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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]主观式验光装置及主观式验光程序-CN201710787259.9有效
  • 泷井通浩;羽根渊昌明;河合规二 - 尼德克株式会社
  • 2017-09-04 - 2022-02-11 - A61B3/032
  • 本发明提供一种主观式验光装置及主观式验光程序，在主观地测定被检眼的光学特性时，高精度地测定被检眼的光学特性。该主观式验光装置主观地测定被检眼的光学特性，具备：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定被检眼的光学特性，其中，主观式验光装置包括：客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定被检眼的光学特性；以及控制单元，在通过主观式测定部主观地测定被检眼的光学特性的期间，通过客观式测定部客观地测定被检眼的光学特性
  • 主观验光装置程序
  • [发明专利]焦度计和眼镜片的光学特性的测定方法-CN201510909286.X有效
  • 梶野正;栃久保裕司郎;小林俊洋 - 尼德克株式会社
  • 2015-12-10 - 2019-11-01 - G01M11/02
  • 本发明提供焦度计和眼镜片的光学特性的测定方法，能容易地高精度地取得眼镜片的光学特性和瞳孔间距离中的至少一方，所述眼镜片的光学特性的测定方法使用了所述焦度计和计算程序。所述焦度计具备测定放置于被设置为能分别放置眼镜的左右的眼镜片的左右一对放置部上的左右的眼镜片的各片的左右一对测定光学系统、以及基于通过测定得到的眼镜片的测定结果计算光学特性的控制部，所述控制部基于计算出的光学特性，计算将测定光学系统的光轴作为基准的眼镜片的光学中心的偏移量，并且基于所述偏移量对光学特性和瞳孔间距离中的至少一方进行修正处理。
  • 焦度计眼镜片光学特性测定方法
  • [发明专利]透镜的折射特性测定装置-CN200510002926.5无效
  • 柳英一;中村新一 - 株式会社拓普康
  • 2005-01-26 - 2005-08-03 - G02C7/06
  • 本发明是关于一种透镜的折射特性测定装置，其包括测定透镜的折射特性的测定光学装置、测定眼镜佩戴者眼睛的瞳孔距离的瞳孔测定装置、与前述测定光学装置和瞳孔测定装置连接的运算控制电路；该运算控制电路采用可根据前述测定光学装置所测定的折射特性和前述瞳孔测定装置所测定的眼睛瞳孔距离，求位于眼镜佩戴者的瞳孔中心位置的透镜折射特性的构成。
  • 透镜折射特性测定装置
  • [发明专利]主觉式验光装置-CN201910921800.X在审
  • 泷井通浩;平山幸人 - 尼德克株式会社
  • 2019-09-27 - 2020-04-07 - A61B3/028
  • 提供抑制检测单元的影响而能够他觉性地良好测定被检眼的光学特性的主觉式验光装置。具备验光单元，该验光单元具有光学构件，配置在被检眼的眼前，使用光学构件来变更视标光束的光学特性，主觉式验光装置将视标光束经由验光单元向被检眼投影，用于主觉性测定被检眼的光学特性，其中具备测定光学系统，该测定光学系统具有投光光学系统和受光光学系统并他觉性测定被检眼的光学特性，投光光学系统具有射出测定光的测定光源，将从测定光源射出的测定光经由验光单元向被检眼的眼底照射，受光光学系统经由验光单元而利用检测器接受由被检眼的眼底反射的测定光的反射光，主觉式验光装置设定为测定光学系统的光轴相对于验光单元的光学构件的光轴成为轴外
  • 主觉式验光装置
  • [发明专利]光学特性测定装置以及光学特性测定方法-CN201711363844.2有效
  • 冈本宗大;佐佐木勇贵;罗先钦 - 大塚电子株式会社
  • 2017-12-18 - 2021-11-02 - G01B11/06
  • 本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光，生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱，测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小，确定用于光学特性的测定的检测数据，基于所确定的检测数据，测定光学特性(S6、S6A)。
  • 光学特性测定装置以及方法
  • [发明专利]透镜测定装置-CN200710104115.5无效
  • 黑濑实;荒川和久;野口泰裕 - 富士能株式会社
