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[发明专利]一种薄板金属薄膜试样的制备方法-CN201110303133.2有效
发明人：杨静;徐荣杰;徐烽;隋晓红;张之胜;李桂艳;赵宝纯 -专利权人：鞍钢股份有限公司
申请日： 2011-09-29 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开一种薄板金属薄膜试样的制备方法，具体步骤如下：机械预减薄：手持薄板试样一端，用打磨金相试样的砂轮机将试样的另一端打磨到0.5mm±0.1mm；化学预减薄：腐蚀溶液Hcl∶HNO3∶H2O的体积比为3∶1∶(0～12)，把试样经过砂轮打磨的一端放入腐蚀液中腐蚀，将试样最终减薄到0.3mm±0.1mm；砂纸减薄：将砂纸置于玻璃板上，用剪刀在化学减薄后的试样上剪一块试样，手握研磨块按压住试样，带动试样在砂纸上来回研磨；将试样用切样器切成圆片，用双喷电解仪或离子减薄仪将试样穿孔减薄。本发明解决了薄板试样制样难、制样效率低、试样表面有干扰层无法反应金属组织真实情况等问题。
一种薄板金属薄膜试样制备方法

[发明专利]TEM样品再制备的方法-CN201310597931.X有效
发明人：史燕萍 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-11-22 - 公布日： 2014-03-19 - 主分类号： G01N1/32 文献下载
摘要：本发明提供一种TEM样品再制备的方法，所述方法包括：将一表面设置有若干TEM样品的第一金属网底部腾空架置于一样品座上；于所述TEM样品中找到需要进行再制样的特殊样品；将所述特殊样品转移至一第二金属网上；对所述特殊样品进行减薄，形成精加工样品；对所述精加工样品进行TEM观测。通过本发明的方法能够将需要进一步减薄的特殊样品从若干个置样品中筛选出来，并进行进一步的减薄，而对于不需要进行进一步减薄的特殊样品则直接进行TEM观测，这样既保证了制样过程的快速，同时还提高了制样的成功率
tem 样品制备方法

[发明专利]一种适于异种材料焊接接头界面分析的透射电镜制样方法-CN202010435646.8在审
发明人：马晓丽;刘礼;王立强 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2020-05-21 - 公布日： 2020-09-04 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种适于异种材料焊接接头界面分析的透射电镜制样方法，将可识别界面的异种材料焊接接头样品依次经磨制、冲片、凹坑减薄和离子减薄处理，获得可观察焊接熔合区界面微观组织、晶体结构和成分分析的透射电镜实验样品通过本发明方法，利用离子减薄技术对难制备异种材料焊接接头样品进行制备，操作方法简单易行，提高制样效率，且制样工艺简单，成本低廉，成功率高，为异种材料焊接接头可肉眼识别界面的透射电镜制样提供了新的解决方案
一种适于材料焊接接头界面分析透射电镜制样方法

[发明专利]电解双喷制备细丝纵截面透射电镜薄膜样品的方法-CN201310218516.9无效
发明人：郝京丽;鞠新华;孟杨;蔡宁 -专利权人：首钢总公司
申请日： 2013-06-04 - 公布日： 2013-10-02 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：一种电解双喷制备细丝纵截面透射电镜薄膜样品的方法，属于透射电镜制样领域。利用电解双喷方法和直径3.0mm孔径样品夹实现了直径1.0mm细丝样品纵截面薄膜的成功制备，并利用透射电镜进行组织和第二相分析。优点在于，采用电解双喷仪对细丝样品纵截面的两面同时进行抛光和减薄，抛光和减薄时间仅需数10秒~2分钟，能精确的获取组织和第二相，这种制样方法减少了部分制样设备的使用，降低了成本，提高了制样效率和成功率。
电解制备细丝截面透射薄膜样品方法

[实用新型]一种透射电镜试样化学减薄夹具-CN200820108760.4无效
发明人：崔华;蔡元华;熊小涛;钱大益 -专利权人：北京科技大学
申请日： 2008-06-20 - 公布日： 2009-04-22 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：一种透射电镜试样化学减薄夹具，属于实验设备技术领域，涉及到透射电镜制样的工具。包括耐酸的上卡套、下卡套、密封圈和防腐螺钉。透射电镜试样放置在两卡套中间，通过卡套的夹紧作用，使试样两面的密封圈紧紧贴在试样表面，起到密封的效果，避免减薄液流向试样边缘而产生非均匀侵蚀减薄，实现透射电镜试样的均匀减薄。
一种透射试样化学夹具

