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- [发明专利]一种具有自校正功能的超声波测厚技术-CN201610974406.9在审
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甘芳吉;廖俊必;万正军
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四川大学
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2016-11-07
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2017-02-22
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G01B17/02
- 本发明涉及一种具有自校正功能的超声波测厚技术。传统的超声波测厚技术是检测超声波在被测件中的飞跃时间T，然后利用超声波的声速V，利用D=VT/2即可求出被测件的厚度。然而不同的被测材料，或者随着被测件温度的变化，超声波在被测件中的传播速度会发生改变，如果不加以修正就会引起很大的测量误差。本发明提出的自校正超声波测厚技术，设置一个超声波探头（3）同时作为超声波发射端也超声波接收端，在超声波探头（3）与被测件（1）之间引入一个已知厚度的校正块(2)，校正块(2)的材料与被测件(1)的材料一致，通过测量超声波在校正块(2)中的飞跃时间以及超声波在被测件(1)中的飞跃时间，即可求出被测件的厚度，起到了自校正的功能。
- 一种具有校正功能超声波技术
- [发明专利]多介质层超声波测厚方法-CN201310281476.2有效
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王新;李国祥;周璇
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河北联合大学
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2013-07-06
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2013-09-11
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G01B17/02
- 一种多介质层超声波测厚方法，所述的测厚方法使用超声波探头进行，所述的超声波探头是超声波发射斜探头和超声波接收斜探头，用超声波斜探头测厚方法包括以下步骤：将超声波发射斜探头通过耦合剂贴合在多层介质的最上层介质表面用于向介质内发射超声波；将超声波接收斜探头与超声波发射斜探头放置在同一个平面内，从离超声波发射斜探头最近处沿远离超声波发射斜探头方向开始扫描，得到各返回点的时间根据厚度计算公式计算出各介质层的自身厚度。本测厚方法实用性强，应用广泛，可以实现对多介质层厚度的快速测量。在一些特殊场所，可以实现不影响正常生产的情况下完成在线检测，缩减检测时间的同时也节约了检测成本。
- 介质超声波方法
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