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[发明专利]支吊架设计验证方法、验证装置和设计方法及设计系统-CN202310519442.6在审
发明人：齐云飞;牛艳颖;吕佳宁;汪晨辉;程岳;王超;丁亮;吴宗权;秦怀;侯志全;刘通;卫翀 -专利权人：中国核电工程有限公司;四川汇通能源装备制造股份有限公司
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06F30/13 文献下载
摘要：本发明公开一种支吊架设计验证方法、验证装置和设计方法及设计系统，包括以下步骤：对支吊架进行理论验证试验，得到支吊架的应力云图和位移云图。根据所述支吊架的应力云图和位移云图，对所述支吊架进行实际工况验证试验。根据所述理论验证试验和所述实际工况验证试验的结果，判断所述支吊架是否满足设计要求。该支吊架设计验证方法通过理论计算和实际工况验证结合的方式来证明支吊架结构满足设计要求，从而能够得出更加可靠的判定结果。
吊架设计验证方法装置系统

[发明专利]验证计量目标及其设计-CN202011201964.4在审
发明人： M·E·阿德尔;I·塔尔西斯-沙皮尔;J(石铭)·魏;M·吉诺乌克 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2015-10-02 - 公布日： 2021-02-05 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请实施例是关于验证计量目标及其设计。示例性的方法包括：使用与经设计计量目标有关的OCD数据作为目标模型与晶片上的对应实际目标之间的差异的估计；及调整计量目标设计模型以补偿所述经估计差异。专属验证目标可包括叠加目标特征且对尺寸进行优化以可由OCD传感器测量，以实现对于由生产工艺变化所引起的不准确度的补偿。方法还包括提供经启用的较高保真度计量目标设计模型及计量测量的最终较高准确度的对制造商与计量商家之间的工作流程的修改。
验证计量目标及其设计

[发明专利]制造系统设计验证装置-CN202080100776.4在审
发明人：井上裕昭;岩津贤;藤田浩平 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2020-05-15 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：提供能够扩展可进行验证的设计信息的制造系统设计验证装置。制造系统设计验证装置具有设计信息模型、设计信息输入部、验证逻辑保存部及设计信息验证部。设计信息模型是对设计信息集中地进行表现的框架。向设计信息输入部输入设计信息。设计信息输入部参照设计信息模型而将设计信息转换为由资源记述语言记述的表达。验证逻辑保存部对包含由与资源记述语言对应的查询语言记述的查询和期待结果的组的验证逻辑进行保存。设计信息验证部具有对表达执行查询而回送执行结果的查询执行引擎和将执行结果与期待结果进行比较而回送验证结果的比较引擎。
制造系统设计验证装置

[发明专利]验证芯片设计的方法-CN201410691966.4有效
发明人：吕明 -专利权人：三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社
申请日： 2014-11-25 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：提供一种验证芯片设计的方法。所述方法包括：(A)根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码；(B)基于测试代码随机测试功能覆盖项，以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率；(C)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间
验证芯片设计方法

[发明专利]验证计量目标及其设计-CN201580053714.1有效
发明人： M·E·阿德尔;I·塔尔西斯-沙皮尔;J(石铭)·魏;M·吉诺乌克 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2015-10-02 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供计量目标设计方法及验证目标。方法包括：使用与经设计计量目标有关的OCD数据作为目标模型与晶片上的对应实际目标之间的差异的估计；及调整计量目标设计模型以补偿所述经估计差异。专属验证目标可包括叠加目标特征且对尺寸进行优化以可由OCD传感器测量，以实现对于由生产工艺变化所引起的不准确度的补偿。方法还包括提供经启用的较高保真度计量目标设计模型及计量测量的最终较高准确度的对制造商与计量商家之间的工作流程的修改。
验证计量目标及其设计

[发明专利]系统设计期间的验证-CN200410032700.5有效
发明人： G·奥斯莱德;K·格里利希;R·门辛;B·塔巴拉;R·V·维兰德 -专利权人：微软公司
申请日： 2004-03-05 - 公布日： 2005-01-26 - 主分类号： G06F9/44 文献下载
摘要：根据系统设计期间的验证的一个某些的方面，要接收将被设计的系统的描述和环境的描述。这些描述都用于在设计系统时以及在配置系统之前对照环境来验证系统。
系统设计期间验证

[发明专利]待测设计的验证方法及验证装置-CN202211393039.5在审
发明人：周宇晨;刘晓燕;高军;袁媛 -专利权人：飞腾信息技术有限公司
申请日： 2022-11-08 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请提供了一种待测设计的验证方法及验证装置。待测设计包括处理器中的一个或多个执行单元，处理器包括多个发射通道，多个发射通道用于向一个或多个执行单元发射指令，验证方法包括：获取待分派的指令集合；根据待分派的指令集合中的指令，通过指令分派模块，确定多个发射通道各自对应的待发射指令，指令分派模块用于控制多个发射通道的指令分派方式；根据多个发射通道各自对应的待发射指令，生成待测设计的激励信号；根据待测设计的激励信号对待测设计进行验证。本申请在单元级验证环境中设置指令分派模块，通过指令分派模块，控制多个通道的指令分派方式，有助于提高验证环境的验证效率。
设计验证方法装置

[发明专利]数据网络设计验证方法、装置以及验证设备-CN202011575138.6在审
发明人：王佩;高红莉 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2020-12-28 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本公开提供了一种数据网络设计验证方法、装置以及验证设备。该数据网络设计验证方法包括：针对被测数据网络功能模块，构建数据传输层模型；在数据传输层模型中布置芯片设计功能单元以构建数据总线系统；以及基于第一测试序列对数据总线系统进行数据传输验证。芯片设计功能单元包括跨时钟域接口模块、跨电压域接口模块或者中继单元。
数据网络设计验证方法装置以及设备

