专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体制冷器件-CN201010180493.3无效
  • 吴荣钢 - 上海科伟低压电器厂
  • 2010-05-18 - 2011-11-23 - H01L35/28
  • 一种半导体制冷器件,包括单晶、碲化钕化合层及矾化铊化合层;单晶呈薄片状,单晶表面设有一层保护层,通过高纯度的碲化钕的化合物及高纯度的矾化铊的化合物分别在单晶的两侧进行二次或多次掺杂,形成碲化钕化合层及矾化铊化合层本发明采用高纯度的碲化钕化合物和高纯度的矾化铊化合物对硅片进行二次或多次掺杂,半导体制冷材料的优值系数达到98%以上,制成的半导体制冷器件单片达到几十伏的工作电压和在风冷状态下达到数百瓦的制冷功率,同时可以极大的提高
  • 半导体制冷器件
  • [发明专利]矿产出单晶或多晶连续纯化反应处理装置及方法-CN200910080359.3有效
  • 金亦石;郭春宝;马毅红 - 金亦石;郭春宝;马毅红
  • 2009-03-19 - 2010-09-22 - C01B33/023
  • 本发明是有关于一种由矿产出单晶或多晶连续纯化反应处理装置及方法。该装置包括:批次进料室;高温熔融炉;高温震荡炉;高温还原炉;长单晶炉。该方法包括以下步骤:a、矿石制成粉原料;b、原料进入批次进料室;c、经第一PLC控制阀进入高温熔融炉;d、控制高温熔融炉的温度,将达纯度要求的二氧化硅送至高温还原炉;e、高温熔融炉经热裂解与气化排出杂质;f、高温熔融炉底部杂质液体流至高温震荡炉,经震动磁化去除;g、高温震荡炉中达纯度要求的二氧化硅送至高温还原炉;h、高温还原炉中经还原反应获得高纯度;i、高温还原炉内经回火热处理产生多晶送至长单晶炉;j、长单晶炉产出单晶棒。
  • 矿产单晶硅多晶连续纯化反应处理装置方法
  • [发明专利]利用含杂质材料制备高纯度单晶棒的方法及其装置-CN200910026142.4有效
  • 黄强 - 常州天合光能有限公司
  • 2009-03-31 - 2009-09-30 - C30B15/00
  • 本发明涉及单晶晶体棒制备技术领域,尤其是一种利用含杂质材料制备高纯度单晶棒的方法及装置,克服现有技术对含杂材料除杂不完全,而且将除杂和拉制分步进行带来生产资源的极大浪费和产品质量不稳定的缺陷,方法是使用直拉法在拉制单晶棒的前期和/或同时还具有使用辅助提杂装置对含杂溶液表面进行提取杂质的过程,相应的一种利用含杂质材料制备高纯度单晶棒的装置,具有炉体、炉体炉腔内的石墨坩埚、石墨坩埚下部的坩埚托盘、石墨加热器和石墨坩埚上部的保温上盖,保温上盖中部具有便于棒拉出的通孔,在石墨坩埚的上部还设置有至少一个向下伸向石墨坩埚埚内的杂质提取棒。
  • 利用杂质材料制备纯度单晶硅方法及其装置
  • [发明专利]一种单晶片的生产工艺-CN202211111076.2在审
  • 傅昭林;张超;代刚 - 成都青洋电子材料有限公司
  • 2022-09-13 - 2022-11-25 - B24B7/22
  • 本发明公开了一种单晶片的生产工艺,属于半导体材料生产技术领域,该单晶片的生产工艺包括以下步骤:步骤一:制备单晶坯:选取纯度高的工业,筛选去除工业之间混杂的杂质,再将工业与掺杂物放入长晶炉内,关闭长晶炉,并对长晶炉内部进行抽真空处理,抽真空完成后,再向长晶炉内通入高纯度氩气,此时再通过长晶炉内的加热装置加热工业,使得工业与掺杂物混合熔融形成熔体,当熔体的温度稳定后,向熔体内加入晶种,本发明能够充分提高单晶片质的量,使得单晶片可满足高精度工程的使用,且能够回收利用切削液,不仅进一步降低了成本的消耗,还降低了环境污染的问题。
  • 一种单晶硅生产工艺
  • [发明专利]直拉法生长单晶中利用氮-氩混合气体除杂-CN201010292543.7有效
  • 江国庆 - 江国庆
  • 2010-09-26 - 2012-04-11 - C30B27/02
  • 直拉法生长单晶中利用氮-氩混合气体除杂。屈半导体分离技术领域,单晶炉直拉式生产单晶棒(碇)过程中会存有多种杂质,其中氧是直拉法生长单晶中的主要杂质,由于氧的存在严重影响单晶的品质,本发明采用在高纯度的氩气中加入微量的氮气,用它们的混合气体来作保护气体,以去除直拉法生长单晶过程中的氧,氮-氩混合气体使炉内保持低压、惰性气氛,促使SiO的蒸发,随着SiO的蒸发量增大而降低熔体中的氧含量,加大混合气体的流速,能使反应气体、反应粉末和反应液体迅速排出单晶炉;本发明主要应用于直拉法生长单晶中的除杂,它效果好,提高了硅单晶的品质,达到高质量的单晶的生长。
  • 直拉法生长单晶硅利用混合气体
  • [发明专利]直拉硅单晶炉装置及硅单晶拉制方法-CN201010166018.0有效
  • 周俭 - 内蒙古晟纳吉光伏材料有限公司;周俭
  • 2010-05-07 - 2011-11-09 - C30B15/00
  • 本发明提供了一种提高单晶纯度的直拉单晶炉装置以及单晶拉制方法,该单晶炉装置的特征在于,在炉腔(16)中熔体(14)的上方设置一个两端开口长筒形的罩体(5),所述罩体(5)的上端设置于炉腔的上部,开口正对着副室,或设置于副室(1)内,罩体(5)与熔体(14)液面接近的一端与熔体(14)液面具有一间距。在单晶拉制过程中,将惰性气体从副室(1)流向罩体(5),再沿着罩体(5)从其下端流出,最终经排气口(12)排出。利用带有罩体的单晶炉装置以及拉制方法所得的单晶纯度比现有技术的方法所得单晶纯度提高了10倍以上,并且单晶棒各部分的纯度偏差也较小。
  • 直拉硅单晶炉装置硅单晶拉制方法
  • [发明专利]多晶棒的制造方法-CN200910132968.9有效
  • 水野亨彦;黑谷伸一;祢津茂义;小黑晓二 - 信越化学工业株式会社
  • 2009-04-03 - 2009-10-28 - C01B33/035
  • 本发明提供一种多晶棒的制造方法,其中,在制造棒时,使用从通过CZ法或FZ法培育而成的单晶锭切出的部件(单晶棒)作为芯线。具体而言,从切去单晶锭(10)的肩部(10s)和尾部(10t)而得到的主体部(10b)切出平板状(11),进而,切割成长条形而得到棒(芯线)(12)。在结晶生长轴方位为<100>的情况下,晶体习性线(h1~h4)为四根,棒(芯线)(12)按照其面与晶体习性线形成特定范围的偏角θ的方式切出。根据本发明,能够提供以现有方法无法得到的低杂质污染(高纯度)的多晶棒及单晶化效率高的FZ用多晶棒。
  • 多晶制造方法

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