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[发明专利]匹配CT成像系统的疲劳加载装置、系统及疲劳实验方法-CN202211099353.2在审
发明人：谢惠民;赵健宇;刘飞;耿传庆 -专利权人：清华大学
申请日： 2022-09-08 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G01N3/02 文献下载
摘要：本发明实施例提出匹配CT成像系统的疲劳加载装置、系统及疲劳实验方法，在疲劳加载装置内通过在承载结构表面设计了观察窗口，实现了试件承载时的表面图像采集，并且该疲劳加载装置可以结合数字图像相关法方法测量试件表面区域全场变形因此本实施例中利用该疲劳加载装置与CT原位成像系统以及数字图像相关系统进行相关耦合匹配，可以实现样品在CT原位成像系统下的原位疲劳加载，重构其内部三维形貌，并且配合同时采集试件表面图像，结合数字图像相关系统实时测量试件表面变形，可同时从表面与内部两个角度研究试件的疲劳力学行为。
匹配 ct 成像系统疲劳加载装置实验方法

[发明专利]超声波图像生成装置、超声波图像生成方法、以及程序-CN201180046544.6无效
发明人：胜山公人 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2011-09-27 - 公布日： 2013-05-29 - 主分类号： A61B8/00 文献下载
摘要：该超声波图像生成装置包括：超声波探头，将超声波发射到被检体，接收反射的声音，并且输出超声波检测信号，所述超声波图像生成装置生成表示形状的形貌图像。超声波图像生成装置进一步包括：声速值计算单元，计算形貌图像中的感兴趣区域中的声速值；以及可靠度信息生成单元，基于对应于感兴趣区域的声速值，生成声速值的可靠度信息。
超声波图像生成装置方法以及程序

[发明专利]汽车形貌测量系统机械式畸变系数测量仪-CN201510987705.1在审
发明人：徐观;张馨元;苏建;戴建国;单红梅;陈熔;张立斌;刘玉梅;潘洪达;林慧英;李晓韬;郑安琪;吴广为;袁静 -专利权人：吉林大学
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2016-03-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种汽车形貌测量系统机械式畸变系数测量仪，旨在解决汽车形貌视觉检测系统摄像机镜头畸变系数无法简便测量的问题。汽车形貌测量系统机械式畸变系数测量仪主要由方架(1)、钢丝(2)、套筒(3)与调整螺钉(4)组成，通过调整螺钉(4)控制钢丝的拉伸，使畸变图像中的钢丝图像变为原本的直线，根据调整螺钉(4)的旋转圈数获得畸变系数,提供了一种结构简单、检测精度高、操作简便、易于安装、成本较低、性能可靠的汽车形貌测量系统机械式畸变系数测量仪。
汽车形貌测量系统机械式畸变系数测量仪

[发明专利]汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪-CN201510987703.2在审
发明人：徐观;张馨元;苏建;林慧英;戴建国;单红梅;陈熔;张立斌;刘玉梅;潘洪达;李晓韬;吴广为;袁静;郑安琪 -专利权人：吉林大学
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2016-03-02 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪，旨在解决汽车形貌视觉检测系统摄像机镜头畸变系数无法简便测量的问题。汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪主要由套筒(1)、刻度尺(2)、钢丝(3)、方形钢架(4)与调整螺栓(6)组成，通过调整螺栓(6)控制钢丝的拉伸，使畸变图像中的钢丝图像变为原本的直线，根据调整螺栓(6)的位移获得畸变系数,提供了一种结构简单、检测精度高、操作简便、易于安装、成本较低、性能可靠的汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪。
汽车形貌测量系统刻度畸变系数测量仪

[实用新型]汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪-CN201521095341.8有效
发明人：徐观;张馨元;苏建;林慧英;戴建国;单红梅;陈熔;张立斌;刘玉梅;潘洪达;李晓韬;吴广为;袁静;郑安琪 -专利权人：吉林大学
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2016-05-11 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪，旨在解决汽车形貌视觉检测系统摄像机镜头畸变系数无法简便测量的问题。汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪主要由套筒(1)、刻度尺(2)、钢丝(3)、方形钢架(4)与调整螺栓(6)组成，通过调整螺栓(6)控制钢丝的拉伸，使畸变图像中的钢丝图像变为原本的直线，根据调整螺栓(6)的位移获得畸变系数,提供了一种结构简单、检测精度高、操作简便、易于安装、成本较低、性能可靠的汽车形貌测量系统刻度式畸变系数测量仪。
汽车形貌测量系统刻度畸变系数测量仪