[发明专利]表单验证设计方法及系统-CN201810602579.7在审
发明人：孙岩 -专利权人：苏州思必驰信息科技有限公司
申请日： 2018-06-12 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G06F8/38 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种表单验证设计方法。该方法包括：在表单验证设计界面展示预设的表单验证错误信息及错误信息对应的UI配置界面；响应于接收开发者在UI配置界面提交的与预设的表单验证错误信息对应的UI配置，将预设的表单验证错误信息与对应的UI配置关联以使得出现预设的表单验证错误信息时本发明实施例还提供一种表单验证设计系统。本发明实施例的表单验证设计方法通过功能和UI的解耦，针对于不同功能的表单验证，可以调整表单验证错误信息以及相应的UI配置，满足了开发者的设计的需求。通过自定义验证规则，可以使得通过所述语音对话平台开发的产品在不同的功能上的设计更加全面。
验证错误信息预设配置界面配置设计方法及系统平台开发设计界面设计系统验证规则语音对话自定义解耦展示关联开发响应

[发明专利]智能数控车间设计验证系统-CN201811610689.4有效
发明人：杨齐;张凯;曾奇志 -专利权人：四川普什宁江机床有限公司
申请日： 2018-12-27 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明公开了智能数控车间设计验证系统，属于数控机床制造与设计技术领域，包括带有数据库、数据比对验证模组和通讯单元的处理中心，以及设置在车间中、用于采集智能数控设备数据的监控采集模组，所述监控采集模组也带有通讯单元并与处理中心数据通讯相连；所述数据库包含若干种智能数控设备的型号、类别、所在车间分布和生产流程数据；所述数据比对验证模组用于识别待验证的智能数控车间设计数据中所包含的智能数控设备，并调用数据库中和/或监控采集模组的数据，与智能数控车间设计里所包含的智能数控设备数据进行对比分析并输出验证结果
智能数控车间设计验证系统

[发明专利]设计验证的方法和系统-CN200610146594.2有效
发明人： R·J·德温斯;D·W·米尔顿;P·A·恩萨梅 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2006-11-15 - 公布日： 2007-08-01 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：一种方法和系统，包括提取对设计运行离散测试用例或相关测试用例组所需的资源。该方法和系统进一步包括基于所提取的资源构建仿真模型，并仅使用提取的资源而不是整个设计来执行该仿真模型，以测试由用于设计验证的离散测试用例或相关测试用例组所代表的特定功能或相互关联的功能组，以及将仿真结果与测试计划相关联
设计验证方法系统

[发明专利]使用形式技术的设计验证-CN200410097618.0有效
发明人：卢远 -专利权人：美国博通公司
申请日： 2004-11-22 - 公布日： 2005-09-14 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：形式技术可应用于工业设计问题中，例如用于验证一个电路设计。其初始决定包括定义一些属性以验证设计的步骤。其中会生成一个设计的抽象，然后对该抽象进行模型检查。通过性能分析及对顺序操作的验证，使用这些技术所得的结果可以得到扩展。
使用形式技术设计验证

[发明专利]集成电路设计验证-CN202111498735.8有效
发明人：朱嘉华 -专利权人：芯华章科技股份有限公司
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本申请提供用于验证IC设计(诸如超大规模集成电路(VLSI)设计)的方法和设备。该方法包括：获得IC设计的描述；基于所述描述确定所述IC设计是否包括组合回路，其中所述组合回路包括输出和连接到所述输出的输入；响应于所述IC设计包括所述组合回路，展开所述组合回路为展开回路，所述展开回路包括连接以形成所述展开回路的第一迭代和第二迭代，其中所述第一迭代包括第一输出和第一输入，所述第二迭代包括第二输出和第二输入，并且所述第二输出连接到所述第一输入；以及连接在所述第一输入和所述第二输出之间的寄存器；以及验证具有所述展开回路的IC设计，其中所述第一迭代和所述第二迭代中的每一个包括与所述组合回路相同的组件。
集成电路设计验证

[发明专利]用于抗辐射设计的电路设计验证工具-CN202280002615.0在审
发明人： L·J·格瓦克斯;T·P·杜里埃 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2022-01-31 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：一个实例包含一种用于验证电路设计的方法。所述方法包含提供一组编码规则(106)。所述编码规则(106)中的每一者可定义电路单元的条件以使所述电路设计符合抗辐射要求。所述方法还包含从电路设计数据库(108)存取与所述电路设计相关联的电路设计网表(112)。所述方法还包含关于所述编码规则(106)中的每一者评估所述电路设计网表(112)中的所述电路单元中的每一者。
用于辐射设计电路设计验证工具

[发明专利]验证用于多级部件的硬件设计-CN202011538039.0在审
发明人：罗伯特·麦凯美 -专利权人：畅想科技有限公司
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本文涉及验证用于多级部件的硬件设计。方法包括：针对从第二阶段到最后一个阶段的多个阶段中的每个阶段：(a)验证如果当在一个周期中所述阶段由任何一组输入启用并且在后续周期中由第一最小输入序列启用任何后续阶段时实例化处于相同状态，则所述硬件设计的所述实例化的所述输出数据的相关部分相同；以及(b)验证如果所述实例化在以下情况下处于相同状态，则所述硬件设计的所述实例化的所述输出数据的所述相关部分相同：(i)当在一个周期中所述阶段被启用并且在后续周期中由第二最小输入序列启用任何后续阶段时
验证用于多级部件硬件设计

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