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[发明专利]具有可变接受角的平行板X射线准直器和X射线分析装置-CN202310257300.7在审
发明人： V·科根;亚历山大·哈尔陈科;D·贝克尔斯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2023-03-16 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本申请涉及具有可变接受角的平行板X射线准直器和X射线分析装置。本发明的实施例提供了：X射线准直器，其用于通过限制入射X射线束的发散来准直入射X射线束，该X射线准直器具有可变接受角；X射线分析装置，其包括具有可变接受角的X射线准直器；以及使用X射线分析装置的方法。X射线分析装置包括位置敏感X射线检测器，并且X射线准直器布置在样品和位置敏感X射线检测器之间，以限制来自样品的X射线的轴向发散。
具有可变接受平行射线准直器分析装置

[发明专利]用于X射线分析装置的样品保持器-CN202180051685.0在审
发明人：米伦·加特什基;D·贝克尔斯;简·武特维恩 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2021-08-26 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本发明涉及用于保持样品的样品保持器。样品保持器包括主体，该主体具有入射表面和主体中用于接收样品的开口。当样品被用X射线照射时，样品保持器的入射表面也可能被照射，尤其是在低入射角下。为了减少来自入射表面的背景散射，入射表面包括用于阻挡X射线的突起。
用于射线分析装置样品保持

[发明专利]适应性强的X射线分析装置-CN202211053916.4在审
发明人： D·贝克尔斯;亚历山大·哈尔陈科;米伦·加特什基 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明涉及适应性强的X射线分析装置。X射线分析装置使用户能够执行多个X射线分析应用，以分析样品。该装置包括用于用X射线照射样品的X射线源，X射线源包括固体阳极和用于发射电子束的阴极。该装置还包括控制器和用于将电子束聚焦到阳极上的聚焦装置。控制器被配置为接收X射线分析应用信息，并基于X射线分析应用信息来控制X射线分析装置选择性地在第一X射线分析模式或第二X射线分析模式下操作。在第一X射线分析模式下，X射线源以第一操作功率操作，并且具有小于100μm的有效焦斑大小。在第二X射线分析模式下，X射线源以高于第一操作功率的第二操作功率操作，并且有效焦斑的面积大于在第一X射线分析模式下的有效焦斑的面积。
适应性射线分析装置

[发明专利]X射线分析设备-CN201910300453.9有效
发明人： D·贝克尔斯;米伦·加特什基;亚普·博克塞姆;法比奥·马谢洛 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2019-04-15 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G01N23/201 文献下载
摘要：本公开涉及但不限于X射线分析设备。所述设备包括用于支撑样本的样本台、具有旋转轴的测角仪和布置成绕测角仪的旋转轴可旋转的X射线检测器，其中X射线检测器布置成接收来自样本的沿着X射线束路径引导的X射线。X射线分析设备还包括均具有第一和第二配置的第一、第二和第三准直器。准直器在其第一配置中布置在X射线束路径中。准直器在其第二配置中布置在X射线束路径之外。第一致动器装置配置成通过在与X射线束路径相交的横向方向移动第一和第二准直器来在第一和第二配置之间移动第一和第二准直器。第二致动器装置配置成使第三准直器在其第一和第二配置之间移动。控制器配置成控制第一致动器装置以使第一准直器在第一和第二配置之间移动。
射线分析设备

[发明专利]X射线分析设备和方法-CN201910295269.X有效
发明人： D·贝克尔斯;亚普·博克塞姆;米伦·加特什基 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2019-04-12 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本申请涉及X射线分析设备和方法。一种X射线分析设备包括被配置成用入射X射线波束照射样品的X射线源。第一波束掩模部件被布置在X射线源和样品之间。第一波束掩模部件具有用于限制入射X射线波束的尺寸的第一开口。当第一波束掩模部件在第一配置中时，第一开口被布置在入射X射线波束中。第一波束掩模部件还包括第二开口。当第一波束掩模部件在第二配置中时，第二开口被布置在入射X射线波束中。第二开口不限制入射X射线波束的尺寸。控制器被配置成控制第一波束掩模部件致动器以通过在与入射X射线波束相交的平面中移动第一波束掩模部件来将第一波束掩模部件的配置在第一配置和第二配置之间进行改变。
射线分析设备方法

[发明专利]用于X射线分析设备的样品安装系统-CN202111509458.6在审
发明人：亚普·博克塞姆;D·贝克尔斯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01N23/20025 文献下载
摘要：本申请涉及用于X射线分析设备的样品安装系统。样品安装系统包括样品保持器和样品载物台，样品载物台具有用于支撑样品保持器的平台。样品可以通过安装件固定到样品保持器。样品保持器包括保持器参照部分，该保持器参照部分与样品载物台的对应参照部分(载物台参照部分)配合，以将样品保持器与样品载物台对准。当样品保持器被定位在平台上使得载物台参照部分和保持器参照部分彼此接合时，样品保持器与样品载物台对准。
用于射线分析设备样品安装系统

[发明专利]用于X射线的样品保持器-CN201710593858.7有效
发明人： V·科根;D·贝克尔斯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2017-07-20 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N23/201 文献下载
摘要：提供了用于X射线分析的样品保持器。用于保持用于X射线分析的毛细管(40)的样品保持器(2)具有位于纵向狭缝(12)一侧的基座部分(14)上的第一热传递构件(36)和位于另一侧的基座部分(16)上的第二热传递构件(38)。在框架(30)与基座部分(14、16)之间在横向方向上压紧热传递构件(36、38)，以促使第一热传递构件和第二热传递构件的边缘在一起，从而保持毛细管(40)与纵向狭缝(12)纵向地对齐。
用于射线样品保持

