专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202311189420.4在审
  • 杜峰;张亚林 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-09-15 - 2023-10-24 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质,包括:获取预先构建的寄存器描述文件,根据目标寄存器的配置信息对寄存器描述文件进行更新,并根据更新后的寄存器描述文件生成寄存器模型;在寄存器模型中增加访问端与目标寄存器之间的地址映射关系,并获取预先构建的通用测试序列合集;获取用户在测试模板中添加的目标测试信息,根据寄存器模型、目标测试信息以及通用测试序列合集,生成与目标寄存器匹配的测试表格;根据测试表格对目标寄存器进行测试。本发明实施例的技术方案可以提升寄存器测试方法的复用性,提高寄存器的测试效率以及测试结果的准确性。
  • 一种寄存器测试方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]互联系统的自动化布局方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310761942.0有效
  • 魏斌;邓喻文;张亚林 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-06-27 - 2023-09-22 - G06F15/78
  • 本发明公开了一种互联系统的自动化布局方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取互联系统中各路由节点之间的第一连接关系和各出入口节点与相邻路由节点之间的第二连接关系;根据第一连接关系,确定各路由节点在布局空间中的初始路由坐标;根据第一连接关系,识别互联系统中的各路由环,并按照标准环范式,将路由环中各路由节点的初始路由坐标调整为规范路由坐标;根据第二连接关系,确定各出入口节点在布局空间中的出入口坐标,并规划各出入口节点与相邻路由节点之间的连接路径;根据第一连接关系、各规范路由坐标、各出入口坐标和各连接路径,在布局空间中绘制得到互联系统的拓扑图,以自动化生成准确、合理且标准化的互联系统布局。
  • 联系自动化布局方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种神经网络的内存分配方法、装置、设备及介质-CN202310973717.3在审
  • 刘宝琦;解易;张亚林 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-08-04 - 2023-09-05 - G06F9/50
  • 本发明公开了一种神经网络的内存分配方法、装置、设备及介质,包括:在神经网络计算图对应的多个计算节点中依次获取一个节点作为当前节点;通过与当前节点匹配的计算核,在设备内存中申请计算内存,并在检测到计算核对当前节点完成计算后对计算内存进行释放;将当前节点对应的内存释放空间作为当前节点匹配的子内存池,并通过计算核在子内存池中申请当前节点对应的返回值内存;在计算图中确定与当前节点对应子节点集合的最近公共子孙节点,根据最近公共子孙节点的执行信息,对返回值内存进行释放。本发明实施例的技术方案可以实现对设备内存充分复用,最大程度上避免了计算核DMA与内存非亲和区域通信,保证了众核计算设备的计算性能。
  • 一种神经网络内存分配方法装置设备介质
  • [发明专利]一种芯片老化测试电路-CN202310988128.2在审
  • 韩晶;梁世金;荆泉 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-08-08 - 2023-09-05 - G01R31/28
  • 本发明实施例公开了一种芯片老化测试电路。该芯片老化测试电路包括:老化输入控制模块,用于输出控制数据;选择模块,与老化输入控制模块电连接,用于选择输出的数据;伪随机数生成模块,与选择模块电连接,用于生成伪随机数;移位器,与伪随机数生成模块电连接,用于对伪随机数进行移位处理;老化测试沿检测模块,与老化输入控制模块电连接,并通过芯片中的扫描链与移位器电连接;用于检测扫描链上的数据是否发生翻转,以对芯片进行老化测试。本发明实施例提供的芯片老化测试电路,能够保证测试的可靠性。
  • 一种芯片老化测试电路
  • [发明专利]一种模型混精推理方法、装置、设备及存储介质-CN202310524663.2在审
  • 田宏泽;程伟;孙清阁 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-05-10 - 2023-08-01 - G06N5/04
  • 本发明公开了一种模型混精推理方法、装置、设备及存储介质,包括:将输入样本输入至芯片内的深度学习模型中,通过芯片内的计算节点对输入样本进行计算,得到float32类型的目标结果;获取模型的分段列表,根据模型针对各分段在预设精度选择参数下的混精结果及目标结果,对各分段的精度选择参数进行调整;将每个分段中各计算节点的目标精度选择参数,作为控制信号输入至控制节点中,通过芯片内的控制节点选择匹配的精度计算分支,并通过计算节点根据精度计算分支完成混精推理。本发明实施例的技术方案可以有效获取满足模型精度要求的混精推理方案,提高模型的混精推理效率。
  • 一种模型推理方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种集成电路验证方法、系统、装置、设备及介质-CN202310552444.5有效
  • 杨兵;丁鹤群;毕金琼 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-05-17 - 2023-07-28 - G06F30/33
