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[发明专利]光学特性测定装置-CN201780024344.8有效
发明人：鹤谷克敏 -专利权人：柯尼卡美能达株式会社
申请日： 2017-04-14 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：光学特性测定装置具备成像光学系统、光阑部、影像传感器、运算部。上述成像光学系统在能够从虚像显示装置的射出光瞳的位置观察到的虚像由上述虚像显示装置显示的状态下，使由通过上述射出光瞳的位置的光构成的上述虚像在规定的位置成像。上述运算部利用从上述影像传感器输出的信号来运算上述射出光瞳上的各位置的光学特性。
光学特性测定装置

[发明专利]透镜的折射特性测定装置-CN200510002926.5无效
发明人：柳英一;中村新一 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2005-01-26 - 公布日： 2005-08-03 - 主分类号： G02C7/06 文献下载
摘要：本发明是关于一种透镜的折射特性测定装置，其包括测定透镜的折射特性的测定光学装置、测定眼镜佩戴者眼睛的瞳孔距离的瞳孔测定装置、与前述测定光学装置和瞳孔测定装置连接的运算控制电路；该运算控制电路采用可根据前述测定光学装置所测定的折射特性和前述瞳孔测定装置所测定的眼睛瞳孔距离，求位于眼镜佩戴者的瞳孔中心位置的透镜折射特性的构成。
透镜折射特性测定装置

[发明专利]光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法-CN201610532006.2有效
发明人：大泽祥宏;水口勉;野口宗裕 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2016-07-07 - 公布日： 2020-09-01 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括：第一检测元件，其配置在壳体内；第一冷却部，其至少局部与第一检测元件接合，用于冷却检测元件；以及抑制机构，其用于抑制在壳体内的检测元件的周围产生的温度变化。
光学特性测定系统以及校正方法

[发明专利]光学特性测定装置以及光学系统-CN201611160666.9有效
发明人：冈本宗大;佐野弘幸 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2016-12-15 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：提供一种能够实现小型化且提高了通用性的光学特性测定装置以及光学系统。光学特性测定装置包含：第一光学元件，其将来自被测定物的测定光变换为平行光；反射型透镜，其通过反射来自第一光学元件的平行光来将该平行光变换为会聚光；受光部，其接收来自反射型透镜的会聚光；以及驱动机构，其使第一光学元件相对于被测定物的相对位置变化
光学特性测定装置以及光学系统

[发明专利]光学测定装置-CN200580010241.3无效
发明人：矢野敬和;松本健志;福田匡广;杉浦美晴 -专利权人：西铁城时计株式会社
申请日： 2005-03-29 - 公布日： 2007-03-28 - 主分类号： G01N30/96 文献下载
摘要：本发明的目的是提供一种为了试样的前处理设置离子交换树脂，可以以更高精度测定浓度的光学测定装置。本发明的光学测定装置的特征在于具有离子交换树脂和对通过离子交换树脂的试样的成分的浓度根据成分的光学特性进行测定的光学测定部。
光学测定装置

[实用新型]眼科测定装置-CN201220120269.X有效
发明人：滨口浩二;乡野光宏 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2012-03-27 - 公布日： 2012-12-12 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：本实用新型提供一种眼科测定装置。该眼科测定装置包括：测定光学系统，其包括：照射光学系统，向受检眼照射测定光；以及受光光学系统，所述受光光学系统通过与外部空气接触的透光构件，通过受光元件接收由受检眼反射测定光而得到的反射光；以及装置主体，容纳测定光学系统，并且在受检眼一侧保持透光构件，所述眼科测定装置根据来自受光元件的输出信号测定受检眼的眼特性，所述眼科测定装置还包括除去与外部空气接触的透光构件上的结露的结露除去装置。所述的眼科测定装置使用方便，并能得到稳定的测定结果。
眼科测定装置

[发明专利]光学特性测定装置以及光学特性测定方法-CN201580027456.X有效
发明人：鹤谷克敏 -专利权人：柯尼卡美能达株式会社
申请日： 2015-05-26 - 公布日： 2018-05-25 - 主分类号： G01J3/51 文献下载
摘要：在本发明的光学特性测定装置以及该方法中，以相互不同的精度，通过第1及第2分光测定部对被测定光进行分光来测定，根据它们的第1及第2测定结果来求出所述被测定光的预定的光学特性，所述第1及第2分光测定部中的第1及第2测定角中的至少一方能够通过测定角可变光学系统而可变。
光学特性测定装置分光测定测定光光学特性测定可变光学系统光学特性可变分光

[发明专利]光学特性测定装置和光学特性测定方法-CN201780050938.6有效
发明人：石丸伊知郎 -专利权人：国立大学法人香川大学
申请日： 2017-08-18 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：在试样(20)中形成了声驻波的状态下向试样(20)的表面照射了光时的检测器(50)的检测结果和在试样(20)中没有形成声驻波的状态下向试样(20)的表面照射了光时的检测器(50)的检测结果，求出作为试样的光学特性的吸光度
光学特性测定装置方法

[发明专利]光学特性测定装置以及光学特性测定方法-CN201711363844.2有效
发明人：冈本宗大;佐佐木勇贵;罗先钦 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2017-12-18 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光，生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱，测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小，确定用于光学特性的测定的检测数据，基于所确定的检测数据，测定光学特性(S6、S6A)。
光学特性测定装置以及方法

