专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种功率分立器件及其控制方法-CN202110217081.0在审
  • 陈鹏 - 阳光电源股份有限公司
  • 2021-02-26 - 2021-06-25 - H03K17/16
  • 本申请提供了一种功率分立器件及其控制方法,该功率分立器件充分利用了分立器件有限的引脚和面积,通过两个不同类型的可控半导体芯片之间存在至少一个连接点,将两种不同类型的可控半导体芯片合封在该功率分立器件中,可以省去硅基半导体器件的二极管。其封装后得到的控制端口用于实现对于相应可控半导体芯片的通断驱动,以使功率分立器件的主功率电流流经相应功率流端口,以及相应的可控半导体芯片;而不同类型的可控半导体芯片的性能不同,可以依据当前实际应用场景,选择合适的可控半导体芯片承担相应的损耗,进而降低功率分立器件的总损耗;也即,通过控制两类芯片的导通和关断,进而降低整体工作损耗,提高利用率,降低成本。
  • 一种功率分立器件及其控制方法
  • [发明专利]一种功率半导体器件热点温度估计方法和装置-CN201811173223.2有效
  • 石绍磊;张兴春;韩永杰;李峥;唐自强 - 上海汽车集团股份有限公司
  • 2018-10-09 - 2021-08-17 - G01K13/00
  • 本申请实施例公开了一种功率半导体器件热点温度估计方法,计算功率半导体器件的平均功率损耗,结合该平均功率损耗,基于功率半导体器件估计的热参考点冷却水温度以及实测的热参考点冷却水温度,对热阻网络参数进行补偿;进而基于参数补偿后的热阻网络,计算功率半导体器件的平均结温以及结温波动的峰峰值,并根据计算的功率半导体器件的平均结温和结温波动的峰峰值,估计功率半导体器件的热点温度。由此保证所估计的热点温度的变化曲线为一条光滑连续、波动较小的曲线,无需逆变器在正常模式和降额控制模式之间反复切换,减少对逆变器的损耗;并且在功率半导体器件老化、冷却系统参数变化等情况下,仍能够保证所估计出的热点温度准确性较高
  • 一种功率半导体器件热点温度估计方法装置
  • [发明专利]基于SiC MOSFET损耗模型的开关过热保护方法-CN202111483064.8有效
  • 毛琨;刘壮;张海峰;陈宝栋;周冲;杨全耀 - 北京航空航天大学
  • 2021-12-07 - 2022-06-28 - H02H7/22
  • 本发明公开了基于SiC MOSFET损耗模型的开关过热保护方法,开关为SiC MOSFET,包括以下步骤:构建所述SiC MOSFET的损耗模型,通过采集所述SiC MOSFET的采样电信号,估算所述SiCMOSFET的损耗;基于器件损耗和稳态热网络,通过采集高速/超高速电机控制器上开关器件的散热器的表面温度,估算SiC MOSFET的结温,并与预设的保护阈值进行比较,根据比较结果,对SiC MOSFET进行过热保护;系统包括DSP控制芯片、栅极驱动芯片、三相两电平逆变器、信号采样电路、散热及测温模块,DSP控制芯片用于执行开关过热保护方法;本发明避免器件因过热而失效甚至发生爆炸,危害系统的安全运行。
  • 基于sicmosfet损耗模型开关过热保护方法
  • [实用新型]一种新型高压低损耗IGBT结构-CN202120802484.7有效
  • 张轩;朱东柏 - 哈尔滨理工大学
  • 2021-04-20 - 2021-10-29 - H01L29/739
  • 本实用新型所涉及的是一种新型高压低损耗IGBT结构,此IGBT结构为集成PMOS的沟槽IGBT结构,包括集成PMOS的超级基区IGBT(PSBL IGBT)结构与集成PMOS的GGEE type IGBT(PGE IGBT)结构,PSBL IGBT结构是在SBL IGBT内部集成了PMOS结构,不仅改善了器件的导通特性与耐压特性,同时极大的改善了器件导通压降Vce(on)与关断损耗Eoff之间的折中关系,以及导通损耗Eon与续流二极管(FWD)反向恢复时的dVAK/dt折中关系,PGE IGBT结构是在GE IGBT内部集成了PMOS结构,其极大的改善器件的导通压降Vce(on)与关断损耗Eoff之间的折中关系
  • 一种新型压低损耗igbt结构
  • [发明专利]一种定向耦合器、模式相关损耗补偿器件及系统和方法-CN202210461659.1在审
  • 黄权东;钟立熙;许鸥;秦玉文 - 广东工业大学
  • 2022-04-28 - 2022-07-29 - G02B6/26
  • 本发明公开了一种定向耦合器、模式相关损耗补偿器件及系统和方法,所述系统包括依次连接的复用端、少模光纤、光放大器、模式相关损耗补偿器件和解复用端;其中,复用端将多路基模信号转换成不同模式并行传输的少模信号;少模信号中的不同模式在长距离的少模光纤中传输并受到不同程度的损耗;光放大器对经过少模光纤传输后少模信号中的不同模式进行放大,不同模式得到不同程度的增益,因此不同模式的能量将产生差异;模式相关损耗补偿器件对增益后少模信号中不同模式的能量进行均衡,使不同模式的能量归于相同值;解复用端将均衡后承载着不同模式的少模信号统一转换成多路基模信号输出,实现模式相关损耗的补偿。
  • 一种定向耦合器模式相关损耗补偿器件系统方法
  • [发明专利]高频介质器件-CN99802224.1无效
  • K·霍里 - 皇家菲利浦电子有限公司
  • 1999-11-03 - 2001-03-21 - H01P3/08
  • 本发明的目的是提供一种具有减小了欧姆损耗的介质器件,特别是提供一种高频应用的介质器件,在该介质器件中,能够减小高频分量的损耗,更具体说,是这样一种多层介质器件。按照本发明,该介质器件包括至少一片其上设有导体(6)的介质(1)和层叠在该介质(1)上的另一片介质(7),其特征在于,在导体(6)的侧沿(8)附近设有介电常数低于所述两片介质(1,7)介电常数的介质(9
  • 高频介质器件

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