[发明专利]一种析出强化铁基和镍铁基合金透射样品的制备方法-CN202310012644.1在审
发明人：张鹏;李力敏;严靖博;袁勇;杨珍;党莹樱;黄锦阳 -专利权人：华能国际电力股份有限公司;西安热工研究院有限公司
申请日： 2023-01-05 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种析出强化铁基和镍铁基合金透射样品的制备方法，在电化学减薄之前先将合金样品的厚度减薄至31～35μm，该方法使得电化学减薄能够同时腐蚀具有不同γ′相颗粒尺寸及体积分数的析出强化铁基高温合金和镍铁基高温合金从而制备出这些合金的高质量薄膜透射样品而且大大缩短了金属材料透射电镜薄片样品的制备时间，通过该方法制备的透射样品表面光亮，薄区大、厚度均匀，制样成功率高，解决了透射电镜样品制样难的问题。
一种析出强化镍铁基合金透射样品制备方法

[发明专利]一种透射电镜粉末试样的制备方法-CN201010131319.X无效
发明人：范洪涛;王莉 -专利权人：国家纳米技术与工程研究院
申请日： 2010-03-24 - 公布日： 2011-09-28 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：取适量分散好的液体滴于载网之上，自然风干；采用磁控溅射技术，溅射沉积一层金属薄膜，用所沉积的薄膜将待分析颗粒包覆固定于载网之上；溅射完毕之后，沿着载网边缘将溅射薄膜剪掉；将固定有待分析颗粒的载网放入离子减薄仪减薄，直至减漏为止；待样品中心穿孔后即可取下放入电镜中观察。该方法解决了许多颗粒大、结构复杂、不易粉碎或者不能粉碎粉末样品的制样困难，解决了观察区域受限，制样容易污染的问题，是一种制样成功率高，适应性强的制样方法。
一种透射粉末试样制备方法

[发明专利]一种块体材料平面透射电镜样品的制备方法-CN202011314203.X在审
发明人：付新;贾荣光;李聪;于海燕;何少卿;杜志伟 -专利权人：国标（北京）检验认证有限公司;国合通用测试评价认证股份公司
申请日： 2020-11-20 - 公布日： 2021-03-05 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了属于透射电镜制样与分析技术领域的一种块体材料平面透射电镜样品的制备方法。具体步骤为1)将块体材料加工成薄片，固定于减薄用的环体表面；2)将薄片减薄至中心出现孔洞；3)在孔洞边缘观察粗定位，确定待分析制样的矩形选区；4)在分析制样的矩形选区表面沉积保护层；5)将镀过保护层的矩形选区三边切空将截面修理平整；6)将纳米机械手与第四边的对边截面焊接后将第四边切空，矩形选区与薄片脱离；7)提取矩形选区焊接至FIB载网的柱体上；8)调整样品台使离子束垂直于矩形选区的截面入射，截面镀保护层，然后最终减薄
一种块体材料平面透射样品制备方法

[实用新型]一种金属材料检测试样的减薄制样装置-CN202223063845.4有效
发明人：张青;严文谨;刘需;董伊康;薛仁杰;宋帅;高云哲 -专利权人：河钢股份有限公司
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：一种金属材料检测试样的减薄制样装置，属于金属材料样品检测试样的制备设备技术领域，用于对金属材料检测试样进行减薄。样品台的中心有样品孔，样品放置在样品孔中，下压平台上表面固定有螺母座，螺母座上方焊接螺母，螺旋杆的下端穿过螺母与下压平台的上表面相对，螺旋杆的上部穿过上支撑板的中心通孔与把手固定连接，电动机通过伞齿轮与磨样杆相连接，磨样杆上端有磨石与样品底面相对。本实用新型可以对金属材料切片进行精确减薄，达到制样高效、样品均匀的目的。
一种金属材料检测试样减薄制样装置

[发明专利]一种用于透射电镜观察的化学沉积镍固定合金粉末制样方法-CN02124156.2无效
发明人：胡本芙;李慧英;陈焕铭;宋铎 -专利权人：北京科技大学
申请日： 2002-07-12 - 公布日： 2003-05-28 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于透射电镜观察的化学沉积镍固定合金粉末制样方法，其特征在于采用按配比配好沉积溶液并置于烧杯中，然后将涂有粉末的铜块轻轻放入盛有沉积液的烧杯中的绝缘片上；将烧杯平稳地放入恒温(83－92将沉积在铜块上的薄膜取下，再粘贴在毛玻璃上，用砂纸打磨至30－50μm，取下后冲成直径为3mm的小圆片用于离子减薄。离子薄化器的真空度为10－5－10－4Pa，电流0.6－0.2mA、电压4.5－7KV，减薄时间5－10小时，离子束角度7－20度；经上述制度减薄后，有部分粉末颗粒边缘近中心区域出现薄区。本发明具有设备简单、操作易控制、制样成功率高等优点。
一种用于透射观察化学沉积固定合金粉末方法