  • 本发明涉及电数字数据处理技术领域,尤其涉及一种集成电路验证方法、系统、装置、设备及介质。方法包括:生成与至少一个待测接口对应的事务转换组件和观测组件;若验证模式为主动模式,则通过对应的事务转换组件生成各待测接口对应的待传递事务并发送至验证组件;通过验证组件分别将与各待测接口对应的待传递事务发送至各待测接口并接收反馈的响应事务;通过验证组件接收各待测接口发送的与各待测接口对应的待传递事务;通过对应的事务转换组件,根据与各待测接口对应的待传递事务,确定与各待测接口对应的协议事务;通过对应的观测组件对各待测接口的电路信号进行展示。本发明实施例可以降低验证成本,缩短验证周期,提高验证效率。
  • 一种集成电路验证方法系统装置设备介质
  • [发明专利]一种缓存电路的验证方法、装置、设备及存储介质-CN202310301867.X有效
  • 杨兵;毕金琼;史焱;佘旭 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-03-27 - 2023-06-30 - G06F30/3323
  • 本发明公开了一种缓存电路的验证方法、装置、设备及存储介质,包括:获取与待测缓存电路对应的验证规格书,通过验证激励生成器根据验证规格书以及电路规格书生成访问事务,通过验证激励接口根据访问事务生成待测缓存电路对应的驱动信号;通过检验器接口将待测缓存电路对应的实时采集信息转换为存储事务和加载事务,并将存储事务和加载事务传输至检验器;通过检验器根据存储事务和加载事务,对待测缓存电路进行验证;验证规格书根据待测缓存电路的需求规格书设计得到;验证激励接口和检验器接口根据待测缓存电路及电路规格书配置得到。本发明实施例的技术方案可以提高缓存电路的验证效率,以及验证方法的通用性。
  • 一种缓存电路验证方法装置设备存储介质
  • [发明专利]芯片验证方法、装置、系统、电子设备及存储介质-CN202310396013.4有效
  • 李爽;张亚林 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-04-14 - 2023-06-30 - G06F30/33
  • 本申请实施例公开了一种芯片验证方法、装置、系统及存储介质。该方法包括:获取被测芯片的所有功能覆盖点中各功能覆盖点与输入激励之间的映射关系;基于映射关系、预先编写的测试用例模板和输入激励的约束文件,生成每个功能覆盖点各自对应的测试用例以及用于确定覆盖率的功能覆盖率代码;利用所有测试用例,对各功能覆盖点进行测试,并利用功能覆盖率代码实时确定功能覆盖率代码输出的覆盖率;实时检测覆盖率是否大于等于预设阈值,并在大于等于预设阈值的情况下,确定对所有功能覆盖点完成验证。本申请运行所有测试用例,即可覆盖所有的功能覆盖点,避免了重复抽取的情况,从而在提高验证效率的前提下,还能提高覆盖率。
  • 芯片验证方法装置系统电子设备存储介质
  • [发明专利]一种存储器电路的验证方法和装置-CN202310382888.9有效
  • 杨兵;毕金琼;杨壮;庞永震 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-04-12 - 2023-06-23 - G06F30/33
  • 本发明实施例公开了一种存储器电路的验证方法和装置。该验证方法包括:获取存储器电路对应的验证激励;将验证激励输入至存储器电路,通过验证激励对存储器电路进行前门访问,得到前门访问数据;将验证激励输入至预先生成的可修改的电路层次,生成完整层次结构,通过后门访问模块根据完整层次结构对存储器电路进行后门访问,得到后门访问数据;通过电路验证模块根据前门访问数据和后门访问数据,对各类存储器电路进行验证;其中,后门访问模块和电路验证模块,根据存储器电路对应的需求规格书设计得到;电路层次根据存储器电路以及存储器电路对应的电路规格书预先配置得到。本发明实施例提供的存储器电路的验证方法和装置,能够提高验证效率。
  • 一种存储器电路验证方法装置
  • [发明专利]一种数据发送方法、装置、设备及存储介质-CN202310382884.0有效
  • 席诗琼;孙力军;乔文 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-04-12 - 2023-06-20 - G06F9/50
  • 本发明公开了一种数据发送方法、装置、设备及存储介质。包括:获取上行端口当前接收数据的第一信号值,其中,第一信号值用于表示接收数据的数据量;当第一信号值小于等于预设阈值时,确定内部缓存情况,其中,内部缓存情况包括空缓存、满缓存和非空非满缓存;当内部缓存情况为非空非满缓存时,根据当前接收数据确定当前写起始指针位置和当前写指针位置;获取读指针位置,根据读指针位置和当前写起始指针位置确定发送数据,并将发送数据发送至下行端口。通过在当前接收数据的第一信号值小于等于预设阈值且内部缓存情况为非空非满缓存时,通过当前接收数据确定指针位置,并且通过指针位置确定发送数据,减小了芯片面积,提高了数据发送效率。
  • 一种数据发送方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种芯片验证系统、方法、装置及存储介质-CN202310078228.1在审
  • 王瑞;张亚林 - 北京燧原智能科技有限公司
  • 2023-01-17 - 2023-05-30 - G06F30/367
  • 本发明公开了一种芯片验证系统、方法、装置及存储介质,该系统包括:资源管理模块,用于获取数据变换引擎中的空闲数据处理资源;指令分配模块,用于为待执行指令分配目标数据处理资源;激励生成模块,用于为目标指令通道分配目标操作数;地址管理模块,用于获取源数据地址和目标数据地址;数据加载模块,用于将待变换源数据加载到外部存储器中;配置执行模块,用于将上述配置参数部署给数据变换引擎。本发明实施例的技术方案,通过构建功能完整的芯片验证系统,实现了验证资源的集中管理,避免了验证系统的重复开发,提高了验证系统的维护效率,同时,实现了各个验证资源的层次化调度,提高了芯片中数据变换引擎的验证效率。
  • 一种芯片验证系统方法装置存储介质

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