[发明专利]电路板盲孔品质检测方法及系统-CN202310152301.5在审
发明人：雷志辉;张驰;周宇轩;陈状;熊祥祥 -专利权人：深圳市鹰眼在线电子科技有限公司
申请日： 2023-02-08 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种电路板盲孔品质检测方法及系统，该方法包括：通过两个相机沿x轴拍摄目标电路板，获得多个第一目标图像，对多个第一目标图像进行处理得到第二目标图像，根据第一灰度图像和第二灰度图像确定有效灰度图像，根据有效灰度图像得到目标电路板盲孔区域的高度数据和三维形貌数据，根据目标电路板盲孔区域的高度数据和三维形貌数据对盲孔进行品质评价得到品质评价结果。采用前述方法，可以在不损伤电路板的情况下准确的得到电路板上盲孔的高度数据和三维形貌数据，并对其进行有效的品质评价。
电路板品质检测方法系统

[实用新型]用于监测生物质材料切面结构变化的装置-CN202122281301.4有效
发明人：王汉坤;黎静;徐皓诚;钟土华;张颖;王甲钧 -专利权人：国际竹藤中心
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：、CCD相机和监测装置，力学试验机设有压头；光学显微镜的镜头与测试材料的切面对应设置；CCD相机与光学显微镜连接；监测装置与CCD相机通信连接，监测装置设有信息检测模块，信息检测模块用于对测试材料切面图像中切面的结构信息进行检测、获取图像中切面的形貌、尺寸及结构信息的形貌、尺寸和坐标。通过光学显微镜结合CCD相机实时获取测试材料切面图像，通过信息检测模块获取生物质材料切面形貌、尺寸及结构信息形貌、尺寸和坐标的动态变化数据，实现了在载荷作用下对生物质材料切面微观结构进行实时检测。
用于监测生物材料切面结构变化装置

[发明专利]一种基于图像处理的线锯切割单晶硅片全表面线粗糙度预测方法-CN202111504659.7在审
发明人：尹莘新;肖华攀 -专利权人：重庆大学
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开一种基于图像处理的线锯切割单晶硅片全表面线粗糙度预测方法，步骤为：1)建立单晶硅片全表面线粗糙度与凹坑宽度之间的数学关系模型；所述凹坑是去除单晶硅片横向裂纹上方材料后形成的；2)获取单晶硅片的微观表面形貌，提取单晶硅片所有凹坑宽度，并输入到单晶硅片全表面线粗糙度与凹坑宽度之间的数学关系模型中，得到单晶硅片全表面线粗糙度。本发明只需通过获得同批次单晶硅片的微观形貌，就能准确预测出硅片的全表面线粗糙度，大大缩短了人工测量的时间。
一种基于图像处理切割单晶硅表面粗糙预测方法

[发明专利]用于半导体器件失效分析的检测方法-CN200910197447.1有效
发明人：陈险峰;韩耀梅;苏凤莲;任正鹏;王玉科 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-10-20 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种用于半导体器件失效分析的检测方法，包括：利用聚焦离子束，对产生有缺陷的半导体器件剖面进行磨削，以改变源/漏区的表面性状；利用腐蚀处理溶液，对所述半导体器件的剖面进行腐蚀，以显露出源/漏区的结剖面形貌；利用放大成像装置得到对应所述半导体器件的剖面的图像资料，观察所述图像资料以获取所述半导体器件所产生的缺陷的分布情况。本发明通过聚焦离子束磨削和腐蚀处理溶液腐蚀相结合，获得易于观察的半导体器件的源/漏区的结剖面形貌，提供判断器件是否失效的依据。
用于半导体器件失效分析检测方法

[发明专利]多光谱大视场微观三维形貌测量装置及方法-CN201911158779.9在审
发明人：易定容;叶一青;孔令华;蒋威;朱星星 -专利权人：宁波五维检测科技有限公司
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2020-02-07 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明具体涉及一种多光谱大视场微观三维形貌测量装置及方法，该装置包括：复色光照明模块、纵向色散增强型光学成像模块、图像分析与载物台控制模块，其中，所述图像分析与载物台控制模块包括多光谱图像传感器、图像分析与载物台控制系统、高精度三轴载物台该装置能实现一次自动聚焦后，在无载物台轴向运动的情况下，完成样本大视场微观三维形貌测量。该方法能实现高横向分辨率、高纵向测量精度、毫米量级纵向测量范围、英寸级大视场横向测量范围的微观三维形貌测量。
图像分析大视场载物台三维形貌测量控制模块纵向测量微观三维形貌测量装置载物台控制系统高横向分辨率光学成像模块多光谱图像毫米量级横向测量色光照明自动聚焦多光谱增强型传感器三轴色散台轴无载样本

