[发明专利]光学特性测定装置以及光学特性测定方法有效
| 申请号： | 201580027456.X | 申请日： | 2015-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN106461465B | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 鹤谷克敏 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/51 | 分类号： | G01J3/51;G01J1/02;G01J3/02;G01M11/00;G01N21/27;G01N21/57 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 金光华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在本发明的光学特性测定装置以及该方法中，以相互不同的精度，通过第1及第2分光测定部对被测定光进行分光来测定，根据它们的第1及第2测定结果来求出所述被测定光的预定的光学特性，所述第1及第2分光测定部中的第1及第2测定角中的至少一方能够通过测定角可变光学系统而可变。 | ||
| 搜索关键词： | 光学特性测定装置 分光测定 测定光 光学特性测定 可变光学系统 光学特性 可变 分光 | ||
【主权项】：
1.一种光学特性测定装置，其特征在于，具备：第1及第2分光测定部，以相互不同的第1及第2精度对被测定光进行分光来测定；测定角可变光学系统，使所述第2分光测定部的第2测定角可变；以及光学特性运算部，根据所述第1及第2分光测定部各自的第1及第2测定结果，求出所述被测定光的预定的光学特性，所述第1精度比所述第2分光测定部的第2精度高。
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