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[发明专利]用于组合相干激光射束的设备、激光系统和方法-CN202180011886.8在审
发明人： D·弗拉姆;A·海梅斯;M·普罗索托维奇 -专利权人：通快激光有限责任公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G02B27/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于组合多个相干激光射束(3.1，...，3.N)的设备(5)，所述设备包括：分离装置(4)，所述分离装置用于将输入激光射束(9)分离成多个相干激光射束(3.1，...，3.N)，多个相位调整装置.JPG" imgContent="drawing" imgFormat="JPEG" orientation="portrait" inline="yes" />以及射束组合装置(10)，所述射束组合装置用于将所述相干激光射束(3.1，...，3.N)组合成至少一个组合激光射束(12，12a，b)，所述相干激光射束从网格布置(16)的多个网格位置(8.1，...，8.N)出发。所述射束组合装置(10)具有微透镜布置(11)，所述微透镜布置具有恰好一个微透镜阵列(17)，用以形成所述至少一个组合激光射束(12)。本发明还涉及一种激光系统(1)，所述激光系统包括：用于产生种子激光射束(2a)的种子激光源(2)以及如上所述的设备(5)，以及涉及一种相关的用于组合多个相干激光射束(3.1，...，3.N)的方法。
用于组合相干激光设备系统方法

[发明专利]辐射检查系统和辐射检查方法-CN201711429492.6在审
发明人：杨祎罡;王东宇;于昊;宋全伟;李荐民;王伟珍;李玉兰;宗春光;张勤俭;曾鸣;陈志强;李元景;张丽 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-26 - 公布日： 2018-04-27 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。
辐射检查系统方法

[发明专利]具有碎屑清除系统和整合的射束收集器的激光加工设备及其操作方法-CN202180069684.9在审
发明人：柯瑞·纽菲尔德;扎克里·唐;提摩太·纽寇斯;杰瑞米·威利 -专利权人：伊雷克托科学工业股份有限公司
申请日： 2021-10-07 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： B23K26/06 文献下载
摘要：在一个具体实例中，该激光加工设备包括具有整合的射束收集器系统的碎屑清除系统，该射束收集器系统可操作以将吸收器选择性地定位于激光能量射束的射束路径内。该射束收集器系统可允许该激光能量射束传播通过该激光加工设备的扫描透镜，但防止该激光能量射束加工工件。该射束收集器系统可包括致动器部件，该致动器部件可操作以使该吸收器自该射束路径回缩，借此允许该射束传播至该工件且允许来自激光加工的碎屑被吸入至真空喷嘴中，借此防止对该扫描透镜造成损害。该射束收集器系统可进一步包括热传递系统，该热传递系统可操作以控制从该吸收器远离的热传递的速率。
具有碎屑清除系统整合收集激光加工设备及其操作方法

[实用新型]辐射检查系统-CN201721843454.0有效
发明人：杨祎罡;王东宇;于昊;宋全伟;李荐民;王伟珍;李玉兰;宗春光;张勤俭;曾鸣;陈志强;李元景;张丽 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-26 - 公布日： 2018-09-04 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置，射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构，第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置，使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换，其中，在第一工作状态，射束调制装置将初始射束调制为扇形束，在第二工作状态，射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。
射束准直调制装置辐射检查系统本实用新型辐射源出射调制位置可变扇形束笔形可动检查

[发明专利]热处理焊接接头的系统以及方法-CN201110147414.3无效
发明人： S·F·辛普森;K·兰加劳 -专利权人：通用电气公司
申请日： 2011-05-20 - 公布日： 2011-11-23 - 主分类号： B23K31/02 文献下载
摘要：一种用于热处理焊接接头(42)的系统(80)包括射束发生器(44)，其产生对准焊接接头(42)的射束(52)。在射束发生器(44)与焊接接头(42)之间的射束分裂器(46)沿着路径使该射束的一部分(58)转向。反射器(48)接收射束的转向部分(58)并且使其对准在焊接接头(42)处的点(60)。在路径中的调制器(50)控制射束的转向部分(58)的通过。一种用于热处理焊接接头(42)的方法包括使射束(52)对准焊接接头(42)，使射束的一部分(58)转向，以及在焊接接头(42)的方向上反射该射束的转向部分(58)。该方法进一步包括调制射束的转向部分(58)以控制射束的转向部分(58)的通过。
热处理焊接接头系统以及方法

