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- [发明专利]一种半导体分立器件测试工装-CN202210218225.9在审
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丁加梅
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丁加梅
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2022-03-08
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2022-06-21
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G01R31/26
- 本申请实施例提供一种半导体分立器件测试工装,涉及半导体立器件领域。半导体分立器件测试工装包括:基座组件、容置工位组件、驱动组件、供料组件和测试组件。解除旋紧螺母对压盖板的压紧,第一固定杆在第一滑槽内滑动,通过该种方式,使不同内径的第一工位槽、第二工位槽和第三工位槽依次和容置槽对应,使不同规格的半导体分立器件穿过容置槽后落入与半导体分立器件相对应的第一工位槽、第二工位槽或者第三工位槽内,进而使该半导体分立器件测试工装可调节工位容纳槽直径,以此容纳不同直径的半导体分立器件,提高半导体分立器件和工位的契合度,减少效果半导体分立器件在工位内的位移,提高测试机构检测的准确性
- 一种半导体分立器件测试工装
- [实用新型]一种分立器件驱动放大电路-CN202222499783.5有效
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习建平
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新干晶芯微电子科技有限公司
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2022-09-21
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2023-03-03
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H03F3/183
- 本实用新型属于分立器件领域,尤其是一种分立器件驱动放大电路,针对现有分立器件驱动放大电路的输出端的功放管的耐压值BVceo不够高,便可能会将管子的集电极‑发射极击穿,可能会损坏分立器件的问题,现提出如下方案,其包括三极管BG1、三极管BG2、电阻R1和电阻R2,所述三极管BG1和三极管BG2并排设置,且三极管BG1和三极管BG2的一端引脚均与电阻R1相连接,三极管BG1和三极管BG2的另一端引脚分别连接有电阻本实用新型的分立器件驱动放大电路的输出端的功放管的耐压值稳定,可有效避免管子的集电极‑发射极击穿,并能避免造成分立器件的损坏。
- 一种分立器件驱动放大电路
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