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[发明专利]基于对称布设的双目视觉系统及DIC技术的曲面重构法-CN202110612922.8在审
发明人：熊克;彭娅淇 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2021-06-02 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提出一种基于对称布设的双目视觉系统及DIC技术的曲面重构法，包括以下步骤：两组对称布设的双目视觉系统的相机标定和坐标转换；获取试件上、下表面的数字图像数据，并进行图像匹配；根据相机标定和图像匹配结果，表面离散的点云数据；根据上、下表面各自的点云数据，拟合出对应的曲面；求解上、下两表面对应匹配点的中点，并拟合出中面。本发明的方法具有重建薄板完整的表面形貌的效果。
基于对称布设双目视觉系统 dic 技术曲面重构法

[发明专利]一种基于三维分形维数的腐蚀疲劳剩余寿命预测方法-CN201811296388.9有效
发明人：张川;乔帆;申雨 -专利权人：上海海事大学
申请日： 2018-11-01 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G06F17/10 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于腐蚀表面三维分形维数的铝合金结构剩余寿命预测方法，首先通过图像设备获取铝合金结构腐蚀表面形貌，再利用三维分形维数算法计算腐蚀形貌分形维数，最后根据腐蚀形貌分形维数结合铝合金非腐蚀S‑N本发明方法基于铝合金结构实际腐蚀形貌，能够更加准确的反映结构的腐蚀疲劳损伤严重程度。
一种基于三维分形维数腐蚀疲劳剩余寿命预测方法

[发明专利]一种复杂形貌快速测量方法-CN201611059752.0有效
发明人：张效栋;房丰洲;曾臻;高慧敏;武光创 -专利权人：天津大学
申请日： 2016-11-25 - 公布日： 2019-01-22 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开一种复杂形貌快速测量方法，所采用的测量系统包括白光光源1、三个分光棱镜、显微目镜5、显微物镜6、干涉物镜7、四象限光电传感器8、激光器9和图像传感器10，具有两条测量光路和激光测量光路。进行复杂形貌快速测量的方法为：将所述的测量系统置于三维运动平台上；将激光测量部分聚焦至被测表面，按照螺旋线或者栅线方式对被测表面进行逐点扫描测量，获取被测表面的大致轮廓特征；将白光干涉测量部分聚焦至被测表面，白光干涉测量路径的每个位置点根据所获取的大致轮廓特征中的高度起伏量，对白光测量系统的高度测量位置进行快速定位，对所有区域数据进行数据融合，从而获取被测表面的全频段形貌信息。
一种复杂形貌快速测量方法

[发明专利]一种石材大板表面凹坑和裂缝的快速检测装置-CN202210681120.7在审
发明人：尹方辰;秦光林;崔长彩 -专利权人：华侨大学;南安华大石材产业技术研究院
申请日： 2022-06-16 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种石材大板表面凹坑和裂缝的快速检测装置，包括：输送机构用于输送石材大板图像；采集机构架采集石材大板的图像；三维线激光扫描仪用于采集凹坑和裂缝的三维点云数据进行预处理和三维重建得到凹坑和裂缝的三维形貌；机械臂驱动三维线激光扫描仪移动；主控装置与输送机构、图像采集机构、三维线激光扫描仪和机械臂相连，用于对采集的图像进行处理得到凹坑和裂缝周围的颜色及其在石材大板上的位置和形状，根据位置控制机械臂驱动三维线激光扫描仪移动以获取凹坑和裂缝的三维形貌进行最小包围盒计算本发明可大大的提高检测速度，同时也可以获得石板表面更多的信息数据，有助于后续实现石材大板自动化补胶。
一种石材表面裂缝快速检测装置

[发明专利]电子元器件瑕疵定位方法及存储介质-CN202011312737.9有效
发明人：赖灿雄;阮泳嘉;陈选龙;杨少华;李树旺;廖文渊;黄云;路国光 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2020-11-20 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及电子元器件失效分析技术领域，公开了一种电子元器件瑕疵定位方法及存储介质，包括通过第一成像技术获取电子元器件的第一瑕疵图像；根据第一瑕疵图像在瑕疵点所在区域刻蚀出标志点；通过第一成像技术对瑕疵点所在区域进行成像，获取电子元器件的第二瑕疵图像；根据第二瑕疵图像获取瑕疵点与标志点间的相对位置信息；通过第二成像技术对标志点进行成像，获取标志点的位置信息；根据相对位置信息以及标志点的位置信息确定瑕疵点的位置信息；根据瑕疵点的位置信息，通过第二成像技术对瑕疵点进行刻蚀，获取电子元器件的瑕疵点剖面形貌。本发明可以实现对表面具有明显损伤或表面无损伤形貌的电子元器件内部的瑕疵进行定位，且定位精度高。
电子元器件瑕疵定位方法存储介质

