PCB)。并行处理器件控制ICT和PCB之间的通信。并行处理器件有助于对通过在线测试的闪存器件进行并行编程。并行处理器件防止对没有通过在线测试的闪存器件进行编程。
在线测试期间闪存并行编程

[发明专利]串并行测试方法、装置、电子设备和存储介质-CN202310573331.3在审
发明人：孙亚;邢科钰 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-05-19 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种串并行测试方法、装置、电子设备和存储介质，属于计算机技术领域，其中，串并行测试方法包括：对多个测试用例进行并行排配，得到目标排布方案；基于目标排布方案，生成多条并行线，其中每条并行线上包含目标排布方案中的一组测试用例集；基于多条并行线，生成多条串行线，其中每条串行线上的测试用例对应的测试类型相同；生成目标排布方案中各个测试用例对应的引导文件；基于引导文件，按照多条串行线的测试顺序启动多条并行线上的测试。本发明能够对多个测试用例进行统一排配和自动化测试，提高了测试效率，降低了测试成本，测试结果的通用性强。
并行测试方法装置电子设备存储介质

[发明专利]软件测试方法、装置及系统-CN202310674937.6在审
发明人：林端 -专利权人：科东（广州）软件科技有限公司
申请日： 2023-06-07 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提出一种软件测试方法、装置及系统，该方法包括：加载且多次并行运行多个待测试模块，获得每个待测试模块单次并行运行的时间；根据时间确定并行运行多个待测试模块的并行运行时间和串行运行每个待测试模块的初始运行次数；基于并行运行时间和初始运行次数，多次循环交替执行多个待测试模块的并行运行和串行运行，当串行运行中待测试模块的运行次数符合测试结束条件，则测试结束；其中，下次循环交替中串行运行的运行次数根据当前循环中并行运行和串行运行的测试结果和当前循环中串行运行每个待测试模块的运行次数确定本申请可以提高多个模块下软件测试的速度和测试的效率。
软件测试方法装置系统

[发明专利]一种测试程序集生成方法及系统-CN202210782903.4在审
发明人：沈海阔;刘文韬;刘恒坤 -专利权人：北京交通大学
申请日： 2022-07-05 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F8/20 文献下载
摘要：本发明公开一种测试程序集生成方法及系统，步骤：采集测试要素：所述测试要素包括测试任务、测试资源和测试时间；根据测试任务的抽象模型生成所述测试资源约束下的并行测试流程，然后对并行测试流程进行循环迭代和仿真；通过多种优化算法生成多种并行测试流程；将所述多种并行测试流程进行对比分析与优化组合，生成最优测试流程；绘制全部测试任务的最优测试流程生成并行的测试程序集。本发明可根据任务的抽象描述和测试资源约束实现一种或多种测试程序集自动生成算法，以降低这一系统各项测试所带来的巨大工作量，寻找最适合测试系统的方案，使并行测试流程的效率达到最优。
一种测试程序生成方法系统

[发明专利]一种并行测试方法及并行测试服务器-CN201110021778.7有效
发明人：曾一迅 -专利权人：阿里巴巴集团控股有限公司
申请日： 2011-01-19 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种并行测试的方法及并行测试服务器，主要内容包括：通过文件配置方式来指定待执行的测试用例，并将待执行的测试用例进行划分，分别利用为划分得到的各组配置的系统资源，并行运行组内的多个测试用例，以达到多个测试用例并行运行的目的相比于现有技术，不需要针对每次并行运行的不同测试用例分别编写相应的测试系统，且只需要创建一个配置文件被所有的测试用例使用，而不需要分别为每个测试用例编写测试脚本，能够有效地提高并行测试的工作效率。
一种并行测试方法服务器

[发明专利]一种并行测试批量产品并云端处理测试数据的测量方法-CN201810091036.3在审
发明人：杨素素 -专利权人：安徽皖通邮电股份有限公司
申请日： 2018-01-30 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明涉及并行测试电信设备技术领域，具体涉及一种并行测试批量产品并云端处理测试数据的测量方法。该种并行测试批量产品并云端处理测试数据的测量方法主要包括待测设备连接、数据上传、设备测试和数据保存等步骤。该种并行测试批量产品并云端处理测试数据的测量方法拆分测试站为多个测试包，使每个测试包并行工作，同时测试多个样品，提高测试效率，缩短测试时间，同时上传测试数据到云端服务器，由云端服务器处理大量测试数据，并下送测试结果
测试数据并行测试批量产品云端测量云端服务器测试包测试测试效率处理数据待测设备电信设备设备测试数据保存数据上传测试站上传并行

[发明专利]一种用于车辆的并行刷写仿真测试系统以及方法-CN202211368869.2在审
发明人：赵萌;张麟;汤利顺;张东波;李玉发;孙琦;刘旸;孙克文;赵泽华;张天 -专利权人：中国第一汽车股份有限公司
申请日： 2022-11-03 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G05B17/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于车辆的并行刷写仿真测试系统，用于为车辆的不同域控制器中各个下属控制器进行刷写仿真测试；所述用于车辆的并行刷写仿真测试系统包括：并行刷写数据仿真装置，数据监听装置，测试主机；所述并行刷写数据仿真装置分别与各个域控制器连接，所述并行刷写数据仿真装置用于为各个所述域控制器发送测试数据；数据监听装置，所述数据监听装置用于监听各个所述域控制器传递给所述下属控制器的报文数据流；测试主机，所述测试主机与所述数据监听装置以及所述并行刷写数据仿真装置连接通过上述方案，高度还原并行刷写的真实场景，对车辆进行全方位的并行刷写测试。
一种用于车辆并行仿真测试系统以及方法

[发明专利]串并行测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310010012.1在审
发明人：刘瀛;韩兵兵;王菁;杨与争;何枫;张燕琴;王康;朱芳 -专利权人：航天新长征大道科技有限公司
申请日： 2023-01-04 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请提供了串并行测试方法、装置、电子设备及存储介质，同时执行多个测试程序，提高测试效率，并提高硬件利用率。并且，测试步骤之间能够并行执行，满足并行测试需求。
并行测试方法装置电子设备存储介质

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