[发明专利]TEM样品的制备方法-CN201310262908.5无效
发明人：陈强;孙蓓瑶 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-06-27 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：一种TEM样品的制备方法，包括：步骤S1：根据测试之需，设定制样方案；步骤S2：根据所述制样方案将所述样品减薄；步骤S3：对所述减薄后的样品之底部进行U形切；步骤S4：将所述经过U形切的样品旋转90°；步骤S5：在所述样品表面沉积作为保护层的电子束铂和离子束铂；步骤S6：切至目标处进行观测分析；步骤S7：根据所述观测分析结果优化所述制样方案；步骤S8：重复实施步骤S2～S7，直至所制样品符合要求。本发明所述TEM样品的制备方法，可以快速、方便地对按照预定方案制备出的TEM样品进行分析，了解样品的厚度、均匀性、污染程度等各方面情况，辅助调整制样方案，对新结构的TEM样品制备或新TEM样品制备人员的培训具有极大的帮助
tem 样品制备方法

[发明专利]一种超细金属丝纵截面透射电镜样品薄膜的制备方法-CN201711379373.4在审
发明人：方峰;周立初;蒋建清;周雪峰;涂益友;陈得友 -专利权人：东南大学
申请日： 2017-12-20 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：一种超细金属丝纵截面透射电镜样品薄膜的制备方法，截取金属丝样品并拉直固定；将一对钼圆环上下贴于金属丝上，使金属丝从钼圆环中空部位露出即可，剪断钼环外的金属丝完成封装；将封装好的钼环放入离子减薄仪的样品台上，离子能量1~5Kev，离子束入射角1°~10°进行减薄，观察样品减薄的情况，当金属丝从中间出现穿孔或断开后，即可将样品取出得超细金属丝纵截面透射电镜样品薄膜。本发明操作简单，成功率高，制样成本低，还可避免制样过程中出现的变形、污染、非晶化等问题，大幅降低了样品存取、保存的难度；可以广泛用于制备极细直径的金属丝纵截面样品。 1
金属丝纵截面透射电镜样品超细金属丝制备薄膜圆环制样钼环封装金属丝样品离子减薄离子能量样品存取样品减薄中空部位非晶化离子束入射角穿孔截取断开放入剪断减薄拉直成功率变形取出保存观察污染

[发明专利]一种透射电镜原位电场超薄片样品无污染电极的制备方法-CN202111414669.1在审
发明人：傅正钱;胡腾飞;姚鹤良;冯景伟;许钫钫 -专利权人：中国科学院上海硅酸盐研究所
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01N23/02 文献下载
摘要：本发明提供一种透射电镜原位电场超薄片样品无污染电极的制备方法，包括如下步骤：步骤(1)，提供待测块状试样，并进行抛光、打磨，得到预制样；步骤(2)，将预制样和金属环粘接成预减薄试样进行减薄处理，然后在金属环的一面沉积一层碳膜；步骤(3)，将步骤(2)得到的样品放入一制样模具的圆形凹槽中，沉积有碳膜的一面朝下；步骤(4)，将具有两个半圆形孔的挡板盖住位于所述凹槽内的样品，以挡住样品的中间薄区；步骤(5)，将一光阑与所述制样模具的凹槽中心对齐固定
一种透射原位电场薄片样品无污染电极制备方法

[实用新型]反应仓和分子杂交仪-CN202221743612.6有效
发明人：程亮;罗铖 -专利权人：广州安必平自动化检测设备有限公司
申请日： 2022-07-05 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： C12M1/34 文献下载
摘要：本实用新型公开一种反应仓和分子杂交仪，其中，反应仓包括仓主体和仓盖，仓主体包括多个并行设置的单元仓，每个单元仓内均设置有一个反应腔，相邻两个单元仓之间固定连接，反应腔的一端开口，仓盖封堵开口，仓盖上对应每个反应腔均设置有减薄区，加样管能够刺穿减薄区插入反应腔内。通过设置减薄区，减薄区的厚度较小，当加样管对减薄区进行挤压时，减薄区会被刺穿，使得加样管能够插入到反应腔内进行加样作业，避免直接在仓盖上设置通孔，从而避免反应腔内待检测的样品被污染；通过设置相邻两个单元仓之间固定连接，可以保持仓主体的结构和形状，避免在加样作业期间单元仓分离影响作业效率。
反应分子杂交

[发明专利]TEM原位观察材料基体/钝化膜界面结构的样品制备方法-CN201410574975.5有效
发明人：屈定荣;蒋秀;刘小辉 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
申请日： 2015-05-04 - 公布日： 2019-07-19 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种TEM原位观察材料基体/钝化膜界面结构的样品制备方法，其包括：第一步，金相制样；第二步，离子溅射减薄；第三步，腐蚀金属试样，获得样品。本发明提供的TEM原位观察材料基体/钝化膜界面的样品制备方法，既避免了传统TEM制样方法对界面附近钝化膜的破坏作用，又解决了采用聚焦离子束制样操作复杂，成功率低的问题。
钝化膜材料基体样品制备原位观察界面结构制样聚焦离子束金属试样金相制样离子溅射减薄成功率腐蚀

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