[实用新型]多光谱大视场微观三维形貌测量装置-CN201922049432.2有效
发明人：蒋威;易定容;叶一青;孔令华;朱星星 -专利权人：宁波五维检测科技有限公司
申请日： 2019-11-22 - 公布日： 2020-05-22 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型具体涉及一种多光谱大视场微观三维形貌测量装置，该装置包括：复色光照明模块、纵向色散增强型光学成像模块、图像分析与载物台控制模块，其中，所述图像分析与载物台控制模块包括多光谱图像传感器、图像分析与载物台控制系统、高精度三轴载物台该装置能实现一次自动聚焦后，在无载物台轴向运动的情况下，完成样本大视场微观三维形貌测量。该装置能实现高横向分辨率、高纵向测量精度、毫米量级纵向测量范围、英寸级大视场横向测量范围的微观三维形貌测量。
光谱视场微观三维形貌测量装置

[发明专利]一种精确表征晶体三维取向和晶体学取向的方法-CN201910736340.3在审
发明人：陈国清;王雅琨;付雪松 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2019-08-09 - 公布日： 2019-11-12 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明方法，包括如下步骤：获取所述晶体材料待测区域内的二维组织形貌和EBSD花样；将其通过三维图像分析软件进行三维图像合成，获取三维形貌；提取特征形貌在三维形貌所在坐标系中的三维取向；通过三维取向转换到EBSD获得的晶体学坐标系中，获得所述特征形貌的晶体学取向。
晶体学取向取向三维三维形貌形貌三维图像分析三维图像合成材料晶体材料特征待测区域晶体材料取向转换生长取向特征形貌提取特征行为研究重要意义组织结构组织形貌二维解析花样生长

[发明专利]一种用激光扫描共聚焦显微镜测量表面粗糙度的方法-CN201210393629.8有效
发明人：尹立新;刘卫平;鞠新华;任群;刘晓岚;付百林;姚武刚;杨瑞;王泽阳;苗雨芳 -专利权人：首钢总公司
申请日： 2012-10-16 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：一种用激光扫描共聚焦显微镜测量表面粗糙度的方法，属于金属材料物理性能检验技术领域。该发明通过标准样块的测定和预测试样的测定等技术步骤，解决传统方法中存在的不能给出被测表面的3D形貌问题。优点在于，实现非接触、对表面无损伤、试样放置不要求具有方向性，能清晰、直观地显示表面的3D图像微观形貌，特别是以简单和可靠的方式进行标准样块的标定程序，对试样测量结果具有一致性和可追溯性。
一种激光扫描聚焦显微镜测量表面粗糙方法

[发明专利]一种基于原子力显微镜的沥青改性效果评价方法-CN201910160755.0在审
发明人：刘圣洁;吴建涛;陈俊;刘云 -专利权人：河海大学
申请日： 2019-03-04 - 公布日： 2019-06-18 - 主分类号： G01Q60/24 文献下载
摘要：本发明公开一种基于原子力显微镜的沥青改性效果评价方法，包括以下步骤：一、获取改性沥青试样；二、将改性沥青试样放置氮气浓度为90％保护箱中，静置6‑10h至沥青冷却至室温并呈光滑表面；三、选硅探针利用轻敲模式扫描改性沥青试样中50μm×50μm区域；四、原子力显微镜测改性沥青二维表面形貌及三维表面形貌特征形成图像文件；五、PicoView软件对图像文件处理，获得表征沥青微纳米表面粗糙度特征；六、利用沥青微纳米表面粗糙度特征相对变化率与宏观尺度改性沥青储存稳定性和路用性能关系进行沥青改性效果评价本发明沥青改性效果评价方法操作简单，方便易行，用氮气保护冷却沥青试样，避免沥青表面受到外界灰尘、杂质干扰和污染，保证原子力测试质量。
改性沥青沥青改性效果评价原子力显微镜表面粗糙度微纳米沥青氮气形貌氮气保护冷却三维表面形貌图像文件处理储存稳定性二维表面光滑表面宏观尺度沥青表面沥青冷却沥青试样路用性能模式扫描特征形成图像文件外界灰尘相对变化杂质干扰保护箱硅探针原子力测试污染保证

[发明专利]基于大景深条带图像投影的弯曲粗糙表面缺陷鉴别方法-CN201410773348.4有效
发明人：王克逸;王玉伟;闫佩正;卢钰 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2014-12-14 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于大景深条带图像投影的弯曲粗糙表面缺陷鉴别方法，该方法的步骤如下：步骤1)、成像系统将直条纹大景深条带图像成像到移动中的待测样品表面，调整成像系统相对于待测样品表面的位置，使投影条纹的边缘清晰锐利；步骤2)、启动高速相机采集待测样品表面图像信息并将其传递给图像处理模块；步骤3)、图像处理模块提取条纹的两边缘，分析对比条纹两边缘获取缺陷信息；步骤4)、综合分析连续采集的多幅图像，输出鉴别结果。本发明能够形成边缘清晰锐边的条纹，有利于获取条纹边缘形貌特征，排除色斑等非三维缺陷干扰等。
基于景深条带图像投影弯曲粗糙表面缺陷鉴别方法