[发明专利]粒子射线治疗装置-CN201380081093.9在审
发明人：岩田高明;原田久;池田昌广;蒲越虎 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2013-11-21 - 公布日： 2016-07-20 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种能利用分时恰好同时地向多个治疗室输送射束的粒子射线治疗装置。粒子射线治疗装置(51)的射束输送系统(59)具有变更射束路径的射束路径变更器(16)，以将带电粒子射束(81)输送到多个粒子射线照射装置(58)中的某一个，治疗管理装置(95)具有射束路径控制器(18)，该射束路径控制器(18)生成对加速器(54)的出射器(62)进行控制的出射器控制信号(csiga)、和对射束路径变更器(16)进行控制的射束路径变更器控制信号(冲击控制信号(csigb))，以使得对于在同一治疗时间段进行治疗的多个粒子射线照射装置(58)，按每一个分配时间将带电粒子射束(81)输送到多个粒子射线照射装置(58)的某一个。
粒子射线治疗装置

[发明专利]电磁辐射聚焦装置及其应用-CN202180069505.1在审
发明人：凯尔·安德鲁·默文 -专利权人：戈雅牙科有限公司
申请日： 2021-09-15 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G21K1/02 文献下载
摘要：一种用于在放射治疗中使用X射线和伽马射线的聚焦装置，该装置包括具有第一端和第二端的不透放射的截锥状构件，其中该构件包括从第一端延伸到第二端的透射线的射束路径阵列，其中每个射束路径在第一端具有入口孔，在第二端具有出口孔；源射束通过入口孔进入射束路径，当源射束与射束路径的纵轴线对齐或具有相对于射束路径纵轴线的预定偏差角度时，射束路径从出口孔发出射束；每个射束路径的纵轴线相对于构件的纵轴线呈角度，以朝向一个或多个焦点汇聚
电磁辐射聚焦装置及其应用

[发明专利]X射线射束整形装置和方法-CN202080027081.8在审
发明人：米伦·加特什基;亚历山大·哈尔陈科;D·贝克尔斯;尼古拉斯·诺伯格 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2020-04-03 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：一种用在X射线分析设备(40)中的射束整形装置(10)。该射束整形装置处理来自X射线射束源(20)的输入射束(32)，并产生具有输出射束形状的输出射束(34)，用于辐照样本(112)，该样本由X射线分析设备的样本保持器(22)保持。根据样本(112)的倾斜角(χ)的改变来控制输出射束形状的移动，倾斜角由样本保持器(22)的倾斜位置来限定。
射线整形装置方法

[发明专利]离子植入系统以及去除其的射束线构件上沉积物的方法-CN202011058388.2在审
发明人：凯文·安葛林;威廉·戴维斯·李;彼得·库鲁尼西;里安·道尼;杰·T·舒尔;亚历山大·利坎斯奇;威廉·M·贺伯 -专利权人：瓦里安半导体设备公司
申请日： 2016-06-02 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： H01J37/317 文献下载
摘要：本文提供离子植入系统以及去除离子植入系统的射束线构件上沉积物的方法。所述离子植入系统，包括：离子源，被配置为形成离子束；射束线构件；以及气体源，被配置为向所述射束线构件供应气体，其中所述气体源被配置成通过沉积物与所述气体的反应来刻蚀沉积在所述射束线构件的表面上的所述沉积物所述去除离子植入系统的射束线构件上沉积物的方法，所述去除离子植入系统的射束线构件上沉积物的方法包括：在对所述射束线构件进行离子轰击期间通过离子束向与所述射束线构件相关联的一或多个区域供应所述气体，其中所述离子轰击加热所述射束线构件的表面，以辅助所述气体与所述射束线构件的所述表面上的所述沉积物之间的化学反应。
离子植入系统以及去除射束线构件沉积物方法

[发明专利]用于记录和再现全息数据的方法和全息记录介质-CN200410007889.2无效
发明人：塚越拓哉 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2004-03-03 - 公布日： 2004-09-08 - 主分类号： G03H1/00 文献下载
摘要：通过把信号射束和基准射束投射到记录层上，数据作为光的相位信息记录在该记录层；从信号射束和基准射束入射到全息记录介质的方向上看，反射表面位于记录层的相对侧，同时该反射表面带有梯形横截面的凸状结构或凹状结构，凸状结构的凸状表面或凹状结构的凹状表面设定成等于或大于在衍射极限的信号射束或基准射束的射束点直径。根据具有这样结构的全息记录介质，能容易去除包含在信号射束和基准射束内的噪音光。
用于记录再现全息数据方法介质