[发明专利]高分辨率X射线衍射方法和装置-CN201810190461.8有效
发明人： D·贝克尔斯;亚历山大·哈尔陈科;米伦·加特什基;尤金·鲁维坎普 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2018-03-08 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明公开了高分辨率X射线衍射方法和装置。用于高分辨率测量的X射线衍射装置将具有小于50的原子序数Z的靶的X射线源的使用与具有像素阵列的能量分辨X射线探测器以及用于从X射线源选择K‑β放射线并且用于将K‑β放射线反射到样品上(在此K‑β放射线被衍射到能量分辨X射线探测器上)的β放射线多层反射镜结合起来。样品可以具体地处于透射状态。样品可以是毛细管中的粉末样品。
高分辨率射线衍射方法装置

[发明专利]X射线射束整形装置和方法-CN202080027081.8在审
发明人：米伦·加特什基;亚历山大·哈尔陈科;D·贝克尔斯;尼古拉斯·诺伯格 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2020-04-03 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：一种用在X射线分析设备(40)中的射束整形装置(10)。该射束整形装置处理来自X射线射束源(20)的输入射束(32)，并产生具有输出射束形状的输出射束(34)，用于辐照样本(112)，该样本由X射线分析设备的样本保持器(22)保持。根据样本(112)的倾斜角(χ)的改变来控制输出射束形状的移动，倾斜角由样本保持器(22)的倾斜位置来限定。
射线整形装置方法

[发明专利]计算机断层扫描-CN201711404282.1有效
发明人：米伦·加特什基;D·贝克尔斯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2017-12-22 - 公布日： 2021-04-20 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本申请涉及计算机断层扫描。描述了用于计算机断层扫描的装置，其也适用于X射线衍射。计算机断层扫描测量使用线焦点(8)，并使来自线焦点的X射线穿过垂直的狭缝(22)，并随后穿过样品到二维检测器上。拍摄多个图像，每个图像对应于围绕旋转轴线(14)旋转不同量的样品，并且被组合以创建计算机断层扫描图像。
计算机断层扫描

[发明专利]具有对光束发散度的混合控制的X射线分析装置及方法-CN201910280993.5在审
发明人：米伦·加特什基;D·贝克尔斯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2019-04-09 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本申请涉及具有对光束发散度的混合控制的X射线分析装置及方法。该装置包括位于X射线源(4)和样品(6)之间的可调狭缝(210)；和可选地另一狭缝(220，220a)。控制器(17)被配置成在第一宽度、更大的第二宽度和甚至更大的第三宽度之间控制可调狭缝的宽度。在第一宽度和第二宽度下：可调狭缝(210)限制入射光束的发散度，从而限制样品的被照射区域；并且另一狭缝(220)不限制入射光束的发散度。在第三宽度下：可调狭缝(210)不限制入射光束的发散度，并且另一狭缝(220)限制入射光束的发散度，从而限制样品的被照射区域。或者，在第三宽度下，可调狭缝(210)继续限制被照射区域。
可调狭缝入射光束发散度被照射区域狭缝光束发散度混合控制控制器可选配置申请

[发明专利]衍射成像-CN201410299083.9有效
发明人： D·贝克尔斯;M·歌特斯凯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2014-06-26 - 公布日： 2019-03-08 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明涉及衍射成像。一种对不均匀多晶样本中的相进行成像的方法，该不均匀多晶样本具有至少第一结晶成分的多个微晶，该方法包括在基本单色X射线以布拉格‑布伦塔诺仲聚焦几何、以第一角θ₁入射到样本的表面的情况下，照射跨样本的表面延伸的被照射区域。由样本以第二角θ₂衍射的X射线穿过针孔装置。衍射角θ₁+θ₂满足第一结晶成分的布拉格条件，第一结晶成分由探测器成像，以提供在样本的表面处的第一结晶成分的二维图像。
衍射成像

[发明专利]X射线装置-CN201410833194.3有效
发明人： D·贝克尔斯;S·普鲁戈维奇 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2014-12-29 - 公布日： 2019-01-08 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明涉及X射线装置。一种X射线衍射装置包括平坦分级多层结构(8)，该平坦分级多层结构(8)可用在用于样本(6)的SAXS配置中。该装置可以通过准直器(16)调整以适用于Bragg‑Brentano测量，而不需要多个替换的束路径或复杂的结构。
射线装置

[发明专利]微衍射-CN201310069293.4有效
发明人： D·贝克尔斯;M·歌特斯凯 -专利权人：帕纳科有限公司
申请日： 2013-02-28 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于测量具有样品表面的样品的X射线衍射的方法和装置。X射线衍射方法在样品(10)的表面(14)上沿着照射带(16)照射射束(4)。X射线被所述样品(10)衍射并通过具有基本上垂直于所述带(16)延伸的狭缝的掩模(20)。通过二维X射线检测器检测X射线，从而测量沿着所述带(16)的不同位置的衍射X射线。
衍射

[发明专利]包装中的X射线检测-CN200910134609.7有效
发明人： V·科根;D·贝克尔斯;J·伯尔兹;C·W·莱曼;H·G·施维姆;K-J·史蒂芬斯 -专利权人：帕纳科有限公司
申请日： 2009-02-13 - 公布日： 2009-09-30 - 主分类号： G01N23/201 文献下载
摘要：本发明涉及包装中的X射线检测。使用角度散射X射线衍射来检测药品，包括在包装中的药剂形态，例如在泡罩包装中的药片，这种检测手段不用将药剂形态从包装中拿出。将药剂形态与测量系统对准，该系统具有用于产生X射线的X射线源、X射线光学器件以及用于检测X射线的X射线检测器。然后，在药剂形态预先确定的位置上测量至少一个X射线特征。将测得的X射线特征与数据库中的X射线特征进行比较。
包装中的射线检测

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