专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]X射线探测器和控制X射线探测器的技术-CN201810676716.1有效
  • 达米安·库哈尔奇克;马赛厄斯·梅耶 - 株式会社理学
  • 2018-06-27 - 2023-10-17 - G01N23/20008
  • 本发明涉及X射线探测器和控制X射线探测器的技术。提供了一种用在用于测量由待研究样品衍射的X射线束的X射线分析系统中的X射线探测器。X射线探测器包括:至少两个彼此铰接连接的X射线探测器模块;驱动机构,配置成将所述至少两个铰接连接的X射线模块定位在样品周围;控制单元,配置成控制驱动机构以相对于彼此移动所述至少两个探测器模块,使得所述至少两个探测器模块沿着具有取决于探测器和样品之间的选定距离的曲率的预先计算的曲线布置在样品周围。还提供了一种包括上述X射线探测器的X射线分析系统和一种控制X射线探测器的方法。
  • 射线探测器控制技术
  • [实用新型]一种EBSD试样镶样工装-CN202223213850.9有效
  • 李卫军 - 李卫军
  • 2022-12-01 - 2023-10-13 - G01N23/20008
  • 本实用新型公开了一种EBSD试样镶样工装,属于金属检测设备技术领域,包括空心的镶样套筒,所述空心的镶样套筒内腔套设有镶样内柱,所述镶样套筒与所述镶样内柱具有高度差,所述镶样套筒的尺寸与镶样机内腔尺寸配合。本实用新型采用在镶样时增加一套可反复使用的工装,将通常倒置式镶样(样品的观测面向下)改为正置式镶样(样品的观测面向上),所镶的试样适合用自动磨抛机和震动抛光设备制样,在制备的试样满足EBSD观测需要后,可以方便的将样品取出,并且由于采用正置式镶样还保证了观测面与样品背面的平行,利于保证EBSD要求试样观测倾角70度要求。
  • 一种ebsd试样工装
  • [实用新型]一种晶体定向仪-CN202321040597.3有效
  • 林齐富 - 福建汉光光电有限公司
  • 2023-05-05 - 2023-09-29 - G01N23/20008
  • 本实用新型公开了一种晶体定向仪,包括晶体定向仪本体和固定在其下端的底座,所述底座的两侧均设有凹槽,所述凹槽的内壁上滑动连接有升降块,所述升降块的下端设有移动机构,所述升降块内设有导向机构,所述升降块内插设有丝杠,所述丝杠与升降块之间为螺纹连接,所述丝杠的两端分别贯穿升降块并与凹槽的内两侧转动连接,所述丝杠的上端固定套接有蜗轮,所述凹槽内输液与蜗轮相啮合的蜗杆,所述底座内设有置物槽,所述置物槽位于两个凹槽之间,所述蜗杆的一端贯穿底座并延伸至置物槽内。本实用新型通过升降板、万向轮和橡胶垫等机构的设置,在便于位移的同时,提高与地面之间的摩擦力、避免发生位置偏移、滑动的情况,从而增强整体稳定性。
  • 一种晶体定向
  • [发明专利]一种同步辐射X射线半导体工艺研究用双退火装置-CN202310743831.7在审
  • 杨迎国 - 复旦大学
  • 2023-06-23 - 2023-09-22 - G01N23/20008
  • 本发明属于同步辐射X射线原位研究技术领域,具体为一种同步辐射X射线半导体工艺研究用双退火装置。本发明双退火装置包括氮气枪、加热板、加热台外壳、X射线光电探测器、电源、热电偶、远程温度控制器接口,加热板温度控制器。本发明通过加热板温度控制器设置加热温度,对半导体样品进行热退火处理;通过氮气枪吹出氮气,对样品表面同样进行热退火处理;在双退火处理过程中的任一时间点,入射X射线都能照射到达样品表面和内部,产生的出射X射线信号被探测器接收,获得半导体器件的衍射和散射信息,从而实现实时观测半导体在退火过程中的结构和形貌变化。
  • 一种同步辐射射线半导体工艺研究退火装置

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