[发明专利]透镜测定装置-CN200710104115.5无效
发明人：黑濑实;荒川和久;野口泰裕 -专利权人：富士能株式会社
申请日： 2007-05-16 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：提供一种透镜测定装置，其测定透镜(1)的光学特性，当收容透镜(1)的托盘(7)配置在测定位置上时基于托盘(7)所属的信息检测托盘(7)所收容的透镜(1)的种类，根据其透镜(1)的种类进行测定部(2)的测定设定由此无需根据装置的操作者测定的透镜(1)的种类进行测定的设定，而测定作业顺利进行。另外具备对透镜(1)测定多个不同的光学特性的测定部(2)，当由其测定部(2)测定的透镜(1)的光学特性不在允许范围内且透镜(1)判断为不良时，按不良内容而采用不同的色彩来显示该不良内容。由此能通过色彩容易识别透镜对哪个光学特性变为不良。
透镜测定装置

[发明专利]光学元件特性测定装置-CN201680059885.X有效
发明人：桂光广 -专利权人：卡驰诺光电系统股份有限公司
申请日： 2016-07-04 - 公布日： 2020-01-03 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：提供一种同时照射从反射光传感器部的光轴观察时光强度分布呈环状的集束光、以及向被检透镜的中心附近照射的平行光线来测定被检透镜的特性值的装置。提供一种透镜的面偏移量测定装置，其通过对透过被检透镜的环状的集束光、或向被检透镜的中心附近照射的平行光线的聚光点位置进行测定，从而不必使被检透镜旋转，即可测定被检透镜的面偏移量。光学元件特性测定装置具备将光强度分布呈环状的集束光、以及平行光线向被检光学元件照射的环状集束光照射光部，被检光学元件的处于环状集束光照射光部侧的面为表面，表面的相反侧为背面，通过对在被检光学元件的表面或背面反射或透过被检光学元件的光线的强度、或所述光线的光路进行解析，来测定被检光学元件的形状特性。
透镜光学元件集束光平行光线照射特性测定装置面偏移照射光背面反射光传感器光强度分布量测定装置强度分布形状特性聚光点相反侧部侧光路光轴反射解析观察

[发明专利]眼镜镜片测定装置及眼镜镜片测定程序-CN202080089974.5在审
发明人：水野胜保;小林俊洋;栃久保裕司郎;松原祐一 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：测定眼镜镜片的眼镜镜片测定装置具备：光源，朝向眼镜镜片照射测定光束；透过型显示器，使来自光源的测定光束透过，能够显示通过排列多个指标而形成的指标图案；显示控制单元，控制指标图案的显示；检测器，检测经由了眼镜镜片和透过型显示器的测定光束；光学特性取得单元，基于检测器的检测结果来取得眼镜镜片的光学特性；及镜片信息取得单元，基于检测器的检测结果来取得眼镜镜片的与光学特性不同的镜片信息，通过指标图案被显示而取得光学特性，通过指标图案的至少一部分被设为非显示而取得镜片信息由此，能够将眼镜镜片的光学特性和镜片信息以容易的结构高精度地取得。
眼镜镜片测定装置程序

[发明专利]光学测定系统和光学测定方法-CN202010074101.9在审
发明人：冈本宗大;稻野大辅;森本晃一;田口都一;龟本智彦 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2020-01-22 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测定系统和光学测定方法，提供一种针对在以往的光学测定装置中测定精度可能降低的样品也能够更高精度地测定光学特性的结构。光学测定系统包括：光源，其发出用于向样品照射的测定光；分光检测器，其接收由测定光在样品处产生的反射光或透射光；以及处理装置，其被输入分光检测器的检测结果。处理装置构成为能够执行以下处理：基于分光检测器的检测结果，来计算第一光谱；在第一光谱中确定与波长有关的振幅的变化满足规定条件的区间；以及使用从第一光谱去除所确定的区间的信息所得到的第二光谱，来计算样品的光学特性
光学测定系统方法

[发明专利]波面测定用干涉仪装置、光束测定装置及方法-CN200510075905.6无效
发明人：葛宗涛;斋藤隆行;黑濑实 -专利权人：富士能株式会社
申请日： 2005-06-03 - 公布日： 2005-12-14 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明提供一种具有构成简单且小型的光学系统，并且能够容易进行光学系统调节的波面测定用干涉仪装置及能够进行光束的波面测定和光束点的特性测定的光束测定装置及方法。该光束测定装置(10A)，具备将从光源部(11)射出的光束分离为2个光束的分光器(13)、将被分离的一个光束的一部分作为被检光束向与入射方向相反方向反射的半透过反射面(15a)和将透过半透过反射面(15a)的一部分光束转换成进行了波面整形的基准光束并射出的反射型基准光生成装置(23)，能够进行光束的波面测定和光束点的特性测定。
测定干涉仪装置光束方法

[发明专利]光学角度特性测定装置-CN98811260.4无效
发明人：筒井和典;岡宏一;船户正好;川口晃;浜田哲男;辻尾典男 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 1998-11-19 - 公布日： 2001-01-10 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：一种用来作为散射角的函数测量来自试样的散射光的强度的装置,包括一个用来反射来自试样(23)的散射光并使之聚焦的椭圆面反射镜(24),一个位于来自椭圆面反射镜(24)的反射光的焦点并把出现在椭圆面反射镜(
光学角度特性测定装置

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