  • 2007-05-16 - 2007-11-28 - G01M11/02
  • 提供一种透镜测定装置，其测定透镜(1)的光学特性，当收容透镜(1)的托盘(7)配置在测定位置上时基于托盘(7)所属的信息检测托盘(7)所收容的透镜(1)的种类，根据其透镜(1)的种类进行测定部(2)的测定设定由此无需根据装置的操作者测定的透镜(1)的种类进行测定的设定，而测定作业顺利进行。另外具备对透镜(1)测定多个不同的光学特性的测定部(2)，当由其测定部(2)测定的透镜(1)的光学特性不在允许范围内且透镜(1)判断为不良时，按不良内容而采用不同的色彩来显示该不良内容。由此能通过色彩容易识别透镜对哪个光学特性变为不良。
  • 透镜测定装置
  • [发明专利]主观式检眼装置-CN202111055220.0在审
  • 滝井通浩;羽根渕昌明;越智永 - 尼德克株式会社
  • 2016-11-03 - 2022-01-18 - A61B3/00
  • 主观式检眼装置具备主观式测定部和客观式测定部，主观式测定部主观地测定上述受检眼的光学特性，并具有：向受检眼投影视标光束的投光光学系统；具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统且配置于上述投光光学系统的光路中变更上述视标光束的光学特性的矫正光学系统；为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光的光学部件，客观式测定部具有向上述受检眼的眼底射出测定光并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，客观式测定部经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。
  • 主观式检眼装置
  • [发明专利]主观式检眼装置-CN201610959315.8有效
  • 滝井通浩;羽根渕昌明;越智永 - 尼德克株式会社
  • 2016-11-03 - 2022-01-04 - A61B3/032
  • 主观式检眼装置具备主观式测定部和客观式测定部，主观式测定部主观地测定上述受检眼的光学特性，并具有：向受检眼投影视标光束的投光光学系统；具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统且配置于上述投光光学系统的光路中变更上述视标光束的光学特性的矫正光学系统；为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光的光学部件，客观式测定部具有向上述受检眼的眼底射出测定光并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，客观式测定部经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。
  • 主观式检眼装置
  • [发明专利]眼镜镜片测定装置及眼镜镜片测定程序-CN202080089974.5在审
  • 水野胜保;小林俊洋;栃久保裕司郎;松原祐一 - 尼德克株式会社
  • 2020-12-18 - 2022-08-12 - G01M11/00
  • 测定眼镜镜片的眼镜镜片测定装置具备：光源，朝向眼镜镜片照射测定光束；透过型显示器，使来自光源的测定光束透过，能够显示通过排列多个指标而形成的指标图案；显示控制单元，控制指标图案的显示；检测器，检测经由了眼镜镜片和透过型显示器的测定光束；光学特性取得单元，基于检测器的检测结果来取得眼镜镜片的光学特性；及镜片信息取得单元，基于检测器的检测结果来取得眼镜镜片的与光学特性不同的镜片信息，通过指标图案被显示而取得光学特性，通过指标图案的至少一部分被设为非显示而取得镜片信息由此，能够将眼镜镜片的光学特性和镜片信息以容易的结构高精度地取得。
  • 眼镜镜片测定装置程序
  • [发明专利]光学膜的制造方法-CN201780035284.X有效
  • 首藤俊介;佐木晓 - 日东电工株式会社
  • 2017-05-31 - 2021-03-09 - C23C14/54
  • 当在膜基材上形成多层光学薄膜的光学膜的制造的预备成膜时，通过对多个溅镀室同时通电来在膜基材上形成两个以上的不同种类材料的薄膜的层叠体，并且根据由设置于溅镀装置内的光学测定部(80)得到的光学特性计算多个薄膜的膜厚重复进行膜厚的测定和薄膜的成膜条件的调整直至由光学测定部得到的光学特性或根据光学特性计算的多个薄膜的膜厚处于规定范围内为止。
  • 光学制造方法
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