[发明专利]一种条痕状形貌表征参数的测量方法及装置-CN201710772595.6有效
发明人：苏恒;王琨;王猛;陈保友;芈健;陈子琪;刘隆冬;闫伟明;朱喜峰 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2017-08-31 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本申请公开了一种条痕状形貌表征参数的测量方法，用于对深孔蚀刻中条痕状形貌的严重程度进行量化测量，该方法包括：获取电子扫描显微镜输出的孔剖面图像，识别孔剖面图像中孔的中心点坐标；获取经过中心点坐标的n条直径的长度值，n为大于1的整数；计算n条直径的长度值的方差，将方差作为该孔的条痕状形貌表征参数。本申请还公开了一种条痕状形貌表征参数的测量装置。
一种条痕形貌表征参数测量方法装置

[发明专利]光纤形貌的测量系统及测量方法-CN201410081853.2有效
发明人：邵晓鹏;张少辉;杜娟;王琳 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2014-03-06 - 公布日： 2014-05-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种光纤形貌的测量系统和测量方法，主要解决已有测量方法中需要人为判断、准确性低，且需要花费大量时间、无法迅速测量的问题。该测量系统包括载物台(1)、结构支架(3)、位移台(4)、控制器(7)、拍摄系统(10)和图像处理器(11)。测量时，将被测光纤固定在载物台的夹持槽上，通过控制器控制位移台移动，带动拍摄系统对光纤进行多次对焦拍摄，获得光纤图像，传送给图像处理器处理计算，得到光纤的形貌参数，即轴向长度、端面径向直径、中间最细处直径和表面倾斜角度本发明无需人为判断，且通过多次测量求平均值和图像处理器自动处理图像，提高了测量精度和测量速度，可用于筛选合格光纤产品，提高光纤器件的性能。
光纤形貌测量系统测量方法

[发明专利]基于图像处理的彩色共聚焦并行测量三维形貌还原方法-CN202110097600.4有效
发明人：余卿;张雅丽;程方;王寅;尚文键;王翀;董声超;肖泽祯 -专利权人：华侨大学
申请日： 2021-01-25 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于图像处理的彩色共聚焦并行测量三维形貌还原方法，该算法首先针对线扫描并行彩色共聚焦系统得到的多张图像进行目标提取和图像拼接，得到所需要处理的拼接图像信息；其次，通过形态学处理和质心提取算法得到每个被测点的质心连通区域；最后，对拼接图像中每个被测点的质心连通区域进行“H值‑高度”转换，根据H值得到相对应被测点的高度，再结合插值拟合算法实现物体表面三维形貌的重构。本发明的算法利用掩膜进行抠图的方式避免了杂散光和离焦光所导致的图像噪声的影响，可以精确地提取出所需要处理的目标光点区域，提高了处理精度，同时，图像拼接的应用也在一定程度上大大缩短处理耗时，提高处理效率。
基于图像处理彩色聚焦并行测量三维形貌还原方法

[发明专利]一种基于结构光的微纳结构三维形貌高速检测方法-CN201811155972.2有效
发明人：位浩杰;唐燕;谢忠业;刘磊;赵立新;胡松 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2018-09-30 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明是一种基于结构光的微纳结构三维形貌高速检测方法。采用结构光投影装置投射出的正弦光栅条纹与光轴成一定角度θ，然后投影到待测物体表面上，通过CCD相机采集图像。对采集的图像通过傅里叶变换滤波算法计算得到正弦光栅在物体表面的调制度分布,进而可得到每一个像素点在不同水平扫描位置的调制度曲线，最后提取出调制度最大值所在位置即可实现形貌恢复。
一种基于结构三维形貌高速检测方法

[发明专利]一种胶囊内窥镜系统-CN202110756854.2在审
发明人：崔大祥;周诚;史楠清;沈琦;彭家伟;梁辉 -专利权人：上海交通大学;上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司
申请日： 2021-07-05 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： A61B1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种胶囊内窥镜系统，包括胶囊内窥镜，以及与之配合使用的可特异性识别胃肠道疾病的靶向探针，其中，胶囊内窥镜包括白光照明模块、紫外光照明模块、近红外光照明模块、图像获取模块、无线图像传输模块、基于深度学习的图像处理及识别模块、胶囊内窥镜体内位置控制模块等；靶向探针可特异性识别并吸附于特定的病变，在胶囊内窥镜特定光源的照射下，将会发出荧光，从而使得特定病变部位明显区别于正常部位，实现靶向成像，进而将现有的基于表面形貌的检测仪器升级为基于荧光的特异性检测仪器，有效解决了目前内窥镜容易漏检一些未在胃肠道表面造成明显形貌变化的疾病的缺陷，为胃肠道疾病提供了特异性检测和特异性治疗的新系统。
一种胶囊内窥镜系统