[发明专利]具有改进的投影特征的投影方法-CN201110259515.X有效
发明人：简·奥利弗·德鲁姆;亨宁·雷恩;巴库里·朗沙瓦;沃尔夫冈·帕布斯特;罗伯特·克劳斯 -专利权人：奥斯兰姆有限公司
申请日： 2007-11-08 - 公布日： 2012-01-11 - 主分类号： G03B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种借助至少一个第一射束(110)和第二射束(210)将图像投影到投影面(10)上的方法。通过确定第一射束和第二射束在投影面上的投影的偏差和根据事先所确定的偏差随时间改变第一射束和/或第二射束的强度，在投影面上产生了改进的图像。
具有改进投影特征方法

[发明专利]具有改进的投影特征的投影装置-CN200780041956.4有效
发明人：简·奥利弗·德鲁姆;亨宁·雷恩;巴库里·朗沙瓦;沃尔夫冈·帕布斯特;罗伯特·克劳斯 -专利权人：奥斯兰姆有限公司
申请日： 2007-11-08 - 公布日： 2009-12-23 - 主分类号： G03B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种借助至少一个第一射束(110)和第二射束(210)将图像投影到投影面(10)上的方法。通过确定第一射束和第二射束在投影面上的投影的偏差和根据事先所确定的偏差随时间改变第一射束和/或第二射束的强度，在投影面上产生了改进的图像。
具有改进投影特征装置

[发明专利]带电粒子系统、孔径阵列、带电粒子工具和操作带电粒子系统的方法-CN202180054132.0在审
发明人： D·马丁内斯·内格雷特·加斯奎;V·C·伯金;尹炜华 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2021-08-16 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： H01J37/141 文献下载
摘要：带电粒子系统包括孔径阵列(430)、射束限制阵列(421)和会聚透镜(410)。在孔径阵列中是用于从上游带电粒子源(401)生成孔径阵列下游的带电粒子路径(406)的孔径(432)的阵列。射束限制阵列位于孔径阵列下游。射束限制阵列中限定有用于对带电粒子多束路径进行成形的射束限制孔径(422)的阵列。会聚透镜系统位于孔径阵列与射束限制阵列之间。会聚透镜系统选择性地在不同旋转设置下操作，这些旋转设置限定在孔径阵列与射束限制阵列之间的不同射束路径(406)范围。在会聚透镜系统的每个旋转设置下，射束限制阵列的每个射束限制孔径位于孔径阵列下游的射束路径上。
带电粒子系统孔径阵列工具操作方法

[发明专利]射束调节器-CN201010002519.5有效
发明人： W-D·拉赫尔;H·格雷特 -专利权人：纽珀有限公司
申请日： 2005-12-31 - 公布日： 2010-07-28 - 主分类号： E03C1/084 文献下载
摘要：本发明涉及一种射束调节器(1)，具有一个射束分解装置(2)，所述射束分解装置将流入的水流分解成多个单射束，其中至少一个单射束撞击到一个在下游侧串接的栅极网(6)的各彼此交叉的栅极杆(4、5)的交叉点(3)上，其中至少一个交叉点分别构成为栅极网(6)的流入侧的凹口，和/或其中射束调节器(1)是一个具有一射束调节器壳体(7)的通风的射束调节器(1)，所述射束调节器壳体在其壳体圆周上具有至少一个通风孔(8)并且在其壳体内圆周上在流动方向上在所述至少一个通风孔之下具有阻挡凸起，用于使水射束避开通风孔。
调节器

[发明专利]眼科装置及眼科方法-CN201110039870.6有效
发明人：武藤健二 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2011-02-17 - 公布日： 2011-08-24 - 主分类号： A61B3/14 文献下载
摘要：提供一种眼科装置以解决该问题，所述眼科装置包括：照射单元，所述照射单元用第一射束和第二射束来照射要被检查的眼睛，所述第一射束用于获取眼睛的层析图像，所述第二射束用于获取眼睛的眼底图像，所述第二射束具有比所述第一射束的射束直径大的射束直径；以及确定单元，所述确定单元基于指示眼睛中的所述第一射束的照射位置和眼睛的眼轴之间的偏移量的信息，确定所述第二射束的照射位置是否落入能获取所述眼底图像的范围内。
眼科装置方法