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- [发明专利]一种功率分立器件及其控制方法-CN202110217081.0在审
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陈鹏
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阳光电源股份有限公司
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2021-02-26
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2021-06-25
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H03K17/16
- 本申请提供了一种功率分立器件及其控制方法,该功率分立器件充分利用了分立器件有限的引脚和面积,通过两个不同类型的可控半导体芯片之间存在至少一个连接点,将两种不同类型的可控半导体芯片合封在该功率分立器件中,可以省去硅基半导体器件的二极管。其封装后得到的控制端口用于实现对于相应可控半导体芯片的通断驱动,以使功率分立器件的主功率电流流经相应功率流端口,以及相应的可控半导体芯片;而不同类型的可控半导体芯片的性能不同,可以依据当前实际应用场景,选择合适的可控半导体芯片承担相应的损耗,进而降低功率分立器件的总损耗;也即,通过控制两类芯片的导通和关断,进而降低整体工作损耗,提高利用率,降低成本。
- 一种功率分立器件及其控制方法
- [实用新型]一种新型高压低损耗IGBT结构-CN202120802484.7有效
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张轩;朱东柏
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哈尔滨理工大学
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2021-04-20
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2021-10-29
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H01L29/739
- 本实用新型所涉及的是一种新型高压低损耗IGBT结构,此IGBT结构为集成PMOS的沟槽IGBT结构,包括集成PMOS的超级基区IGBT(PSBL IGBT)结构与集成PMOS的GGEE type IGBT(PGE IGBT)结构,PSBL IGBT结构是在SBL IGBT内部集成了PMOS结构,不仅改善了器件的导通特性与耐压特性,同时极大的改善了器件导通压降Vce(on)与关断损耗Eoff之间的折中关系,以及导通损耗Eon与续流二极管(FWD)反向恢复时的dVAK/dt折中关系,PGE IGBT结构是在GE IGBT内部集成了PMOS结构,其极大的改善器件的导通压降Vce(on)与关断损耗Eoff之间的折中关系
- 一种新型压低损耗igbt结构
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