[发明专利]一种高温环境下物体变形测量方法-CN201410407412.7有效
发明人：冯雪;屈哲;张长兴 -专利权人：清华大学
申请日： 2014-08-18 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：该方法利用物体在高温环境下的变形测量装置，将被测物体置于高温加载平台上，并在被测物体两侧分别放置反射镜，由CCD相机采集加热前后物体和反射镜反射的背景散斑图像，通过数字图像相关算法分别分析采集到的图像，得到被测物体和反射镜反映的散斑位移场，在被测物体反映的位移场中去除两侧反射镜反映的位移场的插值，即得到去除空气扰动后的变形所反映的位移场，通过计算可得到高温下物体的表面形貌。本发明充分利用了光学装置的灵活性，易于实现，可实现对物体在高温环境下表面形貌变化的实时在线、全场分布测量。
一种高温环境物体变形测量方法

[发明专利]3D接触角测量装置和测量方法-CN201910904967.5有效
发明人：薛龙建;石奎;李利军;李倩;谭迪;张国栋 -专利权人：武汉大学
申请日： 2019-09-24 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G01N13/00 文献下载
摘要：本发明提供一种3D接触角测量装置和测量方法，3D接触角测量装置具体包括：样品台，用于放置待测的固体样品；滴液部，向固体样品的表面滴加待测液体，形成液滴；光学干涉部，用于对位于样品台上的固体样品和液滴进行扫描，并获取扫描后形成的干涉图样信息；角度调节部，用于调节光学干涉部相对于样品台的扫描角度；以及图像处理部，与光学干涉部通信相连，基于干涉图样信息生成3D形貌图像，直观地显示液‑固界面360°接触角情况。本发明所提供的3D接触角测量装置和测量方法操作简单、测量精确，能够得到360°的液滴在固体表面的3D形貌图像，进而展示出各个方向上的接触角情况。
接触角测量装置测量方法

[实用新型]一种胶囊内窥镜系统-CN202121512023.2有效
发明人：崔大祥;周诚;史楠清;沈琦;彭家伟;梁辉 -专利权人：上海交通大学;上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司
申请日： 2021-07-05 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： A61B1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种胶囊内窥镜系统，包括胶囊内窥镜，以及与之配合使用的可特异性识别胃肠道疾病的靶向探针，其中，胶囊内窥镜包括白光照明模块、紫外光照明模块、近红外光照明模块、图像获取模块、无线图像传输模块、基于深度学习的图像处理及识别模块、胶囊内窥镜体内位置控制模块等；靶向探针可特异性识别并吸附于特定的病变，在胶囊内窥镜特定光源的照射下，将会发出荧光，从而使得特定病变部位明显区别于正常部位，实现靶向成像，进而将现有的基于表面形貌的检测仪器升级为基于荧光的特异性检测仪器，有效解决了目前内窥镜容易漏检一些未在胃肠道表面造成明显形貌变化的疾病的缺陷，为胃肠道疾病提供了特异性检测和特异性治疗的新系统。
一种胶囊内窥镜系统

[发明专利]检测晶片表面形貌的方法-CN201010509829.6有效
发明人：王辉;安辉 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2010-10-18 - 公布日： 2012-05-16 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种检测晶片表面形貌的方法，包括：选取包括具有相同的全部相对表面形貌的多个管芯的晶片；选取第一管芯，使检测点阵列的中心位置对准第一管芯的中心位置，通过检测第一管芯的第一绝对表面形貌确定其第一相对表面形貌；选取第二管芯，使检测点阵列的中心位置偏离第二管芯的中心位置，通过检测第二管芯的第二绝对表面形貌确定其第二相对表面形貌；合并第一相对表面形貌和第二相对表面形貌确定管芯的全部相对表面形貌；检测晶片上的其它管芯的部分绝对表面形貌，通过部分绝对表面形貌和全部相对表面形貌，得到所有的管芯的全部绝对表面形貌。
检测晶片表面形貌方法

[发明专利]大尺寸结构表面形貌测量方法-CN202310825400.5在审
发明人：张东升;丁柯;王启宁;褚衍姝 -专利权人：上海大学绍兴研究院;上海大学
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开一种大尺寸结构表面形貌测量方法，包括以下步骤：1)把一台一字线激光器固定在电动旋转台上，再把线激光扫描模块放置在距离大型工件合适的位置处，连接并调节好激光扫描模块，使线激光线的法向位于激光器和相机所组成的平面内，根据三角测量原理布置相机，调整焦距和曝光时间，获取激光线在大型工件上的清晰图像；2)启动线激光扫描模块，控制线激光扫描模块以合适的角速度对大型工件表面进行扫描，同时相机以固定的帧率采集工件表面的扫描图像；3)根据激光线的宽度，把采集的序列图像每隔n帧进行融合，得到含有2π/n相移的条纹图；4)将步骤3中融合得到的条纹图进行相移分析，得到全场的相位图，再根据相位与高度的关系计算大型工件的三维形貌。
尺寸结构表面形貌测量方法