专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]调试调试系统-CN202310418561.2在审
  • 刘勃 - 上海安勤智行汽车电子有限公司
  • 2023-04-18 - 2023-07-25 - G06F11/273
  • 本申请实施例涉及调试领域,公开了一种调试调试系统。所述调试包括:被调试主体和第一信号接口;所述被调试主体上设置有符合第二信号接口对接标准的多条信号线,所述多条信号线与第一信号接口连接,连接规则满足预设的第一信号接口与第二信号接口之间的信号线映射规则。本申请实施例提供的调试可以使多种芯片的音频通信及信号传输通信均由一个接口实现对外连接,便于调试使用,方便信号传输,也能够减少接口的布设成本。
  • 调试系统
  • [实用新型]调试与产品互连调试装置-CN201922136208.7有效
  • 张慕生 - 无锡太机脑智能科技有限公司
  • 2019-12-03 - 2020-07-07 - G06F30/398
  • 本实用新型提供一种调试与产品互连调试装置,包括调试和成品;所述调试上设有成品调试所需要的接口;调试中间设有一个开口,所述开口的形状与成品相对应;开口的尺寸大于成品的尺寸;在调试上贴开口设置与各接口相应的第一焊盘;调试上各接口与相应的第一焊盘通过调试上的走线电连接;在成品贴侧边位置设置与各第一焊盘对应的第二焊盘,各第二焊盘与成品上需要调试的芯片通过成品上的走线对应连接。调试中间的开口的长度和宽度分别比成品的长度和宽度大0.6~2mm。进一步地,成品上的第二焊盘与调试上的第一焊盘一一对应焊接。本实用新型可以降低开发成本,且缩短开发耗时。
  • 调试产品互连装置
  • [发明专利]端子调试-CN201010589472.7无效
  • 杨菊臣;苏国建;高亮亮;田艳;赵存柱 - 天津埃柯特阀门控制设备有限公司
  • 2010-12-15 - 2011-08-03 - H01R13/24
  • 本发明提供一种端子调试,属于电动装置调试设备领域,包括调试主体、调试轴、压簧和螺母;其中,所述调试主体内部有凹槽,所述凹槽呈由外向内逐级减小的阶梯状,所述调试主体底部有突起;所述调试主体的工作面上设有通孔,所述调试轴上安装有压簧,所述调试轴穿过通孔并由螺母固定。本发明的有益效果是由于采用上述技术方案,本发明可以达到迅速便捷的调试目的;采用双螺母固定,可以保证稳定的高度;火线和控制线通过双螺母固定,比焊接的方便安装、更换;火线与控制线是分开的,更加安全。
  • 端子调试
  • [实用新型]端子调试-CN201020660922.2无效
  • 杨菊臣;苏国建;高亮亮;田艳;赵存柱 - 天津埃柯特阀门控制设备有限公司
  • 2010-12-15 - 2011-08-03 - H01R13/24
  • 本实用新型提供一种端子调试,属于电动装置调试设备领域,包括调试主体、调试轴、压簧和螺母;其中,所述调试主体内部有凹槽,所述凹槽呈由外向内逐级减小的阶梯状,所述调试主体底部有突起;所述调试主体的工作面上设有通孔,所述调试轴上安装有压簧,所述调试轴穿过通孔并由螺母固定。本实用新型的有益效果是由于采用上述技术方案,本实用新型可以达到迅速便捷的调试目的;采用双螺母固定,可以保证稳定的高度;火线和控制线通过双螺母固定,比焊接的方便安装、更换;火线与控制线是分开的,更加安全。
  • 端子调试
  • [实用新型]用于调试CPU的串口调试-CN201520658169.6有效
  • 杨顺;郑斌彬;邓俊琪 - 深圳市西迪特科技有限公司
  • 2015-08-28 - 2016-01-13 - G06F11/22
  • 本实用新型公开了一种用于调试CPU的串口调试,其包括:可与CPU连接的4PIN插口、6PIN插口、10PIN插口、第一网口,用于调试CPU的调试芯片,以及用于将调试芯片与电脑连接的电脑接口。其中,所述4PIN插口的信号输入端与所述6PIN插口的信号输入端、10PIN插口的信号输入端及调试芯片的信号输入端连接;所述4PIN插口的信号输出端与所述6PIN插口的信号输出端、10PIN插口的信号输出端及调试芯片的信号输出端连接;所述第一网口的第八引脚与所述调试芯片的信号输入端连接,所述第一网口的第七引脚与所述调试芯片的信号输出端连接;所述电脑接口与所述调试芯片连接,且所述电脑接口可与所述电脑连接。
  • 用于调试cpu串口
  • [发明专利]一种调试调试系统及调试方法-CN201610772727.0在审
  • 刘波;闫凤娟;熊燕萍;周清 - 大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司
  • 2016-08-30 - 2017-02-22 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种调试调试系统及调试方法,所述调试包括:控制单元、SPI接口、IIC接口以及通信接口,其中,SPI接口和IIC接口分别用于连接待测设备的相应接口,控制单元用于将来自控制设备发送的测试指令数据转发到所述调试系统包括上述调试和控制设备,所述调试的通信接口用于连接控制设备的第一通信接口,待测设备的通信接口连接到控制设备的第二通信接口;所述调试方法适用于该调试系统,包括手动调试模式和自动测试模式。本发明可以适应不同设备的SPI和IIC协议配置的调试需求,配置灵活,可以减少底层驱动的开发时间,操作简单方便。
  • 一种调试系统方法
  • [发明专利]一种温补晶振调试夹具-CN202111516640.4在审
  • 睢建平;崔巍 - 北京无线电计量测试研究所
  • 2021-12-13 - 2022-04-26 - G01R1/04
  • 本发明公开一种温补晶振调试夹具,包括:调试基座、调试电路、匹配电阻、匹配电容和调试探针,调试基座上放置需调试电参数的温补晶振;调试基座有十个端口;对应该十个端口的探针插入调试电路的中心位置上对应的十个过孔内并焊接固定;调试电路,用于放置安装匹配电容、匹配电阻和调试基座,调试电路的中心有十个过孔,将调试基座十个端口的探针插入调试电路对应的十个过孔内并焊接固定;调试电路的边缘有七个过孔,该七个过孔焊接固定调试探针,调试电路上的七个端口通过导线和调试基座的相应端口进行电气连接,实现温补晶振的调试;匹配电阻和匹配电容,焊接到所述调试电路上;调试探针焊接到调试电路上。
  • 一种温补晶振调试夹具
  • [发明专利]一种应用于多核裸机系统的内建调试系统-CN202111482738.2在审
  • 郭泰;孙大朋;刘忞斋;高美洲 - 山东华芯半导体有限公司
  • 2021-12-07 - 2022-03-25 - G06F11/36
  • 本发明提供一种应用于多核裸机系统的内建调试系统,包括内建调试器、宿主机和串口工具,内建调试器和宿主机通过串口工具实现串口连接及信息传递,内建调试器构建于目标,目标为多核系统,其中一个核为调试核,其余核作为被调试核,调试核解析被调试调试信息,构建片上调试系统,内建调试器构建于目标调试核;调试时,调试指令在宿主机通过串口发送到目标,目标调试核接收调试指令并将调试指令输入到内建调试器,内建调试器将调试指令解析为具体可执行的动作指令并根据动作指令完成相应的操作本发明通过串口进行调试,无需借助外部调试器即可进行调试,减少调试时代码修改后bug复现的时间成本。
  • 一种应用于多核裸机系统调试

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