专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种加工硅通互连结构的工艺方法-CN200910060750.7有效
  • 刘胜;高鸣源;胡程志;吴一明 - 华中科技大学
  • 2009-02-13 - 2009-07-15 - H01L21/768
  • 本发明公开了一种加工硅通互连结构的工艺方法,步骤为:①在基板上刻蚀盲;②在基板上沉积一层图案化电质层;③刻蚀图案化电质层,刻蚀掉盲底部的电材料,保留盲侧壁的电材料,在基板上形成电质;④在电质上沉积一层导电材料,形成导电;⑤在导电层上再沉积一层图案化电质层,填充导电;⑥刻蚀板背面,暴露出导电层,在导电层上形成焊料微凸点。图案化电质层的材料优选聚对二甲苯。本发明简化了工艺步骤,减少工艺时间并降低了费用;使用二层图案化电质层,降低了寄生电容,提升了互连电性能,适用于高速和RF的三维互连结构;缓解了导电材料和硅之间的热失配,在很大程度上减少了热机械应力。
  • 一种加工硅通孔互连结构工艺方法
  • [发明专利]一种含有停止层的集成电路电层结构-CN201010579276.1无效
  • 任丙振;张进刚 - 和舰科技(苏州)有限公司
  • 2010-12-08 - 2012-07-04 - H01L23/522
  • 本发明公开了一种含有停止层的集成电路电层结构,包括第一电层、金属层和第二电层;第一电层上设置有第一金属导,第二电层上设置有第二金属导,第一金属导和第二金属导形成堆叠金属导,其中,金属层与第二电层之间设置有停止层,该停止层的材质不同于金属层和第二电层的材质;或者,第二电层内部设置有停止层,该停止层的材质不同于第二电层中的其它材质。本发明设置有材质不同的停止层,利用其相同蚀刻工艺不同蚀刻速率的差异,来调节蚀刻深度,因此,本发明能够在保证金属导有足够过蚀刻量的前提下,有效减少金属导蚀刻的贯通量,进而能够避免后续溶剂清除过程中金属导钨栓塞被侵蚀
  • 一种含有停止集成电路介电层结构
  • [发明专利]一种微乳液制备Ag2-CN201711294537.3在审
  • 武全福 - 合肥华福土工合成材料有限公司
  • 2017-12-08 - 2018-05-18 - B01J23/52
  • 本发明公开了一种微乳液制备Ag2O/TiO2复合材料的方法,利用合成的聚苯乙烯微乳液为模板、钛酸四丁酯和硝酸银为无机源,在酸性条件下制备了的Ag/TiO2复合材料。利用N2吸附‑脱附曲线、HRTEM对制备的复合材料进行表征,结果表明制备的Ag/TiO2复合材料具有蠕虫状结构,孔径在8nm左右,Ag的掺杂降低了复合材料的比表面积以合成的复合体材料对污水中的污染物尤其是大分子污染物进行吸附、催化、光降解实验,实现对污染物的无害化处理。结果表明,掺杂了Ag原子的氧化钛很好地保持了结构的稳定性,复合体材料的孔径达7nm,且对甲基橙具有良好的光催化降解效果。
  • 一种乳液制备agbasesub
  • [发明专利]一种接触形成方法-CN202211128859.1在审
  • 许鹏凯;乔夫龙 - 上海华力微电子有限公司
  • 2022-09-16 - 2022-11-29 - H01L21/768
  • 本发明提供了一种接触形成方法,包括:提供形成有栅极结构、漏极区域、源极区域和外围区的衬底;形成第一质层于衬底上;对第一质层进行刻蚀,以在第一质层上对应源极区域和外围区的位置形成凹槽结构;形成刻蚀缓冲层于凹槽结构中;形成第二质层于第一质层上;形成依次贯穿第二质层、刻蚀缓冲层以及第一质层的源极接触或外围区接触和依次贯穿第二质层以及第一质层的漏极接触,其中源极接触和外围区接触的宽度均大于漏极接触的宽度本发明可改善不同宽度的接触刻蚀过程中负载效应的影响,使不同宽度的接触的刻蚀结果保持一致,从而解决了较宽的接触因过刻蚀引起的底部衬底损耗严重的问题。
  • 一种接触形成方法
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法-CN202210901255.X在审
  • 胡致嘉;王驭熊;陈明发 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-07-28 - 2023-06-06 - H01L23/528
  • 实施例是形成半导体结构的方法,包括:在第一衬底上方形成第一互连结构,第一互连结构包括电层和位于电层中的金属化图案,在第一互连结构上方形成再分布通,再分布通电耦接至第一互连结构的金属化图案中的至少一个,在再分布通上方形成再分布焊盘,再分布焊盘电耦接至再分布通,在再分布焊盘上方形成第一电层,以及在第一电层上方形成第二电层。该方法还包括图案化第一电层和第二电层,在再分布焊盘上方和第一电层中形成接合通,接合通电耦接至再分布焊盘,接合通与再分布通重叠,以及在接合通上方和第二电层中形成第一接合焊盘,第一接合焊盘电耦接至接合通
  • 半导体结构及其形成方法
  • [发明专利]一种氧化铟的制备方法-CN201710424449.4在审
  • 吴兴旺;王维 - 常州欧康铭化工有限公司
  • 2017-06-07 - 2017-11-24 - C01G15/00
  • 本发明涉及一种氧化铟的制备方法,属材料领域。本发明首先以石英砂为原料制备二氧化硅,再与碱反应得到硅酸钠溶液,接着以花粉为模板,将花粉浸渍硅酸钠溶液中,再将内部具有硅酸钠溶液的花粉进行煅烧,得到二氧化硅,再以二氧化硅为模板浸渍硝酸铟溶液中,再煅烧后,用碱将二氧化硅溶出,即可得到氧化铟,最后用水蒸气和二氧化碳对氧化铟进行活化改性,增大其比表面积。本发明制备的氧化铟孔径大小均一,制备过程中孔径大小易控制。
  • 一种氧化制备方法

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