专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]大气特征层检测方法及装置-CN201710794637.6有效
  • 周天;谢海玲 - 兰州大学
  • 2017-09-05 - 2020-04-07 - G01S17/95
  • 方法包括:获得米散射偏振激光雷达信号和气象数据;计算得到散射比和线性退偏比;采用阈值对大气特征层进行检测;采用经验阈值将检测到的大气特征层分类;迭代执行上述步骤,判断再次检测到的大气特征层和大气特征层的再次分类与上一次检测到的大气特征层和大气特征层的分类之间的差异是否小于设定阈值,直至最新检测到的大气特征层和大气特征层的最新分类与上一次检测到的大气特征层和大气特征层的分类之间的差异小于设定阈值,则采用连续小波分析修订大气特征层的最新分类。
  • 大气特征检测方法装置
  • [发明专利]一种电离层TEC异常探测的方法-CN201710388069.X有效
  • 王建波;孙佳龙;杜良 - 淮海工学院
  • 2017-05-27 - 2019-01-18 - G01V3/38
  • 本发明公开了一种电离层TEC异常探测的方法,主要步骤包括组成电离层TEC时间序列,利用SSA进行分解重构计算背景值,将背景值和观测值之差的绝对值采用滑动四分位距计算出探测当天各个时刻的限差值,进而计算出探测当天的上限值和下限值本发明基于滑动奇异谱分析方法,对电离层TEC异常探测,既考虑了探测时刻电离层TEC的背景值,又将时间序列观测值和背景值之差的绝对值用传统滑动四分位距计算当天每个时刻的上限值和下限值,利用滑动四分位距所具有的稳健统计数学特征
  • 一种电离层tec异常探测方法

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