专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]水含量分布检测装置及其应用-CN201610998291.7在审
  • 李辰;丁庆 - 华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹系统设备有限公司
  • 2016-11-11 - 2017-01-18 - G01N21/59
  • 本发明涉及一种水含量分布检测装置及其应用,其装置包括太赫兹辐射装置、第一调光透镜组件、载物架组件、第二调光透镜组件和太赫兹探测组件,载物架组件包括可移动的载物台;第一调光透镜组件设置在太赫兹辐射装置和载物架组件之间,第二调光透镜组件设置在载物架组件和太赫兹探测组件之间,太赫兹探测组件连接信号分析装置;太赫兹辐射装置辐射出的太赫兹光束经第一调光透镜组件聚焦至载物台上的待测样品,待测样品透射的太赫兹光束经第二调光透镜组件聚焦至太赫兹探测组件,太赫兹探测组件探测到的太赫兹信号输入到信号分析装置进行样品的含水量分布检测。
  • 含量分布检测装置及其应用
  • [发明专利]一种偏振可调控的反射式太赫兹发生器-CN202111293806.0在审
  • 王大承;冯正;谭为;孙松 - 中国工程物理研究院电子工程研究所
  • 2021-11-03 - 2022-02-01 - H01S1/02
  • 本发明公开了一种偏振可调控的反射式太赫兹发生器,将多层膜结构的自旋太赫兹源与由金属线栅和金属底层构成的金属微阵列结构集成在同一衬底中,通过自旋太赫兹源可以辐射出线偏振太赫兹波,通过外加磁场可以对辐射出的线偏振太赫兹波的偏振方向进行调控该线偏振太赫兹波与反射型的金属微阵列结构相互作用,最终反射出不同偏振态的太赫兹波。具体的,当外加磁场方向与金属线栅平行或者垂直时,辐射的太赫兹波为线偏振;外加磁场方向与金属线栅成45°夹角时,辐射的太赫兹波为圆偏振光;外加磁场方向与金属线栅成其他角度时,辐射的太赫兹波为椭圆偏振。通过调整外加磁场的方向,可以简便调节太赫兹波的偏振模式。
  • 一种偏振调控反射赫兹发生器
  • [发明专利]一种全反射式太赫兹人体安检成像装置-CN201810975207.9有效
  • 张建新;张殿坤;牛海亮 - 欧必翼太赫兹科技(北京)有限公司
  • 2018-08-24 - 2020-10-30 - G01V8/10
  • 本发明实施例提供一种全反射式太赫兹人体安检成像装置,包括多面体扫描镜、太赫兹聚焦镜组和太赫兹阵列探测器,多面体扫描镜绕中心轴高速稳健转动,以使多面体扫描镜的N个平面镜依次作为扫描镜在竖直方向对被成像进行扫描,进而将被成像目标辐射或反射的太赫兹波反射到太赫兹聚焦镜组上;太赫兹聚焦镜组多面体扫描镜反射的太赫兹波成像到太赫兹阵列探测器上;太赫兹阵列探测器将太赫兹波转化成电压信号,并根据电压信号成像,从而完成对被成像对象的竖直方向上的阵列扫描该全反射式太赫兹人体安检成像装置通过多面体扫描镜绕中心轴高速稳定转动,即可实现对被成像目标的竖直方向上的扫描,结构简单紧凑,成像速度高。
  • 一种全反射赫兹人体安检成像装置
  • [发明专利]一种太赫兹光扩束均匀化装置-CN201510494693.9有效
  • 王军;牟文超;潘栋;苟君;蒋亚东 - 电子科技大学
  • 2015-08-13 - 2018-04-06 - G02B27/09
  • 本发明属于太赫兹技术领域,提出一种太赫兹光扩束均匀化装置,用于对太赫兹源发出的太赫兹光束进行整形,在对其进行扩束的同时使光束的能量分布更加均匀。所述的扩束均匀化装置依照光束通过顺序依次包括以下部分初级反射镜、初级微球面反射镜阵列、次级微球面反射镜阵列、太赫兹透镜和次级反射镜,初级反射镜前为太赫兹源,次级反射镜后为目标物体。各个部分之间保持一定的角度关系及适当的距离,太赫兹光经两级微球面反射镜阵列扩束和均匀化后,再经过太赫兹透镜整形出射。本发明的优点在于在达到了对太赫兹光进行扩束的目的的同时使出射太赫兹光的能量分布由高斯分布均匀化为矩形分布,使其可以满足做为太赫兹成像系统光源的要求。
  • 一种赫兹光扩束均匀化装
  • [发明专利]一种太赫兹器件传输参数的测量系统与方法-CN201610921578.X有效
  • 龚鹏伟;谢文;谌贝;姜河;马红梅;杨春涛 - 北京无线电计量测试研究所
  • 2016-10-21 - 2020-06-02 - H04B17/15
  • 本发明公开了一种太赫兹器件传输参数的测量方法,包括以下步骤:S1:采用飞秒激光脉冲激励太赫兹脉冲产生器产生太赫兹脉冲信号;S2:耦合所述太赫兹脉冲信号,输入待测太赫兹器件;S3:耦合待测太赫兹器件的输出信号,得到合成脉冲信号;S4:通过步进延时从所述合成脉冲信号中采集多组数据,得到合成测量数据;S5:将待测太赫兹器件替换为与待测太赫兹器件尺寸相同的标准波导直通件,重复S1‑S4,得到标准测量数据;S6:综合处理所述合成测量数据和所述标准测量数据,得到待测太赫兹器件传输参数的测量结果,本发明同时公开了一种太赫兹器件传输参数的测量系统,本发明能够测量频率范围为100GHz到3THz的太赫兹器件,扩大了测量范围,降低了测量成本。
  • 一种赫兹器件传输参数测量系统方法

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